[發明專利]一種硬盤檢測的方法、裝置和電子設備

有效

• 申請號: 202010055592.2
• 申請日: 2020-01-17
• 公開（公告）號: CN111274070B
• 公開（公告）日: 2021-10-15
• 發明（設計）人: 侯寶臣
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 北京三高永信知識產權代理有限責任公司 11138
• 代理人: 顏晶

本申請實施例公開了一種硬盤檢測的方法、裝置和電子設備，屬于計算機技術領域。所述方法包括：對第一硬盤的第一存儲區進行檢測，得到第一檢測結果，其中，第一硬盤的第一存儲區是由第一硬盤中對應的存儲地址在起始存儲地址到第一存儲地址之間的扇區組成的，第一存儲地址與終止存儲地址之間包括有多個存儲地址。根據第一檢測結果，確定第一硬盤的檢測結果。采用本申請，可以提高硬盤檢測效率。

本申請要求于2019年11月04日提交的申請號為201911065668.3、發明名稱為“一種硬盤檢測方法及裝置”的中國專利申請的優先權，其全部內容通過引用結合在本申請中。

技術領域

本申請涉及計算機技術領域，特別涉及一種硬盤檢測的方法、裝置和電子設備。

背景技術

機械硬盤由于成本較小且數據容量較大，在各類計算機設備中被廣泛使用。為了保證機械硬盤可正常使用，通常在使用之前會對其進行檢測。

目前，較為常見的檢測的方法為長測試(long drive self test，Long DST)。即通過尋道測試、讀寫磁頭檢測、讀寫校驗測試等常見測試項，對機械硬盤由最外側的磁道向最內側的磁道進行檢測，檢測需覆蓋全盤所有扇區。

在實現本申請的過程中，發明人發現現有技術至少存在以下問題：

在Long DST中需要對機械硬盤的全盤所有扇區進行掃描檢測，對于一些數據容量較大的機械硬盤，檢測耗時較長，例如，對于6T容量的機械硬盤，一次Long DST需要近11個小時。可見，上述機械硬盤的檢測方法，檢測效率較低。

發明內容

為了解決相關技術中機械硬盤的檢測效率低的問題，本申請實施例提供了一種硬盤檢測的方法、裝置和電子設備。所述技術方案如下：

第一方面，本申請提供了一種硬盤檢測的方法，該方法包括：對第一硬盤的第一存儲區進行檢測，得到第一檢測結果，其中，所述第一硬盤的第一存儲區是由所述第一硬盤中對應的存儲地址在起始存儲地址到第一存儲地址之間的扇區組成的，所述第一存儲地址與終止存儲地址之間包括有多個存儲地址；根據所述第一檢測結果，確定所述第一硬盤的檢測結果。

在本申請實施例所示的方案中，第一硬盤可以為機械硬盤。存儲區可以由對應的存儲地址在一定范圍內的扇區組成。硬盤中的每個扇區對應一個存儲地址。存儲地址可以為邏輯區塊地址(logical block address，LBA)。起始存儲地址指硬盤中柱面編號、磁頭編號、扇區編號均為最小的扇區的對應的存儲地址。對應于LBA的編址方式，起始存儲地址為0，可以稱為LBAmin，在硬盤中，起始存儲地址對應的扇區處于盤片的最外側，且越靠近盤片內側的扇區其對應的存儲地址的數值也就越大。

由于硬盤運行時，盤片會進行旋轉，根據離心力公式可以分析得出，盤片中越外側的扇區收到的離心力越大，那么，其出現故障的可能性也就越高。那么，在對硬盤進行檢測時，可以只檢測外側的第一存儲區。并將第一存儲區的檢測結果，作為硬盤的檢測結果即可。這樣無需對硬盤全盤進行檢測，提高了硬盤檢測效率。

在一種可能的實現方式中，該方法還包括：對所述第一硬盤的第二存儲區進行檢測，得到第二檢測結果，其中，所述第一硬盤的第二存儲區是由所述第一硬盤中對應的存儲地址在第二存儲地址到終止存儲地址之間的扇區組成的，所述第一硬盤的第一存儲區與所述第一硬盤的第二存儲區無相同扇區；所述根據所述第一檢測結果，確定所述第一硬盤的檢測結果，包括：根據所述第一檢測結果和所述第二檢測結果，確定所述第一硬盤的檢測結果。