[發(fā)明專利]一種基于遺傳算法和日志分析的異常單元測試自動生成的方法

有效

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• 申請日: 2020-01-17
• 公開（公告）號: CN111221741B
• 公開（公告）日: 2023-10-10
• 發(fā)明（設計）人: 劉宇豪;賀國平;陳子豪
• 申請（專利權）人: 北京工業(yè)大學
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36;G06F11/30;G06N3/126
• 代理公司: 北京思海天達知識產權代理有限公司 11203
• 代理人: 沈波

本發(fā)明公開了一種基于遺傳算法和日志分析的異常單元測試自動生成的方法，包括以下步驟：步驟S1：智能日志分析；步驟S2：構建參數數據庫；步驟S3：改進遺傳算法；智能分析以往的程序日志，將參數值為靜態(tài)以及參數值連續(xù)的參數選出，構建參數數據庫，作為遺傳算法的初始值及變異值；并使用合理的適應度函數，采用遺傳算法生成測試用例；實驗結果表明本發(fā)明的有益效果是，該方法在代碼函數覆蓋率和異常問題召回率方面均具有優(yōu)越性。

技術領域

本發(fā)明涉及到軟件測試技術領域，具體是一種基于遺傳算法和日志分析的異常單元測試自動生成的方法。

背景技術

軟件測試是保證軟件可靠性和穩(wěn)定性的關鍵手段和必備環(huán)節(jié)，測試用例的設計和選擇將直接影響軟件測試的質量，異常測試是提高系統代碼健壯性的測試手段之一，常見的異常測試可以大致分為四類，基于壓力的、功能測試的、單元測試的，靜態(tài)代碼掃描的異常測試方法；通過對比發(fā)現，異常單元測試除了人力成本外，召回、定位和閉環(huán)能力是最好的，其它方法都有一定的異常覆蓋欠缺，無法有效地攔截異常代碼問題，使得線上穩(wěn)定性問題依然頻繁發(fā)生，因此本發(fā)明采用異常單元測試的方法解決當前問題；為了智能化選擇覆蓋率高的測試用例，提高測試質量，減少測試時間和人力的消耗，專家和學者們進行了大量的研究；有學者在面向對象類測試用例生成中使用遺傳算法，在對類中方法的分支覆蓋率和測試用例生成數量上都有明顯的改進；還有基于提高分支覆蓋率改進了遺傳算法的研究，使得改進后方法在覆蓋率和進化代數方面均具有優(yōu)越性；但目前多數的開源測試用例自動生成框架都是針對C語言或者JAVA語言的代碼生成用例所以現有的需要一種基于遺傳算法和日志分析，并針對C++語言的代碼生成異常單元測試用例的方法。

發(fā)明內容

本發(fā)明的目的在于提供一種基于遺傳算法和日志分析的異常單元測試自動生成的方法，以解決上述背景技術中所提到的問題。

為實現上述目的，本發(fā)明提供如下技術方案：

一種基于遺傳算法和日志分析的異常單元測試自動生成的方法，包括以下步驟：

步驟S1：智能日志分析；

步驟S2：構建參數數據庫；

步驟S3：改進遺傳算法。

作為本發(fā)明進一步的方案：