[發明專利]磁單元、位置檢測裝置和磁部件

在審

• 申請號: 202010064054.X
• 申請日: 2020-01-20
• 公開（公告）號: CN111486776A
• 公開（公告）日: 2020-08-04
• 發明（設計）人: 平野裕幸;岡禎一郎;福岡誠二
• 申請（專利權）人: TDK株式會社
• 主分類號: G01B7/00
• 分類號: G01B7/00;G01D5/12
• 代理公司: 北京尚誠知識產權代理有限公司 11322
• 代理人: 楊琦

1.一種磁單元，具備：

磁部件；以及

保持部件，在軸向上延伸且保持所述磁部件，

所述磁部件包括：

磁體，在所述軸向上延伸，與所述軸向正交的截面的面積在所述軸向上實質上一定，并且在與所述軸向正交的徑向上具有第一最大外徑；以及

第一磁軛，在所述軸向上與所述磁體的第一端部鄰接配置，并且在所述徑向上具有大于所述第一最大外徑的第二最大外徑。

2.根據權利要求1所述的磁單元，其中，

所述磁部件進一步包括第二磁軛，

所述第二磁軛從所述磁體看在所述第一磁軛的相反側與所述磁體的第二端部鄰接配置，并且在所述徑向上具有大于所述第一最大外徑的第三最大外徑。

3.根據權利要求2所述的磁單元，其中，

所述磁體、所述第一磁軛和所述第二磁軛各自具有以所述軸向為高度方向的圓柱狀或圓筒狀的外觀。

4.根據權利要求2或權利要求3所述的磁單元，其中，

所述磁體的所述軸向的第一厚度比所述第一磁軛的所述軸向的第二厚度和所述第二磁軛的所述軸向的第三厚度雙方厚。

5.一種位置檢測裝置，具備：

磁單元；以及

傳感器，檢出伴隨所述磁單元沿著軸向的移動而變化的磁場，

所述磁單元具有：

磁部件；以及

保持部件，在所述軸向上延伸且保持所述磁部件，

所述磁部件包括：

磁體，在所述軸向上延伸，與所述軸向正交的截面的面積在所述軸向上實質上一定，并且在與所述軸向正交的徑向上具有第一最大外徑；以及

第一磁軛，在所述軸向上與所述磁體鄰接配置，并且在所述徑向上具有大于所述第一最大外徑的第二最大外徑。

6.根據權利要求5所述的位置檢測裝置，其中，

所述傳感器檢出所述磁場的方向和所述磁場的強度中的至少一個。

7.根據權利要求5或權利要求6所述的位置檢測裝置，其中，

進一步具備運算部，

所述運算部根據所述傳感器檢出的所述磁場，檢測所述磁單元相對于所述傳感器的位置。

8.一種磁部件，包括：

磁體，在軸向上延伸，與所述軸向正交的截面的面積在所述軸向上實質上一定，并且在與所述軸向正交的徑向上具有第一最大外徑；以及

磁軛，在所述軸向上與所述磁體鄰接配置，并且在所述徑向上具有大于所述第一最大外徑的第二最大外徑。