[發(fā)明專利]一種電磁騷擾測(cè)試系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010038098.5 | 申請(qǐng)日: | 2020-01-14 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111025075B | 公開(公告)日: | 2022-06-21 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 安鑫 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 浙江吉利汽車研究院有限公司;浙江吉利控股集團(tuán)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/00 | 分類號(hào): | G01R31/00;G01R1/30 |
| 代理公司: | 上海波拓知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31264 | 代理人: | 孫燕娟 |
| 地址: | 317000 *** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 電磁 騷擾 測(cè)試 系統(tǒng) | ||
本發(fā)明提供一種電磁騷擾測(cè)試系統(tǒng),用于對(duì)被測(cè)設(shè)備進(jìn)行電磁干擾測(cè)試,包括耦合去耦網(wǎng)絡(luò)和供電設(shè)備,所述耦合去耦網(wǎng)絡(luò)包括耦合電路和去耦電路,所述耦合電路連接在所述被測(cè)設(shè)備和所述去耦電路之間以輸入干擾信號(hào),所述供電設(shè)備與所述耦合電路并聯(lián)連接以提供測(cè)試電壓至所述被測(cè)設(shè)備。本發(fā)明提供的電磁騷擾測(cè)試系統(tǒng),在功率器件的電磁兼容測(cè)試中將供電電壓與耦合單元并聯(lián)接入被測(cè)設(shè)備,避免諧振造成過壓現(xiàn)象,保障了電磁兼容測(cè)試的順利進(jìn)行,提高了用戶體驗(yàn)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及電磁兼容技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及一種電磁騷擾測(cè)試系統(tǒng)。
背景技術(shù)
在電磁兼容測(cè)試中,目前常規(guī)的測(cè)試方法是將供電電壓串聯(lián)接入耦合去耦網(wǎng)絡(luò),先由耦合去耦網(wǎng)絡(luò)中的去耦單元對(duì)供電電壓去耦,然后由耦合去耦網(wǎng)絡(luò)中的耦合單元對(duì)供電電壓耦合進(jìn)干擾信號(hào),最后接入被測(cè)設(shè)備進(jìn)行測(cè)試。
在對(duì)功率器件的測(cè)試中發(fā)現(xiàn),當(dāng)上機(jī)位控制被測(cè)設(shè)備開始運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí),經(jīng)常2-5秒左右就發(fā)生被測(cè)設(shè)備報(bào)過壓故障,造成測(cè)試異常中斷,無法進(jìn)行。
經(jīng)研究總結(jié)發(fā)現(xiàn),這一現(xiàn)象大多發(fā)生在帶有開關(guān)電源、IGBT以及MOS的功率器件上,而該種樣件一般會(huì)在端口加入大電容、電感進(jìn)行濾波,并且因?yàn)榭臻g限制,電容與負(fù)載之間的線束較長,導(dǎo)致引線電感較長,在大電流沖擊下,電容電感與耦合去耦網(wǎng)絡(luò)中的去耦單元串并聯(lián)導(dǎo)致震蕩幅值及紋波電壓幅值增大,超過樣件檢測(cè)電壓閥值,產(chǎn)生諧振造成過壓現(xiàn)象。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種電磁騷擾測(cè)試系統(tǒng),在功率器件的電磁兼容測(cè)試中可以避免諧振造成過壓現(xiàn)象。
首先,本發(fā)明提供了一種電磁騷擾測(cè)試系統(tǒng),用于對(duì)被測(cè)設(shè)備進(jìn)行電磁干擾測(cè)試,包括耦合去耦網(wǎng)絡(luò)和供電設(shè)備,所述耦合去耦網(wǎng)絡(luò)包括耦合電路和去耦電路,所述耦合電路連接在所述被測(cè)設(shè)備和所述去耦電路之間以輸入干擾信號(hào),所述供電設(shè)備與所述耦合電路并聯(lián)連接以提供測(cè)試電壓至所述被測(cè)設(shè)備。
進(jìn)一步地,所述電磁騷擾測(cè)試系統(tǒng)還包括濾噪設(shè)備,所述供電設(shè)備經(jīng)所述濾噪設(shè)備與所述耦合電路并聯(lián)連接。
進(jìn)一步地,所述濾噪設(shè)備為有源濾波器。
進(jìn)一步地,所述濾噪設(shè)備為磁環(huán)或去耦鉗。
進(jìn)一步地,所述磁環(huán)或去耦鉗的磁性材料選自包括非晶磁、粉芯磁、軟磁以及永磁鐵氧體中的一種或多種。
進(jìn)一步地,所述非晶磁材料選自包括硅鋼片、玻莫合金、非晶、納米晶中的一種或多種。
進(jìn)一步地,所述粉芯磁材料選自包括鐵粉芯、鐵鎳鉬合金、高磁通鐵鎳合金、鐵硅鋁合金、鐵硅合金中的一種或多種。
進(jìn)一步地,所述軟磁材料選自包括鐵硅合金以及軟磁鐵氧體中的一種或多種。
進(jìn)一步地,所述永磁鐵氧體材料選自包括錳鋅鐵氧體以及鎳鋅鐵氧體中的一種或多種。
進(jìn)一步地,所述干擾信號(hào)為電快速脈沖群瞬變干擾信號(hào)或浪涌干擾信號(hào)。
本發(fā)明提供的電磁騷擾測(cè)試系統(tǒng),在功率器件的電磁兼容測(cè)試中將供電電壓與耦合單元并聯(lián)接入被測(cè)設(shè)備,避免諧振造成過壓現(xiàn)象,保障了電磁兼容測(cè)試的順利進(jìn)行,提高了用戶體驗(yàn)。
附圖說明
圖1為本發(fā)明一實(shí)施例電磁騷擾測(cè)試系統(tǒng)接線示意圖一。
圖2為本發(fā)明一實(shí)施例電磁騷擾測(cè)試系統(tǒng)接線示意圖二。
圖3為本發(fā)明一實(shí)施例電磁騷擾測(cè)試系統(tǒng)接線示意圖三。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合附圖和實(shí)施例,對(duì)本發(fā)明的具體實(shí)施方式作進(jìn)一步詳細(xì)描述。以下實(shí)施例用于說明本發(fā)明,但不用來限制本發(fā)明的范圍。
本發(fā)明提供了一種電磁騷擾測(cè)試系統(tǒng)。圖1為本發(fā)明一實(shí)施例電磁騷擾測(cè)試系統(tǒng)接線示意圖一。
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- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
- 自動(dòng)化測(cè)試方法和裝置
- 一種應(yīng)用于視頻點(diǎn)播系統(tǒng)的測(cè)試裝置及測(cè)試方法
- Android設(shè)備的測(cè)試方法及系統(tǒng)
- 一種工廠測(cè)試方法、系統(tǒng)、測(cè)試終端及被測(cè)試終端
- 一種軟件測(cè)試的方法、裝置及電子設(shè)備
- 測(cè)試方法、測(cè)試裝置、測(cè)試設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
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