[發明專利]一種從已知數據序列中探查目標曲線的方法、系統及介質

有效

• 申請號: 202010037261.6
• 申請日: 2020-01-14
• 公開（公告）號: CN111191633B
• 公開（公告）日: 2023-08-22
• 發明（設計）人: 李明;胡德文
• 申請（專利權）人: 中國人民解放軍國防科技大學
• 主分類號: G06F18/2415
• 分類號: G06F18/2415;G06F18/22
• 代理公司: 湖南兆弘專利事務所(普通合伙) 43008
• 代理人: 譚武藝

本發明公開了一種從已知數據序列中探查目標曲線的方法、系統及介質，本發明通過對已知數據序列ssubgt;0/subgt;多次置亂獲得足夠多的滿足“不含目標曲線”條件的置亂副本，原始數據序列置亂之后的副本與原始數據序列擁有完全相同的數據采樣點，但采樣點的排列順序隨機，所以每個置亂副本的數據排列都不符合目標曲線波形，這些置亂副本都滿足“不含目標曲線”的條件，而計算和統計這些副本的擬合指標值，即可以得到“數據序列中不含目標曲線”條件下曲線擬合指標值分布概率密度函數的估計，從而能夠實現在得到的已知數據序列中探查目標曲線，具有客觀性好、準確性高、操作方法簡便，步驟簡單明了，易于實現的優點。

技術領域

本發明涉及信號分析的信號探測技術，具體涉及一種從已知數據序列中探查目標曲線的方法、系統及介質，可實現在得到的已知數據序列中探查目標曲線。

背景技術

在信號分析領域，有時需要從測量得到的數據序列中檢驗是否含有感興趣的目標波形，也即判斷數據序列的各數據點是否按照某感興趣的波形排列。本說明書所討論的情形，如果測得數據序列含有目標波形，則數據序列可表示為目標曲線加背景噪聲；如果不存在目標波形，則數據序列僅為背景噪聲。評估某數據序列中是否存在目標曲線，可以通過評估原數據序列與目標模型的吻合程度來進行。比如將曲線擬合過程中的擬合優度作為評價指標，擬合指標越好（與目標曲線模型符合越好），則數據序列中含有目標波形的概率越大。不足的是，針對單個待檢驗的數據序列，上述方法僅能給出單個評價指標的值，無法給出客觀的假設檢驗結果。其原因主要是缺少“含有目標曲線”或“不含目標曲線”每種條件下該指標值的分布概率密度；而缺少參照系，僅有單個指標值無法進行檢驗。

發明內容

本發明要解決的技術問題：針對現有技術的上述問題，提供一種從已知數據序列中探查目標曲線的方法、系統及介質，本發明通過對已知數據序列 s₀多次置亂的方法獲得足夠多的滿足“不含目標曲線”條件的置亂副本，原始數據序列置亂之后的副本與原始數據序列擁有完全相同的數據采樣點，但采樣點的排列順序隨機，所以每個置亂副本的數據排列都不符合目標曲線波形，這些置亂副本都滿足“不含目標曲線”的條件，而計算和統計這些副本的擬合指標值，即可以得到“數據序列中不含目標曲線”條件下曲線擬合指標值分布概率密度函數的估計，從而能夠實現在得到的已知數據序列中探查目標曲線。

為了解決上述技術問題，本發明采用的技術方案為：

一種從已知數據序列中探查目標曲線的方法，實施步驟包括：

1）計算已知數據序列 s₀和目標曲線的相似度 γ₀；從已知數據序列 s₀獲得 N個置亂副本 s_k，計算各個置亂副本 s_k和目標曲線的相似度 γ_k，其中 k?= ?1,2,3,…,N， N為置亂副本數量；