[發(fā)明專利]基于同相軸分頻追蹤平滑的淺剖數(shù)據(jù)機(jī)械干擾壓制方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010058198.4
• 申請(qǐng)日: 2020-01-19
• 公開（公告）號(hào): CN111239814B
• 公開（公告）日: 2021-05-14
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 趙波;譚軍;宋鵬;李金山;夏冬明;姜秀萍;解闖;王紹文;毛士博
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中國海洋大學(xué)
• 主分類號(hào): G01V1/30
• 分類號(hào): G01V1/30;G01V1/36
• 代理公司: 北京科家知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11427
• 代理人: 梁正賢

1.基于同相軸分頻追蹤平滑的淺剖數(shù)據(jù)機(jī)械干擾壓制方法，其特征在于所述方法的具體步驟如下：

1)為了獲得分頻的高信噪比淺剖剖面，設(shè)計(jì)N組頻帶由窄到寬的帶通濾波參數(shù)

式中，f_low(n)與f_high(n)分別為分頻濾波的低截止頻率與高截止頻率；F_low為起始的低截止頻率，F(xiàn)_high為起始的高截止頻率，要求F_lowF_high；Δf為頻帶間隔；n為分頻序號(hào)，且1≤n≤N，隨著n的增大頻帶逐漸變寬；

根據(jù)f_low(n)與f_high(n)確定帶通濾波窗，對(duì)輸入的原始剖面s(x_i,t)進(jìn)行帶通濾波，其中i為道號(hào)，x_i為第i道記錄的坐標(biāo)，t為旅行時(shí)，得到濾波后的剖面s_n(x_i,t)，具體過程可表示為：

公式(2)中的f表示頻率；上式是對(duì)原始剖面s(x_i,t)做傅里葉變換，公式(2)中的下式是根據(jù)給定的頻帶范圍[f_low(n),f_high(n)]進(jìn)行反傅里葉變換，即在反傅里葉變換過程中實(shí)現(xiàn)了基于帶通濾波的分頻處理；

2)對(duì)于每一個(gè)分頻剖面s_n(x_i,t)中具有一定延續(xù)長度的強(qiáng)反射同相軸，通過追蹤其最大振幅值來確定該同相軸的旅行時(shí)，從而獲得一條隨坐標(biāo)x_i變化的旅行時(shí)t_n(x_i)曲線，即

t_n(x_i)＝max[s_n(x_i,t)] (3)

3)不存在機(jī)械干擾的強(qiáng)反射同相軸及其旅行時(shí)曲線是平緩變化的，因此通過樣條函數(shù)對(duì)旅行時(shí)t_n(x_i)曲線進(jìn)行平滑，采用三次樣條插值公式進(jìn)行處理

其中，x表示插值道的坐標(biāo)，x_i為第i道記錄的坐標(biāo)，x_i+1為第i+1道記錄的坐標(biāo)；t為旅行時(shí)，t_n(x_i)是樣點(diǎn)x＝x_i的旅行時(shí)，t_n(x_i+1)是樣點(diǎn)x＝x_i+1的旅行時(shí)；m_n(x_i)是t_n(x_i)在樣點(diǎn)x＝x_i時(shí)的導(dǎo)數(shù)，m_n(x_i+1)是t_n(x_i+1)在樣點(diǎn)x＝x_i+1時(shí)的導(dǎo)數(shù)；

4)計(jì)算出各分頻剖面其旅行時(shí)曲線的時(shí)間校正量后，所述的時(shí)間校正量為平滑前、后的旅行時(shí)差，并通過取平均來消除旅行時(shí)曲線追蹤過程中的隨機(jī)誤差，總的計(jì)算公式為

其中Δt(x_i)為時(shí)間校正量，t_n(x_i)是隨坐標(biāo)x_i變化的旅行時(shí)，t_n′(x_i)是平滑后的旅行時(shí)；

5)基于剖面中各地震道的時(shí)間校正量Δt(x_i)進(jìn)行旅行時(shí)校正，以消除淺剖數(shù)據(jù)中因機(jī)械干擾導(dǎo)致的同相軸錯(cuò)動(dòng)現(xiàn)象。