[發明專利]一種改進型集成電路TEM小室輻射發射測量裝置及方法

有效

• 申請號: 202010051010.3
• 申請日: 2020-01-17
• 公開（公告）號: CN111175640B
• 公開（公告）日: 2022-07-19
• 發明（設計）人: 吳建飛;鄭亦菲;李雅菲;張紅麗;李宏;吳健煜;王宏義;鄭黎明;劉培國
• 申請（專利權）人: 天津市濱海新區軍民融合創新研究院;中國人民解放軍國防科技大學
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R31/00
• 代理公司: 長沙國科天河知識產權代理有限公司 43225
• 代理人: 徐志宏

1.一種集成電路TEM小室測量系統，包括：TEM小室，用于接收被測芯片發射的電磁場；電磁干擾測試接收機，通過射頻線與所述TEM小室相連，用于采集所述TEM小室發出的電磁場信號；電源，用于向被測芯片供電；計算機及相應的控制軟件，用來控制和監控測試接收機和相應的測試組件；其特征在于，所述TEM小室包括手電筒形場探頭，所述TEM小室測試窗為圓形并配備帶有刻度的圓形隔離環；所述TEM小室的外壁設有與所述圓形隔離環上刻度相對應的參照標識；所述手電筒形場探頭與所述圓形隔離環之間設有發生角度旋轉用的滑移結構;

所述圓形隔離環設有不同高度的至少兩級臺階以對應不同口徑大小的至少兩個所述手電筒形場探頭；

所述集成電路TEM小室測量系統在測試過程中，按小于90度的任意步長切換手電筒形場探頭上參照標識與圓形隔離環上刻度盤之間不同相對角度，分別測試各相對角度所對應的被測芯片不通電狀態下的噪聲和通電狀態下的輻射數據，結合不同相對角度上的測量數據進行數據分析。

2.根據權利要求1所述的系統，其特征在于，所述手電筒形場探頭為對混合電磁場進行分類的電場探頭、磁場探頭。

3.根據權利要求1所述的系統，其特征在于，在所述TEM小室測試窗與接地板之間連接有固定用的銅箔膠帶。

4.根據權利要求3所述的系統，其特征在于，所述接地板為圓形。

5.根據權利要求4所述的系統，其特征在于，在所述接地板的中間部分設有對應所述被測芯片的PCB測試板的固定結構。

6.根據權利要求1所述的系統，其特征在于，還包括：

在測試過程中，被測芯片的最低發射電平高于噪聲電平至少6dB。