[發明專利]一種芯片自動化檢測裝置

有效

• 申請號: 202010045655.6
• 申請日: 2020-01-16
• 公開（公告）號: CN111103528B
• 公開（公告）日: 2022-03-18
• 發明（設計）人: 周露露;李立
• 申請（專利權）人: 無錫杰進科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G06F8/61
• 代理公司: 北京高航知識產權代理有限公司 11530
• 代理人: 喬浩剛

1.一種芯片自動化檢測裝置，其特征在于，包括：

支撐架；

燒錄裝置（13），通過第一電動伸縮桿（12）固定連接在支撐架上；

帶有多個檢測頭（17）的檢測裝置（15），通過第二電動伸縮桿（14）固定連接在支撐架上，

其中

所述檢測裝置（15）中設有密封通道（43），所述密封通道（43）中滑動密封連接有第一活塞盤（44），所述第一活塞盤（44）上端通過拉簧（45）連接在所述的密封通道（43）頂壁上，所述檢測頭（17）連接在所述的第一活塞盤（44）底側，所述第一活塞盤（44）與檢測頭（17）之間設有拉力傳感器（46），所述檢測裝置（15）底側固定設有磁鐵環（47），所述的檢測頭（17）下端位于所述磁鐵環（47）中，所述的磁鐵環（47）將所述的檢測頭（17）磁化，當所述的檢測頭（17）靠近芯片（21）上的金屬端子時拉力傳感器（46）接收信號并控制所述的第一活塞盤（44）驅動裝置驅動所述的第一活塞盤（44）帶動檢測頭（17）向下移動接觸芯片（21）的金屬端子；所述磁鐵環為電磁鐵，在檢測裝置向下移動時電磁鐵關閉；

第一芯片支撐臺（20）和第二芯片支撐臺（19），固定連接在支撐架上；

伸縮翻轉桿（18），連接在所述的支撐架上；

真空吸盤（23），通過連接桿（22）連接在所述的伸縮翻轉桿（18）上，用于吸住所述的芯片（21）。

2.根據權利要求1所述的一種芯片自動化檢測裝置，其特征在于，所述的第一活塞盤（44）驅動裝置包括第一氣泵（1401）、第一出氣管（39）、第一連通管（40）和帶有第一電磁閥（42）的第二連通管（41），所述第一出氣管（39）一端連接在所述的第一氣泵（1401）出氣端，另一端連接在所述的第一連通管（40）上，所述第二連通管（41）兩端分別與所述的第一連通管（40）和密封通道（43）相連。

3.根據權利要求2所述的一種芯片自動化檢測裝置，其特征在于，還包括帶有觸摸屏（6）的計算機（16），所述的第一電磁閥（42）、拉力傳感器（46）、第一氣泵（1401）均與所述的計算機（16）電性相連。

4.根據權利要求1所述的一種芯片自動化檢測裝置，其特征在于，還包括用于驅動所述的伸縮翻轉桿（18）工作的驅動設備，所述驅動設備包括固定在支撐架上的第三電動伸縮桿（5），所述第三電動伸縮桿（5）上端固定連接有伺服電機（4），所述伺服電機（4）驅動端連接有伸縮筒（3），所述伸縮翻轉桿（18）滑動設置在所述的伸縮筒（3）中。

5.根據權利要求4所述的一種芯片自動化檢測裝置，其特征在于，所述伸縮筒（3）中滑動密封連接有第二活塞盤（27），所述伸縮翻轉桿（18）固定連接在所述的第二活塞盤（27）上，所述支撐架上固定連接有第二氣泵（24），所述第二氣泵（24）出氣端連接有第二出氣管（25）和第三出氣管（30），所述第二出氣管（25）和第三出氣管（30）分別連接在伸縮筒（3）的兩端，所述第二出氣管（25）上連接有第二電磁閥（26），所述第三出氣管（30）上連接有第七電磁閥（48），所述伸縮筒（3）兩端分別連接有第三電磁閥（28）和第四電磁閥（29）。

6.根據權利要求5所述的一種芯片自動化檢測裝置，其特征在于，所述伸縮翻轉桿（18）和連接桿（22）均呈中空結構，所述的連接桿（22）與所述的真空吸盤（23）連通，所述的伸縮翻轉桿（18）位于伸縮筒（3）中的一端連接有插管（38），所述伸縮筒（3）內壁上連接有插管接頭（37），所述的插管（38）插入所述的插管接頭（37）中，所述插管接頭（37）上通過第一吸氣管（35）與所述的第二氣泵（24）吸氣端相連，所述第一吸氣管（35）上連接有第五電磁閥（36），所述第二氣泵（24）吸氣端連接有第二吸氣管（34），所述第二吸氣管（34）上連接有第六電磁閥（33），所述第二氣泵（24）出氣端連接有第四出氣管（31），所述第四出氣管（31）上連接有第八電磁閥（32）。