[發(fā)明專利]水平平整度測量裝置及測量工具組件

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010049644.5
• 申請日: 2020-01-16
• 公開（公告）號: CN111336955B
• 公開（公告）日: 2022-04-15
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 郭子健
• 申請（專利權(quán)）人: 合肥京東方視訊科技有限公司;京東方科技集團(tuán)股份有限公司
• 主分類號: G01B11/30
• 分類號: G01B11/30
• 代理公司: 北京鼎佳達(dá)知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11348
• 代理人: 張小勇;劉鐵生

本發(fā)明公開了一種水平平整度測量裝置及測量工具組件，涉及測量根據(jù)技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明的主要技術(shù)方案為：水平平整度測量裝置，其包括本體、至少一臺光發(fā)射與接收器、控制器、顯示裝置，本體具有容納空間，且本體的第一表面上具有至少一個(gè)光線過孔，所述第一表面為平直表面；至少一臺所述光發(fā)射與接收器設(shè)置在所述容納空間內(nèi)，且所述至少一臺光發(fā)射與接收器與所述至少一個(gè)光線過孔一一對應(yīng)，用于向被測點(diǎn)發(fā)送并接收測量光線；所述控制器與所述至少一臺光發(fā)射與接收器信號連接，用于控制所述至少一臺所述光發(fā)射與接收器發(fā)射、接收光線并計(jì)算所述測量光線傳播距離；所述顯示裝置與所述控制器信號連接，用于顯示所述第一表面到所述被測點(diǎn)之間的距離。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及測量工具技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種水平平整度測量裝置及測量工具組件。

背景技術(shù)

產(chǎn)品生產(chǎn)過程中，背板、后殼、檔條等結(jié)構(gòu)易發(fā)生翹曲變形，會影響到產(chǎn)品外觀或后續(xù)的裝配工序，因此需要在產(chǎn)品生產(chǎn)過程中以及產(chǎn)品成型后都要進(jìn)行的平整度進(jìn)行檢測。

通常現(xiàn)有的測量方式是將被測物體與一標(biāo)準(zhǔn)平面相貼合，利用不同厚度的塞尺在二者之間的縫隙一個(gè)個(gè)嘗試著測量，一個(gè)水平面需要多次取點(diǎn)測量，且存在人為測量誤差，平整度測量精度較低。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，本發(fā)明實(shí)施例提供一種水平平整度測量裝置及測量工具組件，主要目的是解決現(xiàn)有顯示裝置產(chǎn)品生產(chǎn)過程測量平整度時(shí)操作繁瑣，精確度較低的問題。

為達(dá)到上述目的，本發(fā)明主要提供如下技術(shù)方案：

本發(fā)明實(shí)施例提供了一種水平平整度測量裝置，其包括

本體，所述本體具有容納空間，且所述本體的第一表面上具有至少一個(gè)光線過孔，所述第一表面為平直表面；

至少一臺光發(fā)射與接收器，至少一臺所述光發(fā)射與接收器設(shè)置在所述容納空間內(nèi)，且所述至少一臺光發(fā)射與接收器與所述至少一個(gè)光線過孔一一對應(yīng)，用于向被測點(diǎn)發(fā)送測量光線并接收由被測點(diǎn)反射的測量光線；

控制器，所述控制器與所述至少一臺光發(fā)射與接收器信號連接，用于控制所述至少一臺所述光發(fā)射與接收器發(fā)射、接收光線并計(jì)算所述第一表面到所述被測點(diǎn)之間的距離；

顯示裝置，所述顯示裝置與所述控制器信號連接，用于顯示所述第一表面到所述被測點(diǎn)之間的距離。

可選地，前述的水平平整度測量裝置，其中至少一臺光發(fā)射與接收器的發(fā)射端和接收端均與至少一個(gè)所述光線過孔在所述第一表面上相平齊。

可選地，前述的水平平整度測量裝置，其中所述控制器包括計(jì)時(shí)電路；

所述計(jì)時(shí)電路和所述光發(fā)射與接收器信號連接，用于計(jì)算所述測量光線由所述光線過孔發(fā)出并回到所述光線過孔的時(shí)間。

可選地，前述的水平平整度測量裝置，其中所述控制器包括計(jì)算電路；所述計(jì)算電路與所述計(jì)時(shí)電路、所述顯示裝置信號連接，用于接收所述測量光線由所述光線過孔發(fā)出并回到所述光線過孔的時(shí)間，計(jì)算所述第一表面到所述各被測點(diǎn)之間的距離，并將所述第一表面到所述各被測點(diǎn)之間的距離發(fā)送至所述顯示裝置進(jìn)行顯示。

可選地，前述的水平平整度測量裝置，其中所述控制器包括篩選電路；

所述篩選電路與所述計(jì)時(shí)電路、所述計(jì)算電路信號連接，用于篩選所述測量光線由所述光線過孔發(fā)出并回到所述光線過孔的最短時(shí)間，并發(fā)送至所述計(jì)算電路。

可選地，前述的水平平整度測量裝置，其中所述控制器還包括比較電路；

所述比較電路與所述計(jì)時(shí)電路和/或所述計(jì)算電路和/或所述篩選電路信號連接，用于比較得出所述第一表面到所述各被測點(diǎn)之間的距離的最大值和最小值。

可選地，前述的水平平整度測量裝置，其中所述本體上還包括至少一個(gè)指示燈；