[發明專利]非易失內存器件剩余壽命預測方法、裝置、設備及介質

有效

• 申請號: 202010062739.0
• 申請日: 2020-01-19
• 公開（公告）號: CN111258789B
• 公開（公告）日: 2022-03-08
• 發明（設計）人: 來煒國
• 申請（專利權）人: 蘇州浪潮智能科技有限公司
• 主分類號: G06F11/00
• 分類號: G06F11/00;G06F11/30;G06F3/06;G11C16/34
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 田媛媛

本申請公開了一種非易失內存器件剩余壽命預測方法、裝置、設備及計算機可讀存儲介質，方法包括：預先根據非易失內存器件中不同的業務模式設定與業務模式對應的剩余壽命預測策略；采集非易失內存器件的運行參數，根據運行參數確定非易失內存器件當前的業務模式；利用與非易失內存器件當前的業務模式對應的剩余壽命預測策略對非易失內存器件進行剩余壽命預測；判斷預測出的剩余壽命是否大于設定值，若是，發出提示。本申請公開的上述技術方案，利用與非易失內存器件當前的業務模式對應的剩余壽命預測策略對非易失內存器件進行剩余壽命預測，并在剩余壽命大于設定值時發出提示，以便于用戶可以及時對非易失內存器件進行更換，從而降低數據的丟失率。

技術領域

本申請涉及存儲器件技術領域，更具體地說，涉及一種非易失內存器件剩余壽命預測方法、裝置、設備及計算機可讀存儲介質。

背景技術

非易失內存器件因具有可靠性高、不易發生數據丟失而被廣泛應用在存儲器件中。其中，Intel的optane DCPMM器件(其是使用DIMM(雙列直插式存儲模塊)內存條物理規模的持久性存儲器件)具有寬度大、讀寫速度快、大容量、長壽命、可字節方位等優點。

目前，在使用非易失內存器件的過程中，當非易失內存器件的使用時間過長時則會出現大量的壞塊，而壞塊的產生會導致數據丟失的可能性急劇增大，從而會降低非易失性內存器件的可靠性。

綜上所述，如何降低非易失內存器件中數據的丟失率，以提高非易失性內存器件的可靠性，是目前本領域技術人員亟待解決的技術問題。

發明內容

有鑒于此，本申請的目的是提供一種非易失內存器件剩余壽命預測方法、裝置、設備及計算機可讀存儲介質，用于降低非易失內存器件中數據的丟失率，以提高非易失性內存器件的可靠性。

為了實現上述目的，本申請提供如下技術方案：

一種非易失內存器件剩余壽命預測方法，包括：

預先根據非易失內存器件中不同的業務模式設定與所述業務模式對應的剩余壽命預測策略；

采集所述非易失內存器件的運行參數，根據所述運行參數確定所述非易失內存器件當前的業務模式；

利用與所述非易失內存器件當前的業務模式對應的剩余壽命預測策略對所述非易失內存器件進行剩余壽命預測；

判斷預測出的剩余壽命是否大于設定值，若是，則發出提示。

優選的，當確定所述非易失內存器件當前的業務模式為固定業務模式時，則利用與所述非易失內存器件當前的業務模式對應的剩余壽命預測策略對所述非易失內存器件進行剩余壽命預測，包括：

獲取所述非易失內存器件在進入所述固定業務模式時的剩余百分比壽命初始值，并獲取所述非易失內存器件在第一時間點處的第一剩余百分比壽命，且每隔第一預設時間間隔獲取一次所述非易失內存器件的第二剩余百分比壽命；

判斷所述第二剩余百分比壽命與所述第一剩余百分比壽命是否相同，若否，則記錄與所述第一剩余百分比壽命不同的所述第二剩余百分比壽命，并記錄與所述第一剩余百分比壽命不同的所述第二剩余百分比壽命對應的第二時間點；

利用所述剩余百分比壽命初始值、所述第一時間點、所述第一剩余百分比壽命、與所述第一剩余百分比壽命不同的所述第二剩余百分比壽命、所述第二時間點計算所述非易失內存器件在所述固定業務模式下的剩余壽命。

優選的，利用所述剩余百分比壽命初始值、所述第一時間點、所述第一剩余百分比壽命、與所述第一剩余百分比壽命不同的所述第二剩余百分比壽命、所述第二時間點計算所述非易失內存器件在所述固定業務模式下的剩余壽命，包括：

利用計算所述非易失內存器件在所述固定業務模式下的剩余壽命