[發明專利]一種鏡片光圈檢測裝置

在審

• 申請號: 202010048233.4
• 申請日: 2020-01-16
• 公開（公告）號: CN111076906A
• 公開（公告）日: 2020-04-28
• 發明（設計）人: 辛小飛
• 申請（專利權）人: 中山市冠林光電科技有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 北京聯瑞聯豐知識產權代理事務所(普通合伙) 11411
• 代理人: 郭堃

本發明公開了一種鏡片光圈檢測裝置，包括檢測箱、光源以及面檢原器；所述光源設置于所述檢測箱內，所述檢測箱上設有透光區，所述面檢原器設置于所述透光區上。采用本發明技術方案，在將鏡片放置在面檢原器時檢測光圈時，開啟光源，光源的光透過所述透光區照向所述面檢原器，從而減少鏡片散射及倒影的干擾，使鏡片光圈清晰可見，快速讀取鏡片光圈數，防止誤判，提升品質，提升作業效率。

技術領域

本發明涉及鏡片光圈檢測技術領域，特別涉及一種鏡片光圈檢測裝置。

背景技術

光學鏡片光圈檢查方法一般將鏡片或面檢原器放在黑毛紙上，再把鏡片和面檢原器貼在一起確認光圈，由于光線反射效果不好，同時受到鏡片本身的散射光、倒影的干擾，光圈顏色淡,不好確認準確讀數，導致誤判及效率低。

發明內容

針對現有技術存在的不足，本發明目的是提供一種鏡片光圈檢測裝置，減少鏡片散射及倒影的干擾，使鏡片光圈清晰可見，快速讀取鏡片光圈數，防止誤判，提升品質，提升作業效率。

為了解決上述技術問題，本發明的技術方案為：一種鏡片光圈檢測裝置，包括檢測箱、光源以及面檢原器；所述光源設置于所述檢測箱內，所述檢測箱上設有透光區，所述面檢原器設置于所述透光區上。

進一步的，所述光源為熒光燈。

進一步的，所述透光區為透光板或玻璃片設置在所述檢測箱上形成。

進一步的，所述面檢原器與所述透光區之間還設有黑色皮墊。

進一步的，還包括固定支架，所述光源通過所述固定支架設置于所述檢測箱內。

采用上述技術方案，在將鏡片放置在面檢原器時檢測光圈時，開啟光源，光源的光透過所述透光區照向所述面檢原器，從而減少鏡片散射及倒影的干擾，使鏡片光圈清晰可見，快速讀取鏡片光圈數，防止誤判，提升品質，提升作業效率。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動性的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為本發明鏡片光圈檢測裝置的結構示意圖。

圖中，1-檢測箱，2-光源，3-面檢原器，4-透光區，5-固定支架，6-鏡片。

具體實施方式

下面結合附圖對本發明的具體實施方式作進一步說明。在此需要說明的是，對于這些實施方式的說明用于幫助理解本發明，但并不構成對本發明的限定。此外，下面所描述的本發明各個實施方式中所涉及的技術特征只要彼此之間未構成沖突就可以相互組合。

在本發明的描述中，需要理解的是，術語“中心”、“縱向”、“橫向”、“長度”、“厚度”、“上下前后左右”、“豎直”、“水平”、“頂”、“底”、“內”、“外”、“順時針”、“逆時針”指示的方位或位置關系為基于附圖所示的方位或位置關系，僅是為了便于描述本發明和簡化描述，而不是指示或暗示所指的元件必須具有的特定的方位、以特定的方位構造和操作，因此，不能理解為對本發明的限制。此外，術語“第一”、“第二”僅用于描述目的，而不能理解為指示或暗示相對重要性或者隱含指明所指示的技術特征的數量。由此，限定的“第一”、“第二”的特征可以明示或者隱含地包括一個或者更多個所述特征。