[發明專利]用于光學衛星指向測量系統的空間基準標定方法及裝置

有效

• 申請號: 202010055581.4
• 申請日: 2020-01-17
• 公開（公告）號: CN111174811B
• 公開（公告）日: 2021-01-15
• 發明（設計）人: 呂金虎;范城城;張明;武春風;朱國梁;劉克新
• 申請（專利權）人: 北京航空航天大學;北斗導航位置服務（北京）有限公司;航天科工微電子系統研究院有限公司
• 主分類號: G01C25/00
• 分類號: G01C25/00
• 代理公司: 北京路浩知識產權代理有限公司 11002
• 代理人: 馬瑞

1.一種用于光學衛星指向測量系統的空間基準標定方法，其特征在于，包括：

通過光學衛星中相對指向測量子系統的相對輸出量，對光學衛星中絕對指向測量子系統的絕對輸出量進行重采樣，得到采樣頻率歸一化指向參數，所述相對指向測量子系統是通過多組三軸角速度測量組件構建的，所述絕對指向測量子系統是通過多臺星敏感器組成的，所述相對輸出量和所述絕對輸出量分別表示預設采樣間隔內的角增量和絕對指向參數；

根據所述采樣頻率歸一化指向參數，獲取所述絕對指向測量子系統的內部空間基準轉換時序參數；

根據所述絕對指向測量子系統的任一空間基準絕對指向參數序列和所述相對指向測量子系統的相對輸出量，獲取所述絕對指向測量子系統和所述相對指向測量子系統之間的空間基準轉換時序參數；

根據所述絕對指向測量子系統的內部空間基準轉換時序參數，以及所述絕對指向測量子系統和所述相對指向測量子系統之間的空間基準轉換時序參數，構建時空基準轉換模型，以根據所述時空基準轉換模型對指向測量系統進行空間基準標定；所述通過光學衛星中相對指向測量子系統的相對輸出量，對光學衛星中絕對指向測量子系統的絕對輸出量進行重采樣，得到采樣頻率歸一化指向參數，包括：

基于球面線性插值法，將光學衛星中相對指向測量子系統的相對輸出量作為時間基準，對光學衛星中絕對指向測量子系統的絕對輸出量進行重采樣，得到采樣頻率歸一化指向參數。

2.根據權利要求1所述的用于光學衛星指向測量系統的空間基準標定方法，其特征在于，所述球面線性插值法的公式為：

θ＝cos^-1q₁,q₂＝cos^-1(q₁₀·q₂₀+q₁₁·q₂₁+q₁₂·q₂₂+q₁₃·q₂₃)；

其中，q₁和q₂分別表示在t時刻兩端的四元數參數，以根據q₁和q₂對t時刻的姿態參數進行插值；θ表示q₁和q₂之間的夾角，C₁(t)與C₂(t)分別表示插值函數q(t)在q₁和q₂方向上的分量，t'θ表示q(t)與q₁構成的夾角大小，(1-t')θ表示q(t)與q₂構成的夾角大小，其中，t'∈[0,1]。

3.根據權利要求1所述的用于光學衛星指向測量系統的空間基準標定方法，其特征在于，所述根據所述采樣頻率歸一化指向參數，獲取所述絕對指向測量子系統的內部空間基準轉換時序參數，包括：

根據所述絕對指向測量子系統中星敏感器的預設組合類型，獲取所述絕對指向測量子系統的空間基準類型；

根據所述絕對指向測量子系統的空間基準類型，獲取每種空間基準類型的指向參數序列；

根據每種空間基準類型的指向參數序列，獲取每種空間基準類型之間的轉換時序參數，以用于得到所述絕對指向測量子系統的內部空間基準轉換時序參數。