[發明專利]一種可調式精準破碎研磨組件有效
| 申請號: | 202010041267.0 | 申請日: | 2020-01-15 |
| 公開(公告)號: | CN111229412B | 公開(公告)日: | 2021-07-30 |
| 發明(設計)人: | 李小龍;施衛東;高雄發;李輝 | 申請(專利權)人: | 江蘇大學;南通大學 |
| 主分類號: | B02C18/26 | 分類號: | B02C18/26;B02C19/00;B02C23/16;G01N1/28 |
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| 地址: | 212013 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 調式 精準 破碎 研磨 組件 | ||
本發明提供了一種可調式精準破碎研磨組件,該研磨組件包括:驅動源;升降機構;破碎研磨錘,與驅動源連接,包括從上至下一體成型的上端體、下端體和推料體,上端體和下端體均為圓臺狀,推料體為圓柱狀體,上端體的外徑沿從上至下的方向依次增大外壁上設有若干切割刀體,下端體的外徑沿從上至下的方向依次減小;破碎研磨筒包括從上至下依次同軸設置的第一圓臺腔室、第二圓臺腔室和第二圓柱腔室,其中,所述破碎研磨錘位于所述破碎研磨筒內,且所述破碎研磨錘與所述破碎研磨筒同軸,本發明使物料可以在同一臺設備上實現切割、破碎、粗磨和精磨的工藝流程,并在不更換破碎研磨錘的情況下在線調節被破碎物品的破碎精度。
技術領域
本發明涉及物料破碎研磨領域,尤其涉及一種可調式精準破碎研磨組件。
背景技術
在生物制藥、生物工程、土壤檢測、固體物料成分檢測等理化分析樣品前處理階段,通常會用到破碎研磨裝置把物料破碎,并研磨到一定的精度要求。目前市場上常用的設備主要有刀片式、超離心式、行星和振動球磨式、鄂式、盤式、振動杯式、切割式、臼式等。但這些設備大都不能實現粗磨和精磨同時進行,通常為固體物料破碎后再放入到另外一臺設備進行精細研磨,另外,精細研磨的設備每次只能研磨一種粒徑精度的樣品,樣品的粒徑精度變化時通常需要更換研磨頭。
發明內容
針對現有技術中存在不足,本發明提供了一種可調式精準破碎研磨組件,可實現粗磨和精磨,并能夠在不更換研磨錘的情況下調節物料精磨粒徑尺寸。
本發明是通過以下技術手段實現上述技術目的的。
一種可調式精準破碎研磨組件,包括:
驅動源,用于提供動力;
升降機構,與所述驅動源連接,所述升降機構可使所述驅動源升降;
破碎研磨錘,安裝于所述驅動源下方,所述驅動源可驅動所述破碎研磨錘繞自身軸線轉動,所述破碎研磨錘包括:
上端體,為圓臺狀,所述上端體的外徑沿從上至下的方向依次增大;
下端體,為圓臺狀,所述下端體的外徑沿從上至下的方向依次減小,所述下端體的頂端與所述上端體的底端連接;
推料體,為圓柱狀體,所述推料體的頂端與所述下端體的底端連接;及
若干切割刀體,安裝于所述上端體的外側面;
破碎研磨筒,所述破碎研磨筒的頂端設有進料口,底端設有出料口,所述破碎研磨筒內包括從上至下依次同軸設置的:
第一圓臺腔室,所述第一圓臺腔室的內徑從上至下依次減小,所述第一圓臺腔室的壁面為切割破碎面,所述第二圓臺腔室的壁面與軸線的夾角為β;
第二圓臺腔室,所述第二圓臺腔室的內徑從上至下依次減小,所述第二圓臺腔室的壁面為破碎精磨面,所述第二圓臺腔室的壁面與軸線的夾角為α,α<β;及
第二圓柱腔室;
其中,所述破碎研磨錘位于所述破碎研磨筒內,且所述破碎研磨錘與所述破碎研磨筒同軸,所述推料體的直徑小于所述第二圓柱腔室的內徑,所述下端體的最小直徑不小于所述第二圓柱腔室的內徑。
優選地,推料體的外表面設有雙螺紋結構。
優選地,所述下端體的側面與軸線的夾角為α。
優選地,所述驅動源為電機,所述上端體的頂端設有連接軸,所述電機的電機軸通過聯軸器與所述連接軸連接。
優選地,所述的破碎研磨錘為中空結構。
優選地,還包括上端蓋,所述上端蓋設置于所述進料口上。
優選地,若干所述切割刀體沿圓周方向均布于所述上端體的外側面。
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