[發(fā)明專利]一種調(diào)節(jié)JFET夾斷電壓的結(jié)構(gòu)及制作方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010057745.7 | 申請(qǐng)日: | 2020-01-19 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111244156B | 公開(公告)日: | 2023-08-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 房子荃;段文婷 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海華虹宏力半導(dǎo)體制造有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L29/06 | 分類號(hào): | H01L29/06;H01L29/735;H01L21/331 |
| 代理公司: | 上海浦一知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31211 | 代理人: | 戴廣志 |
| 地址: | 201203 上海市浦東*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 調(diào)節(jié) jfet 斷電 結(jié)構(gòu) 制作方法 | ||
1.一種調(diào)節(jié)JFET夾斷電壓的結(jié)構(gòu),其特征在于,該結(jié)構(gòu)至少包括:
P型襯底,位于所述P型襯底上的N型深阱;位于所述N型深阱中的P型注入?yún)^(qū),該P(yáng)型注入?yún)^(qū)將所述N型深阱隔離為位于所述P型注入?yún)^(qū)下方的第一N型深阱和位于所述P型注入?yún)^(qū)上方的第二N型深阱;位于所述第二N型深阱上的第一、第二場氧區(qū),該兩個(gè)場氧區(qū)之間設(shè)有P型重?fù)诫s區(qū),所述P型重?fù)诫s區(qū)下方設(shè)有N阱;利用P型重?fù)诫s區(qū)和P型注入?yún)^(qū)夾斷上部分N阱和N型深阱。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的調(diào)節(jié)JFET夾斷電壓的結(jié)構(gòu),其特征在于:該結(jié)構(gòu)還包括:位于所述第一場氧區(qū)左側(cè)的第三場氧區(qū)和位于所述第二場氧區(qū)右側(cè)的第四場氧區(qū);所述第三、第一場氧區(qū)之間設(shè)有N型重?fù)诫s區(qū);所述第二、第四場氧區(qū)之間設(shè)有N型重?fù)诫s區(qū)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的調(diào)節(jié)JFET夾斷電壓的結(jié)構(gòu),其特征在于:所述第三場氧區(qū)左側(cè)的所述P型襯底上以及所述第四場氧區(qū)右側(cè)的P型襯底上分別設(shè)有將所述P型注入?yún)^(qū)引出的P阱。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的調(diào)節(jié)JFET夾斷電壓的結(jié)構(gòu),其特征在于:所述第三、第一場氧區(qū)之間的N型重?fù)诫s區(qū)、所述第二、第四場氧區(qū)之間的N型重?fù)诫s區(qū)以及所述第一、第二場氧區(qū)之間的P型重?fù)诫s區(qū)上均設(shè)有接觸孔。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的調(diào)節(jié)JFET夾斷電壓的結(jié)構(gòu),其特征在于:所述接觸孔上設(shè)有與所述接觸孔連接的金屬線。
6.根據(jù)權(quán)利要求1至5任意一項(xiàng)所述的調(diào)節(jié)JFET夾斷電壓的結(jié)構(gòu)的制作方法,其特征在于:該方法至少包括以下步驟:
步驟一、提供一P型襯底,在所述P型襯底上形成N型深阱;
步驟二、在所述N型深阱上形成第一、第二場氧區(qū);
步驟三、在所述第三場氧區(qū)左側(cè)的所述P型襯底上、所述第四場氧區(qū)右側(cè)的P型襯底上形成P阱;在所述第一、第二場氧區(qū)之間的所述N型深阱上形成N阱;
步驟四、在所述第一至第四場氧區(qū)下方的所述N型深阱中形成P型注入?yún)^(qū),該P(yáng)型注入?yún)^(qū)將所述N型深阱隔離為位于所述P型注入?yún)^(qū)下方的第一N型深阱和位于所述P型注入?yún)^(qū)上方的第二N型深阱;
步驟五、在所述第一、第三場氧區(qū)之間的所述第二N型深阱中以及所述第二、第四場氧區(qū)之間的所述第二N型深阱中分別形成N型重?fù)诫s區(qū);在所述第一、第二場氧區(qū)之間的所述第二N型深阱中形成P型重?fù)诫s區(qū);利用P型重?fù)诫s區(qū)和P型注入?yún)^(qū)夾斷上部分N阱和N型深阱。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的調(diào)節(jié)JFET夾斷電壓的結(jié)構(gòu)的制作方法,其特征在于:步驟一中在所述P型襯底上通過N型離子注入形成所述N型深阱。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的調(diào)節(jié)JFET夾斷電壓的結(jié)構(gòu)的制作方法,其特征在于:步驟二中在所述N型深阱上形成第一、第二場氧區(qū)的同時(shí),在所述第一場氧區(qū)左側(cè)的所述N型深阱上形成第三場氧區(qū),在所述第二場氧區(qū)右側(cè)的所述N型深阱上形成第四場氧區(qū)。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的調(diào)節(jié)JFET夾斷電壓的結(jié)構(gòu)的制作方法,其特征在于:步驟二中形成所述第一至第四場氧區(qū)的方法為:先利用光刻打開用于制作所述第一至第四場氧區(qū)的區(qū)域,再刻蝕該區(qū)域形成所述第一至第四場氧區(qū)。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的調(diào)節(jié)JFET夾斷電壓的結(jié)構(gòu)的制作方法,其特征在于:步驟三中形成所述P阱和所述N阱的方法為:利用光刻在所述第三場氧區(qū)左側(cè)的所述P型襯底上、所述第四場氧區(qū)右側(cè)的P型襯底上以及所述第一、第二場氧區(qū)之間的所述N型深阱上分別打開注入?yún)^(qū)域;在所述第三場氧區(qū)左側(cè)的所述注入?yún)^(qū)域以及第四場氧區(qū)右側(cè)的所述注入?yún)^(qū)域分別注入P型雜質(zhì)離子形成所述P阱;在所述第一、第二場氧區(qū)之間的所述注入?yún)^(qū)域中注入N型雜質(zhì)離子形成所述N阱。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的調(diào)節(jié)JFET夾斷電壓的結(jié)構(gòu)的制作方法,其特征在于:該方法還包括步驟六、淀積層間介質(zhì)層,并從所述N型重?fù)诫s區(qū)和所述P型重?fù)诫s區(qū)引出接觸孔。
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H01L29-00 專門適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體器件;具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導(dǎo)體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過對(duì)一個(gè)不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進(jìn)行控制的
H01L29-82 ..通過施加于器件的磁場變化可控的
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