[發明專利]一種面向破碎邊緣目標的兩階段邊緣檢測方法及裝置有效
| 申請號: | 202010055591.8 | 申請日: | 2020-01-17 |
| 公開(公告)號: | CN111223116B | 公開(公告)日: | 2022-12-06 |
| 發明(設計)人: | 汪昌健;郭凌超;李方召 | 申請(專利權)人: | 中國人民解放軍國防科學技術大學 |
| 主分類號: | G06T7/13 | 分類號: | G06T7/13;G06T7/181;G06T7/11;G06T5/00 |
| 代理公司: | 中國航天科技專利中心 11009 | 代理人: | 楊春穎 |
| 地址: | 410073 湖南省長*** | 國省代碼: | 湖南;43 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 面向 破碎 邊緣 目標 階段 檢測 方法 裝置 | ||
1.一種面向破碎邊緣目標的兩階段邊緣檢測方法,其特征在于,該方法包括兩個階段:輪廓勾勒階段和精細化調整階段;其中,
輪廓勾勒階段:
S101,對圖像進行二值化,利用圖像中各區域灰度值的差異將目標區域縮小到目標邊緣附近,形成二值化圖;
S102,對二值化圖進行平滑濾波處理;
S103,利用拉普拉斯算子對平滑濾波后圖像進行處理,選擇外側的邊界線作為目標的候選輪廓,得到候選輪廓圖;
S104,判定目標邊緣碎塊是否被包含在候選輪廓中;若未包含在候選輪廓中,則調整S102中平滑濾波參數,至S103中目標邊緣碎塊能夠被包含在候選輪廓中;
精細化調整階段:
S201,基于過零檢測算法對輸入圖像中目標區域進行過零檢測,輸出目標主體的過零邊界,得到目標主體的邊緣;
S202,確定目標候選輪廓線與目標主體的過零邊界之間的像素距離;
S203,根據像素距離,對候選輪廓線進行調整,使調整后的候選輪廓線與目標主體的過零邊界存在重合,得到邊緣檢測結果。
2.根據權利要求1所述的邊緣檢測方法,其特征在于,S101中,
若圖像為CT圖像該特殊圖像形式,還可以根據CT值差異對圖像進行二值化處理;
若圖像為RGB彩色圖像,則將RGB彩色圖像轉換為灰度圖像后進行圖像二值化;
目標區域內的灰度值一致且選自1~255,目標區域外背景區域的灰度值設置為0。
3.根據權利要求1所述的邊緣檢測方法,其特征在于,S102中,使用高斯函數對二值化圖進行平滑濾波。
4.根據權利要求3所述的邊緣檢測方法,其特征在于,S104中,限定未包含入候選輪廓范圍的閾值ε,作為平滑濾波參數調整的終止條件;
高斯卷積核為平滑濾波參數時,如果未包含入候選輪廓范圍的占比大于閾值ε,則將當前高斯卷積核的標準偏差以設定步長增加,重新選擇高斯卷積核后,重新返回S102實施平滑濾波。
5.根據權利要求1所述的邊緣檢測方法,其特征在于,S201中,使用高斯拉普拉斯算子檢測輸入圖像中目標的過零邊界檢測。
6.根據權利要求5所述的邊緣檢測方法,其特征在于,S201中,若輸入圖像為RGB彩色圖像,將該圖像轉換為灰度圖后進行目標的過零邊界檢測;
若圖像為CT圖像,直接采用S101中二值化圖進行目標的過零邊界檢測。
7.根據權利要求1所述的邊緣檢測方法,其特征在于,S103中,候選輪廓內區域的灰度值一致且選自1~255,候選輪廓外區域的灰度值設置為0;
S201中,目標主體過零邊界內區域的灰度值與候選輪廓內區域的灰度值一致,目標主體過零邊界外區域的灰度值與候選輪廓外區域的灰度值一致。
8.根據權利要求7所述的邊緣檢測方法,其特征在于,通過獲取S103和S201中候選輪廓和過零邊界上對應邊緣點之間的距離得到,具體地,
判斷目標輪廓和過零邊界的最上端點、最下端點、最左端點、或最右端點是否位于外弧形輪廓中,選擇上述任意一個或多個位于外弧形輪廓的端點作為對應邊緣點,確定目標候選輪廓線與過零邊界之間的像素距離。
9.根據權利要求1所述的邊緣檢測方法,其特征在于,S203中,采用腐蝕算法對候選輪廓線進行調整。
10.根據權利要求1至9之一所述的邊緣檢測方法,其特征在于,該方法中實施目標候選輪廓線收縮還可以采用下述方式進行:
S201’,基于過零檢測算法對輸入圖像中目標區域進行過零檢測,輸出目標主體的過零邊界,得到目標主體的邊緣;
S202’,將過零邊界內的填充區域與候選輪廓線內的填充區域相減,若剩余的過零邊界內區域在原過零邊界內區域的占比小于閾值τ,則將候選輪廓線收縮1個像素寬度,重復前述操作,直至占比大于等于閾值τ時停止收縮,輸出調整后候選輪廓填充圖。
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