[發明專利]基于概率統計的單粒子多單元翻轉信息提取方法

有效

• 申請號: 202010061603.8
• 申請日: 2020-01-19
• 公開（公告）號: CN111274749B
• 公開（公告）日: 2023-03-21
• 發明（設計）人: 王勛;羅尹虹;丁李利;張鳳祁;陳偉;郭曉強;王坦;趙雯
• 申請（專利權）人: 西北核技術研究院
• 主分類號: G06F30/33
• 分類號: G06F30/33;G06F30/34
• 代理公司: 西安智邦專利商標代理有限公司 61211
• 代理人: 王凱敏

1.基于概率統計的單粒子多單元翻轉信息提取方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟1，獲取待分析的單粒子翻轉數據；

步驟2，計算并統計XOR參數和BHD參數；

2.1】每一個測試周期內，計算任意兩個單粒子翻轉單元邏輯地址之間的二進制按位異或結果XOR；

2.2】每一個測試周期內，計算任意兩個單粒子翻轉單元邏輯地址之間的漢明距離BHD；

2.3】合并所有測試周期內獲得的[XOR,BHD]參數對，根據BHD值進行分組，不同組中的BHD值不同且唯一；

2.4】在步驟2.3】中得到的不同BHD組中，統計每一個XOR值出現的次數，并根據XOR出現次數，對XOR值進行降序排序；

步驟3，提取MCU模板T_MCU：

3.1】在BHD＝1的組內，取前n₁個XOR作為BHD＝1時的MCU子模板，記為T_BHD＝1，T_BHD＝1為包含n1個元素的數組，1≤n1≤3；

3.2】在BHD＝i的組內，取前n_i個XOR作為BHD＝i時的MCU子模板，記為T_BHD＝i，T_BHD＝i為包含n_i個元素的數組；i＝2,3,…，N；1≤ni≤4；

3.3】按照步驟3.1】-3.2】的方法，依次提取MCU子模板：T_BHD＝1、T_BHD＝2……T_BHD＝N，直至相同BHD值下XOR的次數分布沒有明顯的峰值；此時，N為提取到子模板的最大BHD值；則MCU模板為T_MCU＝[T_BHD＝1、T_BHD＝2、……、T_BHD＝N]；

步驟4，利用步驟3得到的MCU模板分別從步驟1獲取的每一個測試周期內的單粒子翻轉數據中提取MCU信息：

4.1】判斷每一個測試周期內任意兩個單粒子翻轉單元是否相鄰，得到同一測試周期內所有2-bit MCU；

4.1.1】計算翻轉單元U_i＝(addr_i,bit_ui)和U_j＝(addr_j,bit_uj)邏輯地址之間的二進制按位異或結果XOR_ij：XOR_ij＝Xor(addr_i,addr_j)

4.1.2】判斷翻轉單元U_i＝(addr_i,bit_ui)和U_j＝(addr_j,bit_uj)是否是2-bit MCU：

如果XOR_ij∈T_MCU且bit_ui＝bit_uj，則翻轉單元U_i＝(addr_i,bit_ui)和U_j＝(addr_j,bit_uj)是2-bit MCU；否則不是；

4.2】對于每一個測試周期，逐步合并其內所有包含共同翻轉單元的MCU，最終得到單粒子翻轉數據中所有相互隔離的MCU。

2.根據權利要求1所述的基于概率統計的單粒子多單元翻轉信息提取方法，其特征在于，所述步驟1】中：單粒子翻轉數據是通過對待測器件開展單粒子翻轉試驗獲取，并按照不同測試周期保存的。

3.根據權利要求2所述的基于概率統計的單粒子多單元翻轉信息提取方法，其特征在于，所述步驟1】中：單粒子翻轉數據可以是利用相同器件，不同輻射粒子下獲得的單粒子翻轉數據。