[發(fā)明專利]一種標(biāo)志物的空間坐標(biāo)確定方法及裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010038692.4 | 申請日: | 2020-01-14 |
| 公開(公告)號: | CN113129437A | 公開(公告)日: | 2021-07-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 楊帥 | 申請(專利權(quán))人: | 北京地平線機(jī)器人技術(shù)研發(fā)有限公司 |
| 主分類號: | G06T17/05 | 分類號: | G06T17/05;G06T19/20;G06T7/33 |
| 代理公司: | 北京嘉科知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 11687 | 代理人: | 楊波 |
| 地址: | 100086 北京*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 標(biāo)志 空間 坐標(biāo) 確定 方法 裝置 | ||
1.一種標(biāo)志物的空間坐標(biāo)確定方法,包括:
確定標(biāo)志物的參考點(diǎn)在當(dāng)前幀圖像上的第一像素坐標(biāo);
根據(jù)所述第一像素坐標(biāo),確定所述標(biāo)志物的參考點(diǎn)在第一空間坐標(biāo)系中的第一空間坐標(biāo);
確定所述標(biāo)志物的參考點(diǎn)在當(dāng)前幀圖像對應(yīng)的后續(xù)幀圖像上的第二像素坐標(biāo);
獲得所述第一空間坐標(biāo)投影到所述后續(xù)幀圖像上的第三像素坐標(biāo);
根據(jù)所述第一空間坐標(biāo)、第二像素坐標(biāo)和第三像素坐標(biāo),確定所述標(biāo)志物的參考點(diǎn)的第二空間坐標(biāo)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述方法,其中,所述標(biāo)志物的參考點(diǎn)位于地面上,所述根據(jù)所述第一像素坐標(biāo),確定所述標(biāo)志物的參考點(diǎn)在第一空間坐標(biāo)系中的第一空間坐標(biāo)包括:
對所述第一像素坐標(biāo)進(jìn)行逆透視變換,獲得所述標(biāo)志物的參考點(diǎn)在第二空間坐標(biāo)系中的第三空間坐標(biāo);
根據(jù)所述第三空間坐標(biāo),和所述當(dāng)前幀圖像的相機(jī)位姿,確定所述第一空間坐標(biāo)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述方法,其中,所述根據(jù)所述第一空間坐標(biāo)、第二像素坐標(biāo)和第三像素坐標(biāo)進(jìn)行計(jì)算,確定所述第二空間坐標(biāo)包括:
獲取所述第一空間坐標(biāo)系的原點(diǎn)與地面之間的距離以及地面法向量;
根據(jù)所述第一空間坐標(biāo)、第二像素坐標(biāo)、第三像素坐標(biāo)、所述第一空間坐標(biāo)系的原點(diǎn)與地面之間的距離以及地面法向量,確定誤差函數(shù);
調(diào)整所述第一空間坐標(biāo),以調(diào)整所述誤差函數(shù)的誤差值;
若所述誤差函數(shù)的誤差值滿足預(yù)設(shè)條件,將調(diào)整后的第一空間坐標(biāo)確定為所述第二空間坐標(biāo)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述方法,其中,所述根據(jù)所述第一空間坐標(biāo)、第二像素坐標(biāo)、第三像素坐標(biāo)、所述第一空間坐標(biāo)系的原點(diǎn)與地面之間的距離以及地面法向量,確定誤差函數(shù)包括:
將參考點(diǎn)對應(yīng)的所述第二像素坐標(biāo)和第三像素坐標(biāo)匹配;
根據(jù)匹配成功的第二像素坐標(biāo)、第三像素坐標(biāo)、第一空間坐標(biāo)、所述第一空間坐標(biāo)系的原點(diǎn)與地面之間的距離以及地面法向量,確定誤差函數(shù)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述方法,其中所述根據(jù)匹配成功的第二像素坐標(biāo)、第三像素坐標(biāo)、第一空間坐標(biāo)、所述第一空間坐標(biāo)系的原點(diǎn)與地面之間的距離以及地面法向量,確定誤差函數(shù)包括:
根據(jù)所述匹配成功的第二像素坐標(biāo)和第三像素坐標(biāo)確定重投影誤差;
根據(jù)所述第一空間坐標(biāo)、所述第一空間坐標(biāo)系的原點(diǎn)與地面之間的距離以及地面法向量確定所述參考點(diǎn)到地面的約束距離;
根據(jù)所述重投影誤差和所述參考點(diǎn)到地面的約束距離確定所述誤差函數(shù)。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述方法,其中,所述將參考點(diǎn)對應(yīng)的所述第二像素坐標(biāo)和第三像素坐標(biāo)匹配包括:
根據(jù)所述第二像素坐標(biāo)和所述第三像素坐標(biāo)的距離,確定所述第二像素坐標(biāo)和所述第三像素坐標(biāo)的第一匹配對。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述方法,其中,所述根據(jù)所述第二像素坐標(biāo)和所述第三像素坐標(biāo)的距離,確定所述第二像素坐標(biāo)和所述第三像素坐標(biāo)的第一匹配對包括:
根據(jù)所述第二像素坐標(biāo)和所述第三像素坐標(biāo)的距離,確定所述第二像素坐標(biāo)和所述第三像素坐標(biāo)的第二匹配對;
利用預(yù)設(shè)的單應(yīng)矩陣對所述第二匹配對進(jìn)行計(jì)算,從所述第二匹配對確定第一匹配對。
8.一種標(biāo)志物的空間坐標(biāo)確定裝置,包括:
第一像素坐標(biāo)確定模塊,用于確定標(biāo)志物的參考點(diǎn)在當(dāng)前幀圖像上的第一像素坐標(biāo);
第一空間坐標(biāo)確定模塊,用于根據(jù)所述第一像素坐標(biāo),確定所述標(biāo)志物的參考點(diǎn)在第一空間坐標(biāo)系中的第一空間坐標(biāo);
第二像素坐標(biāo)確定模塊,用于確定所述標(biāo)志物的參考點(diǎn)在當(dāng)前幀圖像對應(yīng)的后續(xù)幀圖像上的第二像素坐標(biāo);
第三像素坐標(biāo)確定模塊,用于獲得所述第一空間坐標(biāo)投影到所述后續(xù)幀圖像上的第三像素坐標(biāo);
第二空間坐標(biāo)確定模塊,用于根據(jù)所述第一空間坐標(biāo)、第二像素坐標(biāo)和第三像素坐標(biāo),確定第二空間坐標(biāo)。
9.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),所述存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序,所述計(jì)算機(jī)程序用于執(zhí)行上述權(quán)利要求1-7任一所述的標(biāo)志物的空間坐標(biāo)確定方法。
10.一種電子設(shè)備,所述電子設(shè)備包括:
處理器;
用于存儲(chǔ)所述處理器可執(zhí)行指令的存儲(chǔ)器;
所述處理器,用于從所述存儲(chǔ)器中讀取所述可執(zhí)行指令,并執(zhí)行所述指令以實(shí)現(xiàn)上述權(quán)利要求1-7任一所述的標(biāo)志物的空間坐標(biāo)確定方法。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于北京地平線機(jī)器人技術(shù)研發(fā)有限公司,未經(jīng)北京地平線機(jī)器人技術(shù)研發(fā)有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202010038692.4/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





