[發明專利]接口測試方法、裝置、電子設備及存儲介質在審
| 申請號: | 202010052077.9 | 申請日: | 2020-01-17 |
| 公開(公告)號: | CN111274131A | 公開(公告)日: | 2020-06-12 |
| 發明(設計)人: | 葛曉靜 | 申請(專利權)人: | 北京達佳互聯信息技術有限公司 |
| 主分類號: | G06F11/36 | 分類號: | G06F11/36 |
| 代理公司: | 北京柏杉松知識產權代理事務所(普通合伙) 11413 | 代理人: | 孟維娜;馬敬 |
| 地址: | 100085 北京市海淀*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 接口 測試 方法 裝置 電子設備 存儲 介質 | ||
1.一種接口測試方法,其特征在于,包括:
獲取預設的測試用例,其中,所述測試用例包括待測試接口的接口信息和校驗信息,所述校驗信息用于聲明校驗字段和校驗條件;
根據所述接口信息,向所述待測試接口發送測試請求;
接收所述待測試接口返回的測試結果,作為待校驗測試結果;
按照所述校驗條件,校驗所述待校驗測試結果中對應所述校驗字段的待校驗參數,以確定校驗結果。
2.根據權利要求1所述的接口測試方法,其特征在于,所述接口信息包括:接口地址、接口名稱和接口測試參數;
所述根據所述接口信息,向所述待測試接口發送測試請求步驟,包括:
根據所述接口地址和所述接口名稱,確定所述待測試接口的接口位置;
向所述接口位置發送測試請求,所述測試請求攜帶有所述測試參數。
3.根據權利要求1或2所述的接口測試方法,其特征在于,所述按照所述校驗條件,校驗所述待校驗測試結果中對應所述校驗字段的待校驗參數,包括:
對所述測試用例中的校驗信息進行解析,以生成對應所述校驗條件的斷言表達式;
判斷所述待校驗測試結果中對應所述校驗字段的待校驗參數是否滿足所述斷言表達式。
4.根據權利要求3所述的接口測試方法,其特征在于,所述校驗信息包括預設的基準校驗結果;
所述對所述測試用例中的校驗信息進行解析,以生成對應所述校驗條件的斷言表達式,包括:
基于所述校驗信息所聲明的校驗字段,在所述基準校驗結果中,確定對應所述校驗字段的基準字符串,所述基本字符串為預設格式;
基于所述基準字符串,生成對應所述校驗條件的斷言表達式。
5.根據權利要求4所述的接口測試方法,其特征在于,所述判斷所述待校驗測試結果中對應所述校驗字段的待校驗參數是否滿足所述斷言表達式,包括:
根據所述待校驗結果構建用于進行表達式運行的校驗對象,所述校驗對象用于表示所述待校驗測試結果中對應所述校驗字段的待校驗參數;
判斷所述待校驗對象是否滿足所述斷言表達式。
6.根據權利要求5所述的接口測試方法,其特征在于,所述判斷所述待校驗對象是否滿足所述斷言表達式,包括:
將所述校驗對象帶入所述斷言表達式進行表達式運算,并輸出布爾值,作為所述待校驗測試結果的校驗結果。
7.根據權利要求6所述的接口測試方法,其特征在于,所述將所述校驗對象帶入所述斷言表達式進行表達式運算,并輸出布爾值,包括:
將所述校驗對象帶入所述斷言表達式,并通過SpringEL解析器獲取所述校驗對象的布爾值,作為所述待校驗測試結果的校驗結果。
8.一種接口測試裝置,其特征在于,包括:
測試用例獲取模塊,被配置為執行獲取預設的測試用例,其中,所述測試用例包括待測試接口的接口信息和校驗信息,所述校驗信息用于聲明校驗字段和校驗條件;
請求發送模塊,被配置為執行根據所述接口信息,向所述待測試接口發送測試請求;
測試結果接收模塊,被配置為執行接收所述待測試接口返回的測試結果,作為待校驗測試結果;
校驗模塊,被配置為執行按照所述校驗條件,校驗所述待校驗測試結果中對應所述校驗字段的待校驗參數,以確定校驗結果。
9.一種接口測試電子設備,其特征在于,包括:
處理器;
用于存儲所述處理器可執行指令的存儲器;
其中,所述處理器被配置為執行所述指令,以實現如權利要求1至7中任一項所述的接口測試方法。
10.一種存儲介質,當所述存儲介質中的指令由接口測試電子設備的處理器執行時,使得接口測試電子設備能夠執行如權利要求1至7中任一項所述的接口測試方法。
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