[發明專利]一種基于地層模擬的電阻率校正方法

有效

• 申請號: 202010059532.8
• 申請日: 2020-01-19
• 公開（公告）號: CN111255446B
• 公開（公告）日: 2022-09-20
• 發明（設計）人: 向葵;童小龍;嚴良俊
• 申請（專利權）人: 長江大學
• 主分類號: E21B49/00
• 分類號: E21B49/00
• 代理公司: 北京金智普華知識產權代理有限公司 11401
• 代理人: 楊采良

1.一種基于地層模擬的電阻率校正方法，其特征在于：通過實驗室測試建立不同巖性電阻率隨包括溫度、壓力、孔隙度在內的因素變化的理論模型，將測區巖石電性的測井資料、實驗室測量資料校正至相應的地層條件，建立有效的地電初始模型；

包括以下步驟：

步驟一，測區調研；獲取測區信息，建立物性參數深度模型；

步驟二，前處理；篩選測區不同巖性數塊均質性好、孔隙度有差異的巖樣，洗油洗鹽干燥，測量基本物性，飽和確定礦化度的流體；

步驟三，電性測量；針對測區溫壓的深度模型進行巖石深度模擬，測量得到巖石的復電阻率振幅與相位，通過參數估計獲取巖石不同深度條件下的復電阻率參數；

步驟四，模型匹配；針對不同地層條件下孔隙度有差異的不同巖性巖石，建立包括孔隙度、飽和度、溫度、壓力參數在內的電阻率模型，確定模型參數；

步驟五，參數校正；針對測區資料的測試環境，將電阻率數據校正至真實地下溫度壓力環境，用于初始地電模型的建立。

2.根據權利要求1所述的一種基于地層模擬的電阻率校正方法，其特征在于：步驟一中，測區信息包括電性測井資料、流體礦化度、不同巖性巖樣；物性參數包括流體礦化度、飽和度、地層溫度、地層壓力。

3.根據權利要求2所述的一種基于地層模擬的電阻率校正方法，其特征在于：根據測區地質報告，獲得地層溫度與等效壓力關于深度的模型如下：

T＝14+0.03(D-20)

P＝1.048×10^-2D；

其中，T表示地層溫度，單位為℃；P表示等效壓力，單位為MPa；D表示深度，單位為m。

4.根據權利要求1所述的一種基于地層模擬的電阻率校正方法，其特征在于：步驟二中，對測區不同巖性的井樣巖石進行篩選，獲取均質性較好、孔隙度有差異的巖樣各5塊，共15塊巖石樣品；對樣品進行洗油洗鹽，烘干，測量包括孔隙度在內的相應幾何參數；選擇4％NaCl溶液飽和，滿足地層礦化度條件。

5.根據權利要求1所述的一種基于地層模擬的電阻率校正方法，其特征在于：步驟三中，通過Autolab1000高溫高壓巖石測試系統對巖石樣品進行模擬地層的復電阻率測量，測試模擬1000m-3000m，用于研究溫壓變化趨勢；根據測量數據，進行復電阻率模型參數估計，獲得巖石不同溫度條件下的復電阻率參數。

6.根據權利要求1所述的一種基于地層模擬的電阻率校正方法，其特征在于：步驟四中，通過基于復電阻率實驗獲得的巖石低頻電阻率參數，分不同巖性建立相應的Archie關系。

7.根據權利要求1-6中任一項所述的一種基于地層模擬的電阻率校正方法，其特征在于：根據先驗地電模型的巖性、測試環境進行勘探用地電模型校正；將校正后的地電模型用于反演，可以降低反演的非唯一性，用于提高油氣識別能力。