[發(fā)明專利]數(shù)字輸出監(jiān)視電路以及高頻前端電路

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010045973.2
• 申請日: 2020-01-15
• 公開（公告）號: CN111507054A
• 公開（公告）日: 2020-08-07
• 發(fā)明（設計）人: 松山覺;松村哲;中牟田和周;松村俊樹
• 申請（專利權）人: 株式會社村田制作所
• 主分類號: G06F30/36
• 分類號: G06F30/36;G06F30/32
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 趙琳琳

本發(fā)明提供一種數(shù)字輸出監(jiān)視電路以及高頻前端電路，能夠在混合搭載了數(shù)字電路和模擬電路的結構中容易地進行模擬電路的測試。數(shù)字輸出監(jiān)視電路具備：第一數(shù)字電路(110a)，進行串行數(shù)據(jù)與并行數(shù)據(jù)的相互變換；第二數(shù)字電路(120)，對從第一數(shù)字電路(110a)輸出的數(shù)據(jù)進行解碼，生成模擬電路(200)用的控制信號；以及第三數(shù)字電路(130)，至少將模擬電路(200)用的控制信號變換為數(shù)字數(shù)據(jù)。第一數(shù)字電路(110a)將從第三數(shù)字電路(130)輸出的數(shù)據(jù)變換為串行數(shù)據(jù)，作為輸出數(shù)據(jù)信號輸出。

技術領域

本發(fā)明涉及數(shù)字輸出監(jiān)視電路以及高頻前端電路。

背景技術

在下述的專利文獻1記載了如下的半導體集成電路，即，通過切換并輸出系統(tǒng)LSI內的內部信號，從而能夠效率良好地進行調試(debug)。

在先技術文獻

專利文獻

專利文獻1：日本特開2002-24201號公報

例如，對射頻的高頻信號進行放大的高頻前端電路一般來說是如下的結構，即，在模塊內混合搭載了包含處理器等的數(shù)字電路和包含放大電路等的模擬電路。像這樣，在混合搭載了數(shù)字電路和模擬電路的模塊中，在進行模擬電路用的控制信號的測試的情況下，需要在處理器、模塊內設置測試用的端子，或者在由于處理器的IC芯片的安裝面積、電路面積等的限制而不能設置測試用的端子的情況下，需要根據(jù)模擬電路的動作間接地進行測試。模擬電路的動作測試以模擬電路中的全部的動作條件進行，但測試時間將變長，此外，在保證質量的觀點上，也難以進行充分的測試。

發(fā)明內容

發(fā)明要解決的課題

本發(fā)明正是鑒于上述情形而完成的，其目的在于，實現(xiàn)一種能夠在混合搭載了數(shù)字電路和模擬電路的結構中容易地進行模擬電路的測試的數(shù)字輸出監(jiān)視電路以及高頻前端電路。

用于解決課題的技術方案

本發(fā)明的一個方面的數(shù)字輸出監(jiān)視電路具備：第一數(shù)字電路，進行串行數(shù)據(jù)與并行數(shù)據(jù)的相互變換；第二數(shù)字電路，對從所述第一數(shù)字電路輸出的數(shù)據(jù)進行解碼，生成模擬電路用的控制信號；以及第三數(shù)字電路，至少將所述模擬電路用的控制信號變換為數(shù)字數(shù)據(jù)，所述第一數(shù)字電路將從所述第三數(shù)字電路輸出的數(shù)據(jù)變換為串行數(shù)據(jù)，作為輸出數(shù)據(jù)信號輸出。

本發(fā)明的一個方面的高頻前端電路包含上述數(shù)字輸出監(jiān)視電路，作為所述模擬電路而包含對高頻信號進行放大的放大電路。

發(fā)明效果

根據(jù)本發(fā)明，能夠提供一種能夠在混合搭載了數(shù)字電路和模擬電路的結構中容易地進行模擬電路的測試的數(shù)字輸出監(jiān)視電路以及高頻前端電路。

附圖說明

圖1是示出比較例的系統(tǒng)結構的圖。

圖2是示出比較例的第一數(shù)字電路的內部結構的一個例子的圖。

圖3是示出第二數(shù)字電路的具體的結構的一個例子的圖。

圖4是示出模擬電路的具體的結構的一個例子的圖。

圖5是示出實施方式1的輔電路的結構的圖。

圖6是示出實施方式1的第一數(shù)字電路的內部結構的一個例子的圖。

圖7是示出實施方式1的第三數(shù)字電路的內部結構的一個例子的圖。

圖8是示出實施方式2的輔電路的結構的圖。

圖9是示出設置在模擬電路的監(jiān)視電路的結構的一個例子的圖。

圖10是示出實施方式3的第三數(shù)字電路的內部結構的一個例子的圖。

圖11是示出實施方式3的測試處理的一個例子的流程圖。