[發明專利]半導體機臺控制方法、裝置及存儲介質有效
| 申請號: | 202010060113.6 | 申請日: | 2020-01-19 |
| 公開(公告)號: | CN111276429B | 公開(公告)日: | 2021-07-20 |
| 發明(設計)人: | 劉隆冬;李明;周穎 | 申請(專利權)人: | 長江存儲科技有限責任公司 |
| 主分類號: | H01L21/67 | 分類號: | H01L21/67 |
| 代理公司: | 北京派特恩知識產權代理有限公司 11270 | 代理人: | 劉戀;張穎玲 |
| 地址: | 430074 湖北省武*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 半導體 機臺 控制 方法 裝置 存儲 介質 | ||
1.一種半導體機臺控制方法,其特征在于,所述方法包括:
對第一批產品中的第一產品進行半導體相關工藝的處理;
接收到第一指令后,開始處理第二批產品,直到所述第二批產品中的每一個產品均處理完成;其中,接收到第一指令時,如果所述第一產品處理完成,直接開始處理所述第二批產品;如果所述第一產品處理未完成, 將所述第一產品處理完成后,開始處理所述第二批產品;
處理所述第二批產品前,所述方法還包括:
在所述半導體機臺上裝載所述第二批產品;
所述在所述半導體機臺上裝載所述第二批產品,包括:
判斷所述半導體機臺上是否存在未裝載批產品的裝載位;
確定所述半導體機臺上存在未裝載批產品的裝載位時,在所述裝載位上裝載所述第二批產品;
所述方法還包括:
確定所述半導體機臺上不存在未裝載批產品的裝載位時,產生第一告警;所述第一告警表征所述半導體機臺當前不能處理所述第一指令;
所述方法還包括:
接收到第二指令;所述第二指令是在處理所述第二批產品的過程中接收到的;
產生第二告警;所述第二告警表征所述半導體機臺當前不能處理所述第二指令;
所述方法還包括:
在所述第二批產品中的每一個產品均處理完成時,響應于所述第二指令,開始處理第三批產品中的每一個產品,直到所述第三批產品中的每一個產品均處理完成;
繼續處理第一批產品中未處理的產品;
所述方法還包括:
在所述第一產品處理完成時,所述方法還包括:
存儲所述第一產品在所述第一批產品中的位置信息;
根據所述存儲的位置信息,確定所述第一批產品中剩余未處理產品的開始位置;
從所述開始位置處開始繼續處理第一批產品中未處理的產品。
2.一種半導體機臺控制裝置,其特征在于,所述裝置包括:
處理單元,用于對第一批產品中的第一產品進行半導體相關工藝的處理;
指令接收單元,用于接收第一指令;
所述處理單元,還用于所述指令接收單元接收到第一指令后,開始處理第二批產品,直到所述第二批產品中的每一個產品均處理完成;其中,所述處理單元,還用于:接收到第一指令時,如果所述第一產品處理完成,直接開始處理所述第二批產品;如果所述第一產品處理未完成, 將所述第一產品處理完成后,開始處理所述第二批產品;
所述裝置還包括:
裝載單元,用于在所述半導體機臺上裝載所述第二批產品;
所述裝載單元,具體用于判斷所述半導體機臺上是否存在未裝載批產品的裝載位;
確定所述半導體機臺上存在未裝載批產品的裝載位時,在所述裝載位上裝載所述第二批產品;
所述裝置還包括告警單元,用于:
確定所述半導體機臺上不存在未裝載批產品的裝載位時,產生第一告警;所述第一告警表征所述半導體機臺當前不能處理所述第一指令;
所述指令接收單元,還用于接收第二指令;所述第二指令是在處理所述第二批產品的過程中接收到的;
所述裝置還包括:
告警單元,用于產生第二告警;所述第二告警表征所述半導體機臺當前不能處理所述第二指令;
所述處理單元,還用于在所述第二批產品中的每一個產品均處理完成時,響應于所述第二指令,開始處理第三批產品中的每一個產品,直到所述第三批產品中的每一個產品均處理完成;
當處理所述第二批產品的過程中,未接收到所述第二指令,所述處理單元,還用于在所述第二批產品中的每一個產品均處理完成后,繼續處理第一批產品中未處理的產品;
當處理所述第二批產品的過程中,接收到所述第二指令,所述處理單元,還用于在所述第三批產品中的每一個產品均處理完成后,繼續處理第一批產品中未處理的產品;
所述裝置還包括記錄單元,用于:
在所述第一產品處理完成時,存儲所述第一產品在所述第一批產品中的位置信息;
所述處理單元還用于:
根據所述存儲的位置信息,確定所述第一批產品中剩余未處理產品的開始位置;
從所述開始位置處開始繼續處理第一批產品中未處理的產品。
3.一種半導體機臺控制裝置,其特征在于,包括:處理器和配置為存儲能夠在處理器上運行的計算機程序的存儲器;
其中,所述處理器用于運行所述計算機程序時,執行權利要求1所述方法的步驟。
4.一種存儲介質,其上存儲有計算機程序,其特征在于所述計算機程序被處理器執行時實現權利要求1所述方法的步驟。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





