[發(fā)明專利]熒光薄膜屏、其制備方法及其在微通道板像增強(qiáng)器的應(yīng)用有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010045735.1 | 申請日: | 2020-01-16 |
| 公開(公告)號: | CN111243922B | 公開(公告)日: | 2022-11-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 周東站;劉輝;蔡華;王辰;劉暢;廉姣 | 申請(專利權(quán))人: | 中國建筑材料科學(xué)研究總院有限公司 |
| 主分類號: | H01J31/12 | 分類號: | H01J31/12;H01J31/50;H01J9/22 |
| 代理公司: | 北京鼎佳達(dá)知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11348 | 代理人: | 霍紅艷;劉鐵生 |
| 地址: | 100024*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 熒光 薄膜 制備 方法 及其 通道 增強(qiáng) 應(yīng)用 | ||
1.一種熒光薄膜屏,其特征在于,包括透明基底以及依次沉積在該透明基底上的第一熒光薄膜層、熒光增強(qiáng)層、第二熒光薄膜層及導(dǎo)電膜層。
2.如權(quán)利要求1所述的熒光薄膜屏,其特征在于,還包括第一隔離層、第二隔離層和第三隔離層中的至少一種;所述第一隔離層設(shè)置于所述第一熒光薄膜層與熒光增強(qiáng)層之間;所述第二隔離層設(shè)置于所述熒光增強(qiáng)層與第二熒光薄膜層之間;所述第三隔離層設(shè)置于所述第二熒光薄膜層與導(dǎo)電膜層之間。
3.如權(quán)利要求2所述的熒光薄膜屏,其特征在于,所述第一隔離層、第二隔離層及第三隔離層的材質(zhì)選自SiO2、TiO2、HfO2、MgO、ZrO2、Si3N4或Al2O3,其膜層厚度為5nm~40nm。
4.如權(quán)利要求1所述的熒光薄膜屏,其特征在于,所述透明基底的材質(zhì)選自玻璃、石英、光纖面板或有機(jī)玻璃。
5.如權(quán)利要求1所述的熒光薄膜屏,其特征在于,所述第一熒光薄膜層、第二熒光薄膜層為無機(jī)熒光材料,其熒光發(fā)光波長處于380nm~760nm的可見光范圍,其膜層厚度為50nm~2000nm。
6.如權(quán)利要求5所述的熒光薄膜屏,其特征在于,所述無機(jī)熒光材料選自CRT用熒光材料;所述CRT用熒光材料選自硫化物、氧化物、硫氧化物或硅酸鹽。
7.如權(quán)利要求1所述的熒光薄膜屏,其特征在于,所述熒光增強(qiáng)層的材質(zhì)選自Au、Ag、Cu、Al、Pt、Zn、Cr及其合金中的至少一種,其膜層厚度為5nm~50nm。
8.如權(quán)利要求1所述的熒光薄膜屏,其特征在于,所述導(dǎo)電膜層的材質(zhì)選自Al、Ag、Cr、Ni、Au、Cu、Zn金屬及其合金中的至少一種,其膜層厚度為20nm~200nm。
9.一種權(quán)利要求1-8任一項所述的熒光薄膜屏的制備方法,其特征在于,包括以下步驟:
在透明基底上至少通過物理氣相沉積法、化學(xué)氣相沉積法或濕化學(xué)沉積法沉積第一熒光薄膜層;
在所述第一熒光薄膜層上至少通過濺射法、熱蒸發(fā)法沉積熒光增強(qiáng)層;
在熒光增強(qiáng)層上至少通過物理氣相沉積法、化學(xué)氣相沉積法或濕化學(xué)沉積法沉積第二熒光薄膜層;
在所述第二熒光薄膜層上至少通過濺射法、熱蒸發(fā)法沉積導(dǎo)電膜層。
10.如權(quán)利要求9所述的熒光薄膜屏,其特征在于,所述制備方法還包括以下步驟中的至少一個:
在所述第一熒光薄膜層與熒光增強(qiáng)層之間設(shè)置第一隔離層的步驟;
在所述熒光增強(qiáng)層與第二熒光薄膜層之間設(shè)置第二隔離層的步驟;以及
在所述第二熒光薄膜層與導(dǎo)電膜層之間設(shè)置第三隔離層的步驟。
11.一種微通道板像增強(qiáng)器,其特征在于,所述微通道板像增強(qiáng)器包括權(quán)利要求1-8任一項所述的熒光薄膜屏。
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