[發明專利]標定方法、圖像校準方法以及標定系統

在審

• 申請號: 202010054045.2
• 申請日: 2020-01-17
• 公開（公告）號: CN113140008A
• 公開（公告）日: 2021-07-20
• 發明（設計）人: 鄭飛
• 申請（專利權）人: 上海途擎微電子有限公司
• 主分類號: G06T7/80
• 分類號: G06T7/80;G06T7/33;G06T15/04
• 代理公司: 深圳市威世博知識產權代理事務所(普通合伙) 44280
• 代理人: 何倚雯

1.一種標定方法，其特征在于，包括：

獲取攝像器件采集標定載體的紅外信號而生成的紅外圖像，其中，所述紅外信號是從標定載體預設點位處發射的，所述標定載體上設有若干預設點位，所述若干預設點位處設有紅外發射器，用于發射所述紅外信號；

基于所述紅外圖像中與所述若干預設點位對應的平面位置信息，以及所述若干預設點位在空間內的空間位置信息，確定所述攝像器件的內部參數和/或外部參數。

2.根據權利要求1所述的標定方法，其特征在于，所述紅外圖像的數量為第一預設數量幅，所述基于所述紅外圖像中與所述若干預設點位對應的平面位置信息，以及所述若干預設點位在空間內的空間位置信息，確定所述攝像器件的內部參數包括：

分別基于每幅所述紅外圖像中與所述若干預設點位對應的平面位置信息，以及所述若干預設點位在空間內的空間位置信息，獲取所述第一預設數量組候選參數；

利用所述第一預設數量組所述候選參數，確定所述攝像器件的內部參數。

3.根據權利要求2所述的標定方法，其特征在于，所述基于所述第一預設數量幅所述紅外圖像中與所述若干預設點位對應的平面位置信息，以及所述若干預設點位在空間內的空間位置信息，確定所述攝像器件的內部參數之后，所述方法還包括：

利用所述內部參數對所述紅外圖像進行矯正處理，得到與所述紅外圖像對應的矯正圖像；

從所述若干預設點位中選取第二預設數量個預設點位，并獲取所述第二預設數量個預設點位在空間內的空間位置信息和在所述矯正圖像中的平面位置信息；

計算所述第二預設數量個預設點位在空間內的空間位置信息和在所述矯正圖像中的平面位置信息之間的投影關系矩陣，作為所述攝像器件的外部參數。

4.根據權利要求3所述的標定方法，其特征在于，所述第二預設數量個預設點位為所述標定載體上矩形的四個頂點。

5.根據權利要求2所述的標定方法，其特征在于，每組所述候選參數包括第一圖像中心系數、第二圖像中心系數、第一倍率系數、第二倍率系數，所述利用所述第一預設數量組所述候選參數，確定所述攝像器件的內部參數包括：

分別統計所述第一預設數量個所述第一圖像中心系數、所述第二圖像中心系數、所述第一倍率系數和所述第二倍率系數的平均值，作為所述攝像器件的內部參數中的第一圖像中心系數、第二圖像中心系數、第一倍率系數和第二倍率系數。

6.根據權利要求2所述的標定方法，其特征在于，每組所述候選參數還包括第一畸變系數和第二畸變系數，所述方法還包括：

獲取所述第一預設數量個所述第一畸變系數中的最小值和最大值之間的第一數值范圍，并獲取所述第一預設數量個所述第二畸變系數中的最小值和最大值之間的第二數值范圍；

獲取所述第一畸變系數中的最小值和最大值的差值與所述第一預設數量之間的比值，作為第一遍歷步長，并獲取所述第二畸變系數中的最小值和最大值的差值與所述第一預設數量之間的比值，作為第二遍歷步長；

分別基于所述第一遍歷步長、所述第二遍歷步長從所述第一數值范圍、所述第二數值范圍中篩選符合預設條件的第一候選畸變系數、第二候選畸變系數，作為所述攝像器件的內部參數中的第一畸變系數、第二畸變系數。

7.根據權利要求6所述的標定方法，其特征在于，所述分別基于所述第一遍歷步長、所述第二遍歷步長從所述第一數值范圍、所述第二數值范圍中篩選符合預設條件的第一候選畸變系數、第二候選畸變系數，作為所述攝像器件的內部參數中的第一畸變系數、第二畸變系數包括：

基于所述第一遍歷步長從所述第一數值范圍的最小值開始依序選取第一候選畸變系數，并基于所述第二遍歷步長從所述第二數值范圍的最小值開始依序選取第二候選畸變系數；

利用所述內部參數中的第一圖像中心系數、第二圖像中心系數、第一倍率系數、第二倍率系數和所述第一候選畸變系數、所述第二候選畸變系數對所述紅外圖像進行矯正處理及投影變換，得到預處理圖像；

若在所述標定載體中組成矩形的任意四個預設點位在所述預處理圖像中組成平行四邊形，則將當前選取的所述第一候選畸變系數、所述第二候選畸變系數作為所述內部參數中的第一畸變系數、第二畸變系數。