[發明專利]一種天線罩插入相位延遲測量方法有效
| 申請號： | 202010037854.2 | 申請日： | 2020-01-14 |
| 公開（公告）號： | CN111220831B | 公開（公告）日： | 2021-08-13 |
| 發明（設計）人： | 劉寧;盛賢君;潘征;張春波 | 申請（專利權）人： | 大連理工大學 |
| 主分類號： | G01R1/28 | 分類號： | G01R1/28;G01R31/00;G01N22/00 |
| 代理公司： | 大連東方專利代理有限責任公司 21212 | 代理人： | 姜威威;李洪福 |
| 地址： | 116024 遼*** | 國省代碼： | 遼寧;21 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 天線罩 插入 相位 延遲 測量方法 | ||
1.一種天線罩插入相位延遲測量方法，其特征在于：該方法包括以下步驟：
S1:調整點聚焦透鏡天線A與點聚焦透鏡天線B的位置，使聚焦透鏡天線A與點聚焦透鏡天線B焦斑重合在天線罩上,且聚焦透鏡天線A與點聚焦透鏡天線B成固定夾角，所述固定夾角為兩倍的布儒斯特角；
S2:對矢量網絡分析儀、點聚焦透鏡天線A、點聚焦透鏡天線B和穩相電纜進行預處理；
S3:設定測量條件下，矢量網絡分析儀對外表面加載有金屬反射層的天線罩焦斑位置的S21參數相位進行測量；
S4:天線罩位置、設定測量條件不變，矢量網絡分析儀對內表面加載有金屬反射層的天線罩焦斑位置的S21參數相位進行測量；
S5：通過插入相位延遲計算公式獲得插入相位延遲的大小；
所述插入相位延遲計算公式如下：
其中，IPD表示插入相位延遲，h為天線罩罩壁厚度，c為真空中光速，f為電磁波頻率，θ1為布儒斯特角。
2.根據權利要求1所述的一種天線罩插入相位延遲測量方法，其特征還在于：步驟S2中的預處理為：設置矢量網絡分析儀測量S21參數模式及時域門門限區域、進行TRL校準。
3.根據權利要求1所述的一種天線罩插入相位延遲測量方法，其特征還在于：所述金屬反射層采用銅箔或銀箔構建。
4.根據權利要求1所述的一種天線罩插入相位延遲測量方法，其特征還在于：所述設定測量如下：入射角為布儒斯特角，點聚焦透鏡天線A和點聚焦透鏡天線B為平行極化模式。
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