[發明專利]一種液晶模組老化測試設備

在審

• 申請號: 202010057614.9
• 申請日: 2020-01-19
• 公開（公告）號: CN111063283A
• 公開（公告）日: 2020-04-24
• 發明（設計）人: 倪傳周;沐林;嚴吉新;殷建東
• 申請（專利權）人: 蘇州華興源創科技股份有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00;G09G3/36;G01R31/00;G01R1/04
• 代理公司: 北京正理專利代理有限公司 11257
• 代理人: 李遠思

本發明公開一種液晶模組老化測試設備，包括老化腔室，所述老化腔室內至少包括有一條IP通道；至少一臺液晶模組老化測試裝置；位于所述老化腔室內的且與所述液晶模組老化測試裝置對應設置的IP存儲芯片，所述IP存儲芯片與所述IP通道之間實現信號通信；所述IP存儲芯片被配置為為所述液晶模組老化測試裝置提供獨立的IP地址。本發明提供的液晶模組老化測試設備，可實現多臺液晶模組老化測試裝置級聯，進行集中控制實時監控，方便使用者對設備進行控制更新和監控，節省更新時間，確保液晶模組老化測試裝置實際位置與軟件中顯示位置保持匹配。

技術領域

本發明涉及液晶顯示領域，特別地，涉及一種液晶模組老化測試設備。

背景技術

目前的TFT-LCD(thin film transistor-liquid crystal display，薄膜晶體管液晶顯示器)模組老化盒控制系統采用USB通訊傳輸設定的驅動信號去點亮TFT-LCD液晶模組，通過上位機編輯參數，并把相關參數通過USB下載更新到TFT-LCD液晶模組老化盒，其中包括單片機的控制程序和模組需要的各參數：模組時鐘頻率、水平時鐘、垂直時鐘、時序要求、電壓電流設定值、切換畫面時間、自動On/Off模式、老化自動循環模式(其中包括三階段單畫面固定時間、多畫面固定時間循環、固定畫面On/Off)等、以及FPGA可編程邏輯器件的程序，讓FPGA按程序要求輸出模組需要的RGB信號畫面，來點亮驅動模組。電源采用+12V和±24V輸入，通過升壓等回路輸出五路可軟件設定的電壓：VSHD(3～10V)、VSHA(3～10V)、VGH(1～15V)、VGL(-1～-15V)、VLED(1～42V)。通過上位機軟件設定模組需要的電壓參數，并下載在到液晶模組老化盒控制系統中，在開啟設備時，對應的端口電壓按設定幅值進行輸出供給模組。TFT-LCD液晶模組老化盒控制系統可通過USB端口進行實時信號傳輸控制，也可以通過設備外接的按鍵旋鈕等進行設備的開啟和關閉、畫面切換、模式切換等。通過分配基板、XF2M歐姆龍接插件、FFC和ROM基板將信號對接到不同需求的模組接口上(包括數字信號接口、模擬類型接口、LVDS信號接口、RSDS信號接口、Mini-LVDS接口等)。

由于上位機通過USB端口和TFT-LCD液晶檢測設備連接的臺數有限，一般多于3臺以上就可能產生端口沖突無法識別，而且上位機的USB端口+5V供電驅動能力也是有限的，在多臺設備一起連接驅動時，電壓會衰減導致無法驅動連接。因為這一點目前的TFT-LCD液晶老化信號盒驅動控制系統就無法實現多臺連接到同一臺PC上位機同時控制，在更新程序就只能單臺更新，需要大量時間和人力物力(設備PC上位機)，給客戶在使用設備帶來諸多不便，并增加了客戶的勞動量和成本。

目前的TFT-LCD液晶模組老化盒控制系統沒有存儲Flash，無法存儲BMP畫面這種大數據，只能輸出FPGA生存的內置畫面，客戶在需要測試時顯示復雜畫面或圖片照片時，目前的液晶模組老化盒控制系統就無法滿足客戶的需求，給客戶的使用造成了不便。設計工程人員為滿足TFT-LCD客戶的部分復雜畫面，需要花費很多精力想辦法通過FPGA編程內部實現，也會占用大量的FPGA內部資源，有時候甚至是不可能的。目前的TFT-LCD液晶設備就無法實現客戶需求。

目前的TFT-LCD液晶模組老化盒控制系統因FPGA端口較少，只能驅動Single接口模組，無法驅動Dual接口模組。在TFT-LCD市場模組分辨率越來越趨向高分辨率時，之前的TFT-LCD液晶模組老化盒控制系統就顯的捉襟見肘，無法驅動對應的局面。

目前的TFT-LCD液晶模組老化盒控制系統無法對輸出端口的電壓電流進行監控，在壓接錯位、器件不良損壞等導致大電流或設備本身的大電壓輸出時，可能導致TFT-LCD液晶模組損壞，或設備長時間輸出大電流導致設備發熱，存有產生明火等安全隱患。

目前的TFT-LCD液晶模組老化盒設備如果出現損壞，需要重新更換或者維修時，容易出現老化盒設備的實際位置與軟件上顯示的IP位置不匹配的情況，不便于使用者對TFT-LCD液晶模組老化盒設備的使用情況進行實時的監控。