[發(fā)明專利]光學(xué)玻璃的環(huán)境適應(yīng)性檢測(cè)用試驗(yàn)儀及方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010054503.2 | 申請(qǐng)日: | 2020-01-17 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111208028A | 公開(公告)日: | 2020-05-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 黃雪梅;王竑 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 成都光明光電股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N3/56 | 分類號(hào): | G01N3/56;G01N17/00;G01N19/00;G01N5/04;G01M11/00 |
| 代理公司: | 成都虹橋?qū)@聞?wù)所(普通合伙) 51124 | 代理人: | 敬川 |
| 地址: | 610100 四川省*** | 國(guó)省代碼: | 四川;51 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 光學(xué)玻璃 環(huán)境 適應(yīng)性 檢測(cè) 試驗(yàn) 方法 | ||
本發(fā)明屬于玻璃測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域,具體公開了一種能夠較為真實(shí)地模擬出光學(xué)玻璃處于搽洗使用場(chǎng)景的試驗(yàn)儀及方法。光學(xué)玻璃的環(huán)境適應(yīng)性檢測(cè)用試驗(yàn)儀,包括箱體、設(shè)置在箱體上的伸縮裝置、可滑動(dòng)地設(shè)置在箱體上并與伸縮裝置的伸縮端相連的樣品盤、以及設(shè)置在箱體上的搽洗機(jī)構(gòu)。該試驗(yàn)儀通過伸縮裝置能夠驅(qū)使樣品盤往復(fù)運(yùn)動(dòng),進(jìn)而安裝于樣品盤中的光學(xué)玻璃樣品可隨樣品盤在箱體上做往復(fù)運(yùn)動(dòng),從而可被浸潤(rùn)了磨料懸浮液的搽洗件來回搽洗,以較為真實(shí)地模擬出光學(xué)玻璃在使用過程中所遇的搽洗使用場(chǎng)景,暴露光學(xué)玻璃內(nèi)部及表面等各方面的缺陷,利于更加客觀地評(píng)價(jià)光學(xué)玻璃的抗磨損性能,實(shí)現(xiàn)對(duì)光學(xué)玻璃的環(huán)境適應(yīng)性的可靠鑒定。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于玻璃測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種光學(xué)玻璃的環(huán)境適應(yīng)性檢測(cè)用試驗(yàn)儀及方法。
背景技術(shù)
光學(xué)玻璃的環(huán)境適應(yīng)性檢測(cè)用試驗(yàn)儀是用于模擬光學(xué)玻璃的真實(shí)使用場(chǎng)景的儀器,以便對(duì)光學(xué)玻璃的環(huán)境適應(yīng)性進(jìn)行檢測(cè)。現(xiàn)有的實(shí)驗(yàn)儀僅能模擬環(huán)境氣候、浸泡場(chǎng)景和磨耗場(chǎng)景以測(cè)試光學(xué)玻璃的耐候穩(wěn)定性、化學(xué)穩(wěn)定性及磨耗度等環(huán)境適應(yīng)性能。耐候穩(wěn)定性是在相對(duì)濕度和不同溫度交替變換的條件下模擬大氣環(huán)境中玻璃的侵蝕程度;化學(xué)穩(wěn)定性是光學(xué)玻璃浸泡在酸液或者堿液條件下光學(xué)玻璃表面的腐蝕程度;磨耗度是光學(xué)玻璃表面在外力作用或者相互研磨的損耗程度,主要是指導(dǎo)玻璃冷加工工藝。
然而,隨著光學(xué)玻璃的應(yīng)用越來越廣泛,對(duì)其環(huán)境適應(yīng)性有了更高的要求。例如:應(yīng)用在自動(dòng)駕駛汽車上的光學(xué)成像系統(tǒng),在雨天會(huì)有泥水夾雜砂石濺在光學(xué)玻璃表面,在洗車時(shí)會(huì)有沖洗水噴射到光學(xué)玻璃表面并伴隨有搽洗,這就對(duì)光學(xué)玻璃有了耐搽洗的檢測(cè)需求。因此,如何模擬出更多、更真實(shí)的光學(xué)玻璃使用場(chǎng)景,來檢測(cè)出光學(xué)玻璃在惡劣環(huán)境下表面的耐磨耗、抗劃傷性、耐物理化學(xué)腐蝕等情況,以研究各種牌號(hào)的光學(xué)玻璃在水夾砂石沖擊、搽洗、酸浸等情況下的承受能力也就非常必要。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是提供一種能夠較為真實(shí)地模擬出光學(xué)玻璃處于搽洗的使用場(chǎng)景的試驗(yàn)儀。
本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是:光學(xué)玻璃的環(huán)境適應(yīng)性檢測(cè)用試驗(yàn)儀,包括箱體、設(shè)置在箱體上的伸縮裝置、可滑動(dòng)地設(shè)置在箱體上并與伸縮裝置的伸縮端相連的樣品盤、以及設(shè)置在箱體上的搽洗機(jī)構(gòu);所述搽洗機(jī)構(gòu)包括設(shè)置在箱體上的固定桿、鉸接在固定桿上的橫向調(diào)節(jié)桿、設(shè)置在橫向調(diào)節(jié)桿一端上并處于樣品盤上側(cè)的試驗(yàn)臂、以及設(shè)置在試驗(yàn)臂下端的搽洗件,所述搽洗件的搽洗部能夠與安裝在樣品盤上的光學(xué)玻璃樣品直接接觸。
進(jìn)一步的是,所述箱體上設(shè)置有軌道,所述樣品盤通過滑塊可滑動(dòng)地設(shè)置在軌道上。
進(jìn)一步的是,所述伸縮裝置包括伸縮桿、設(shè)置在箱體內(nèi)的驅(qū)動(dòng)裝置以及可轉(zhuǎn)動(dòng)地設(shè)置在箱體內(nèi)并與驅(qū)動(dòng)裝置傳動(dòng)連接的轉(zhuǎn)輪;所述轉(zhuǎn)輪上設(shè)有偏心件,所述伸縮桿的一端與轉(zhuǎn)輪上的偏心件鉸接,所述伸縮桿的另一端與樣品盤鉸接,所述伸縮桿的另一端即為伸縮裝置的伸縮端。
進(jìn)一步的是,所述偏心件沿轉(zhuǎn)輪的徑向可滑動(dòng)地設(shè)置在轉(zhuǎn)輪上,所述轉(zhuǎn)輪上還設(shè)有用于固定偏心件的鎖緊件。
進(jìn)一步的是,所述樣品盤上設(shè)有樣品固定結(jié)構(gòu)。
進(jìn)一步的是,所述固定桿上套設(shè)有帶鎖緊螺釘?shù)倪B接套,所述橫向調(diào)節(jié)桿與連接套鉸接。
進(jìn)一步的是,所述搽洗機(jī)構(gòu)還包括平衡砝碼和荷載砝碼;所述平衡砝碼設(shè)置在橫向調(diào)節(jié)桿的另一端上,所述荷載砝碼設(shè)置在試驗(yàn)臂上。
進(jìn)一步的是,還包括控制系統(tǒng),所述控制系統(tǒng)包括控制器、設(shè)置在箱體上用于記錄伸縮裝置的伸縮次數(shù)的計(jì)數(shù)器以及設(shè)置在箱體上的顯示器,所述伸縮裝置、顯示器和計(jì)數(shù)器分別與控制器電性連接。
本發(fā)明還提供了一種光學(xué)玻璃的環(huán)境適應(yīng)性檢測(cè)方法,包括采用任意一種上述的光學(xué)玻璃的環(huán)境適應(yīng)性檢測(cè)用試驗(yàn)儀對(duì)光學(xué)玻璃樣品進(jìn)行搽洗的搽洗步驟,以及將經(jīng)過搽洗的光學(xué)玻璃樣品浸泡于酸溶液中的酸浸步驟,以及對(duì)經(jīng)過酸浸的光學(xué)玻璃樣品進(jìn)行檢測(cè)的檢測(cè)步驟。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于成都光明光電股份有限公司,未經(jīng)成都光明光電股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202010054503.2/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 環(huán)境服務(wù)系統(tǒng)以及環(huán)境服務(wù)事業(yè)
- 環(huán)境控制裝置、環(huán)境控制方法、環(huán)境控制程序及環(huán)境控制系統(tǒng)
- 環(huán)境檢測(cè)終端和環(huán)境檢測(cè)系統(tǒng)
- 環(huán)境調(diào)整系統(tǒng)、環(huán)境調(diào)整方法及環(huán)境調(diào)整程序
- 環(huán)境估計(jì)裝置和環(huán)境估計(jì)方法
- 用于環(huán)境艙的環(huán)境控制系統(tǒng)及環(huán)境艙
- 車輛環(huán)境的環(huán)境數(shù)據(jù)處理
- 環(huán)境取樣動(dòng)力頭、環(huán)境取樣方法
- 環(huán)境艙環(huán)境控制系統(tǒng)
- 環(huán)境檢測(cè)儀(環(huán)境貓)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





