[發明專利]X射線的DAP計算方法、裝置、設備、介質和限束器

在審

• 申請號: 202010064924.3
• 申請日: 2020-01-20
• 公開（公告）號: CN111134703A
• 公開（公告）日: 2020-05-12
• 發明（設計）人: 武紫陽
• 申請（專利權）人: 飛瑞醫療器械（嘉興）有限公司
• 主分類號: A61B6/00
• 分類號: A61B6/00;A61B6/06
• 代理公司: 上海光華專利事務所(普通合伙) 31219
• 代理人: 倪靜

1.一種X射線的DAP計算方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取預先測試的管電壓、管電流、曝光時間、及測試點到射線源的距離與劑量、劑量率、及DAP的數學關系式；

依據所述數學關系式，通過獲取工作站中所述管電壓、管電流、曝光時間、及測試點到射線源的距離，計算得到所述劑量、劑量率、及DAP，并反饋至所述工作站。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取預先測試的管電壓、管電流、曝光時間、及測試點到射線源的距離與劑量、劑量率、及DAP的數學關系式，包括：

預先測試管電壓、管電流、曝光時間、及測試點到射線源的距離與劑量的正反關系；

擬合出管電壓、管電流、曝光時間、及測試點到射線源的距離與劑量、劑量率、及DAP的數學關系式；

代入測試數據，確定所述數學關系式中的擬合系數。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法包括：

固定管電壓、管電流、曝光時間、及測試點到射線源的距離中三項參數，使用高精度劑量計標定劑量，以得到所述管電壓、管電流、曝光時間、及測試點到射線源的距離與所述劑量的正反關系，并據以擬合出與所述劑量率、及所述DAP的數學關系式。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述預先測試管電壓、管電流、曝光時間、及測試點到射線源的距離與劑量的正反關系，包括：

1)固定所述管電壓、管電流、曝光時間，使用高精度劑量計分別標定測試點到射線源不同距離的劑量，測試得到所述劑量與測試點到射線源的距離的平方呈反比關系；

2)固定測試點到射線源的距離、管電流、曝光時間，使用高精度劑量計分別標定不同管電壓下的劑量，測試得到所述劑量與管電壓的平方呈正比關系；

3)固定測試點到射線源的距離、管電壓，使用高精度劑量計分別標定不同管電流與曝光時間乘積下的劑量，測試得到所述劑量與電流時間乘積呈正比關系。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述管電壓、管電流、曝光時間、及測試點到射線源的距離與劑量的數學關系式，包括：

其中，dose為劑量；a、b、c為管電壓擬合系數；mAs為管電流與曝光時間的乘積；d為測試點到射線源的距離(cm)，也即SID；d0是出光口到射線源的參考距離。

6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，所述管電壓、管電流、曝光時間、及測試點到射線源的距離與劑量率、及DAP的數學關系，包括：

dose rate＝dose/t；

DAP＝dose(SID)*area；

其中，dose rate為劑量率t是曝光時間(s)；dose(SID)為d＝SID時的劑量；area是出光口面積，即鉛葉開口面積。

7.一種電子裝置，其特征在于，所述裝置包括：

獲取模塊，用于獲取預先測試的管電壓、管電流、曝光時間、及測試點到射線源的距離與劑量、劑量率、及DAP的數學關系式；

處理模塊，用于依據所述數學關系式，通過獲取工作站中所述管電壓、管電流、曝光時間、及測試點到射線源的距離，計算得到所述劑量、劑量率、及DAP，并反饋至所述工作站。

8.一種計算機設備，其特征在于，所述設備包括：存儲器、處理器、及通信器；所述存儲器用于存儲計算機指令；所述處理器運行計算機指令實現如權利要求1至6中任意一項所述的方法；所述通信器用于與外部設備通信連接。

9.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，存儲有計算機指令，所述計算機指令被運行時執行如權利要求1至6中任一項所述的方法。

10.一種限束器，其特征在于，包括：如權利要求8所述的計算機設備。