[發明專利]切換緩沖器存儲器設備和處理時間系列數據的方法

在審

• 申請號: 202010065138.5
• 申請日: 2020-01-20
• 公開（公告）號: CN111462806A
• 公開（公告）日: 2020-07-28
• 發明（設計）人: A·凱斯洛夫;S·普瑞沃;V·薩科;M·諾克羅斯
• 申請（專利權）人: 邁來芯科技有限公司
• 主分類號: G11C29/14
• 分類號: G11C29/14;G11C29/10
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司 31100
• 代理人: 黃嵩泉;張鑫

公開了切換緩沖器存儲器設備和處理時間序列數據的方法。該設備包括在第一時間幀內支持第一存儲器功能并且切換以在第二時間幀內支持第二存儲器功能的第一存儲器塊。第二存儲器塊在第一時間幀內支持第二存儲器功能并且切換以在第二時間幀內支持第一存儲器功能。數據輸入端和自測試塊分別可操作地且選擇性地耦合至第一和第二存儲器塊。控制器控制存儲器塊的切換，這些存儲器塊各自關于第二時間幀之后的時間幀在第一與第二存儲器功能之間切換。自測試塊在第一存儲器塊執行第一存儲器功能之后且在切換以執行第二存儲器功能之前測試第一存儲器塊，并且在第二存儲器塊執行第一存儲器功能之后且在切換以執行第二存儲器功能之前測試第二存儲器塊。

本發明涉及切換緩沖器存儲器設備，其類型是例如包括自測試模塊。本發明還涉及處理時間序列數據(例如數字時間序列數據)的方法，該方法的類型是例如包括自測試的存儲器。

在增強型車輛安全系統的領域中，該系統對(例如，源自系統的源已照明的系統附近環境“場景”中的對象反射的信號的)信號串進行采樣，記錄樣本并處理所記錄的樣本，已知采用了所謂的雙緩沖器隨機存取存儲器(RAM)(例如通過促進基本上同時將樣本數據寫入到存儲器和處理存儲器中的樣本數據)以提高處理性能。還已知的是相對于此類雙緩沖RAM，采用所謂的內置自測試(BIST)電路以便檢測RAM中的故障。

此類BIST電路的設計和操作通常應當滿足多個商業和性能標準。例如，BIST電路不應當消耗中央處理器(CPU)的過度的帶寬、數據總線、和/或中斷。就BIST電路使用管芯面積的效率而言，BIST電路理想情況下應具有成本效益，并應將診斷覆蓋率提供至可接受的水平。BIST電路的結果還應當提供一些故障細節，尤其用于驗證目的的故障細節。

用于測試RAM的各種方法是已知的。例如，在運行時期間執行RAM自測試是已知的。然而，此類方法將整個系統帶寬消耗到不希望的水平?？梢栽谙到y啟動時執行自測試，但這會使系統沒有關于RAM所旨在的應用在操作期間的診斷覆蓋。RAM可以存儲奇偶校驗位以測試數據的完整性，但是附加位的存儲需要附加的管芯面積來提供附加的存儲容量，使得這種方法對于某些應用是成本過高的。同樣地，在將冗余的存儲器容量設計到RAM中需要附加的管芯面積，這同樣會使這種方法對于某些應用是成本過高的。

另一種測試技術是所謂的非破壞性RAM診斷測試，其中對RAM進行逐塊測試。然而，這種方法在執行時會消耗過度的系統帶寬。類似地，對RAM存儲的數據進行所謂的合理性檢查在執行時會消耗過度的系統帶寬。

根據本發明的第一方面，提供了一種用于同時執行第一存儲器功能和第二存儲器功能的切換緩沖器存儲器設備，該設備包括：第一存儲器塊，該第一存儲器塊被布置成用于在第一時間幀內支持第一存儲器功能，并用于切換以在第二時間幀內支持第二存儲器功能；第二存儲器塊，該第二存儲器塊被布置成用于在第一時間幀內支持第二存儲器功能，并用于切換以在第二時間幀內支持第一存儲器功能；數據輸入端，該數據輸入端可操作地并且選擇性地耦合至第一存儲器塊和第二存儲器塊；自測試塊，該自測試塊可操作地耦合至第一存儲器塊和第二存儲器塊；以及控制器，該控制器被布置成用于控制第一存儲器塊和第二存儲器塊的切換；其中第一存儲器塊和第二存儲器塊各自被布置成用于關于第二時間幀之后的時間幀在第一存儲器功能與第二存儲器功能之間切換；自測試塊，該自測試塊被布置成用于在第一存儲器塊執行第一存儲器功能之后并且在切換以執行第二存儲器功能之前測試第一存儲器塊，并且該自測試塊被布置成用于在第二存儲器塊執行第一存儲器功能之后并且在切換以執行第二存儲器功能之前測試第二存儲器塊。

第一存儲器功能可以包括處理所存儲的數據并讀出經處理的數據；并且第二存儲器功能可以包括在執行第一存儲器功能之前將新接收的數據寫入到存儲器。

自測試塊可以被布置成用于在數據已經從第一存儲器塊或第二存儲器塊被讀出之后測試第一存儲器塊或第二存儲器塊。

第一存儲器塊可以被布置成用于與第二存儲器塊執行第一存儲器功能和第二存儲器功能中的一個并行地執行第一存儲器功能和第二存儲器功能中的另一個。

自測試塊可以被布置成用于對第一存儲器塊或第二存儲器塊應用固定的測試模式。