[發明專利]一種手性化合物的檢測方法有效
| 申請號: | 202010045747.4 | 申請日: | 2020-01-16 |
| 公開(公告)號: | CN113125547B | 公開(公告)日: | 2022-04-08 |
| 發明(設計)人: | 車順愛;劉澤棲;段瑛瀅 | 申請(專利權)人: | 同濟大學 |
| 主分類號: | G01N27/72 | 分類號: | G01N27/72;G01N21/17;G01R33/032 |
| 代理公司: | 上海德昭知識產權代理有限公司 31204 | 代理人: | 盧泓宇 |
| 地址: | 200092 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 手性 化合物 檢測 方法 | ||
1.一種手性化合物的檢測方法,其特征在于,采用具有手性的光磁響應性材料作為基底材料與高斯計配合從而對手性化合物進行檢測,包括如下步驟:
步驟 S1,將手性化合物的待測樣品載置在基底材料上;
步驟 S2,用激光照射所述待測樣品,用高斯計對所述激光照射所述待測樣品后產生的磁場強度進行檢測從而獲得檢測結果;
步驟 S3,對步驟 S2 檢測得到的所述磁場強度進行分析,從而得到所述手性化合物中的對映體含量,
其中,照射所述待測樣品的激光為非偏振光,
步驟 S3 的所述分析包括如下步驟:
步驟 S3-1,配制多個所述手性化合物的標準品,每個所述標準品中含有不同量的手性化合物的對映體;
步驟 S3-2,分別將各個所述標準品載置在所述基底材料上,分別采用所述激光進行照射并采用所述高斯計對所述激光照射所述待測樣品后產生的磁場強度進行檢測,從而得到各個所述標準品的被照射后所產生的磁場強度;
步驟 S3-3,將所述標準品和所述待測樣品的所述磁場強度進行對比分析,得到所述待測樣品中的所述手性化合物的所述對映體含量。
2. 根據權利要求 1 所述的手性化合物的檢測方法,其特征在于:
其中,步驟 S1 中的具有手性的所述光磁響應性材料為金屬納米螺旋線陣列、復合金屬納米螺旋線陣列、金屬氧化物納米螺旋線陣列以及復合金屬氧化物納米螺旋線陣列中的一種或幾種的混合物。
3. 根據權利要求1 所述的手性化合物的檢測方法,其特征在于:
其中,步驟 S3-3 的所述對比分析為:根據標準品的磁場強度及對映體含量關系繪制標準曲線,根據該標準曲線以及待測樣品的磁場強度得出手性化合物的對映體含量。
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