[發明專利]一種熒光檢測裝置及其檢測方法在審
| 申請號: | 202010053448.5 | 申請日: | 2020-01-17 |
| 公開(公告)號: | CN111394235A | 公開(公告)日: | 2020-07-10 |
| 發明(設計)人: | 吳保強;馬勇 | 申請(專利權)人: | 杭州柏恒科技有限公司 |
| 主分類號: | C12M1/34 | 分類號: | C12M1/34;C12M1/38;G01N21/64 |
| 代理公司: | 杭州杭誠專利事務所有限公司 33109 | 代理人: | 尉偉敏 |
| 地址: | 310016 浙江省杭州*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 熒光 檢測 裝置 及其 方法 | ||
1.一種熒光檢測裝置,其特征是,包括內部放置有若干樣本試管的基體(1)和設置有光電檢測系統(2)的基座(3),所述光電檢測系統(2)包括激發光模塊(21)和熒光檢測模塊(22),所述光電檢測系統(2)還包括設置在基座(3)上的往復式光纖掃描機構(4),所述往復式光纖掃描機構(4)設置在基體(1)一側,所述基體上對應光纖掃描機構一側設置有檢測孔(12),所述往復式光纖掃描機構(4)通過光纖(5)與激發光模塊(21)和熒光檢測模塊(22)連接。
2.根據權利要求1所述的一種熒光檢測裝置,其特征是,所述基體(1)與基座(3)之間設置有控溫裝置(6),所述控溫裝置(6)與基體(1)和基座(3)之間均設置有導熱介質(61)。
3.根據權利要求2所述的一種熒光檢測裝置,其特征是,所述控溫裝置(6)底部設置有散熱模塊(7),所述散熱模塊(7)上設置有若干散熱片(71),所述散熱模塊(7)與基座(3)連接。
4.根據權利要求1所述的一種熒光檢測裝置,其特征是,所述往復式光纖掃描機構(4)包括平行于基體(1)設置的掃描軌道(41)、電機(42)和與電機(42)連接的同步機構,所述同步機構上設置有信號交互頭(8),所述信號交互頭(8)在掃描軌道(41)上往復運動。
5.根據權利要求4所述的一種熒光檢測裝置,其特征是,所述光纖(5)為包括有分叉端和集束端的Y字型結構,所述集束端包括有激發部和接收部,所述分叉端包括與激發部連通的輸入端(51)和與接收部連通的輸出端(52),所述激發光模塊(21)通過輸入端(51)與激發部連接,所述熒光檢測模塊(22)通過輸出端(52)接收部與連接,所述光纖(5)集束端設置在信號交互頭(8)上。
6.根據權利要求4所述的一種熒光檢測裝置,其特征是,所述同步機構包括設置在掃描軌道上的同步帶輪和連接在同步帶輪上的同步帶,所述信號交互頭(8)與同步帶連接,所述同步帶輪與電機連接。
7.根據權利要求1-6任意一項所述的一種熒光檢測裝置,其特征是,所述基體(1)內設置有安置槽(11),所述樣本試管放置在安置槽(11)內,所述安置槽(11)平行于基座(3)設置,所述檢測孔(12)設置在安置槽(11)中部,所述檢測孔(12)的孔口朝向往復式光纖掃描機構(4)設置。
8.根據權利要求7所述的一種熒光檢測裝置,其特征是,所述安置槽(11)縱剖面為倒錐形結構,所述樣本試管與安置槽(11)插合連接。
9.根據權利要求1所述的一種熒光檢測方法,其特征是,包括以下步驟:
將設置有待檢測物質及熒光物質的樣本試管插入安置槽(11)中;
啟動控溫裝置(6)對樣本物質進行高溫變性,變性溫度為80℃-95℃,接著對處理后的樣本物質進行復性,調整控溫裝置(6)的溫度至40℃-60℃,復性時間根據樣本種類設置在30s-60s之間,最后對處理后的樣本物質進行升溫延伸反應,調整控溫裝置(6)的溫度至70℃-80℃,延伸反應時間根據樣本中擴增片段長度設置為1-15min;
根據實驗目標擴增程度以及樣本濃度循環進行b步驟;
進入采樣階段,啟動光電檢測系統(2),激發光模塊(21)產生激發光,并通過往復式光纖掃描機構(4)自檢測孔(12)逐個照射樣本試管,同時樣本試劑發射的熒光由檢測孔(12)通過光纖傳輸到熒光檢測模塊(22),并轉為為電信號。
10.根據權利要求9所述的一種熒光檢測裝置,其特征是,所述激發光模塊(21)包括內部設置有激發光濾光片的第一透鏡組件和LED燈,所述第一透鏡組件設置在LED燈與光纖(5)之間;所述熒光檢測模塊(22)包括內部設置有接收濾光片的第二透鏡組件和光電檢測器,所述第二透鏡組件設置在光纖(5)與光電檢測器之間。
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