[發明專利]一種用于測量外徑的高精度檢測裝置及檢測方法

在審

• 申請號: 202010036604.7
• 申請日: 2020-01-14
• 公開（公告）號: CN113188410A
• 公開（公告）日: 2021-07-30
• 發明（設計）人: 靳立輝;劉旭光;夏喆
• 申請（專利權）人: 天津環博科技有限責任公司
• 主分類號: G01B5/08
• 分類號: G01B5/08
• 代理公司: 天津諾德知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 12213
• 代理人: 欒志超

1.一種用于測量外徑的高精度檢測裝置，其特征在于：包括基板、百分表和定位滑塊，所述百分表和所述定位滑塊分別設置在所述基板的兩端，所述定位滑塊上設有定位柱，所述定位柱與所述百分表的測頭相對并同軸設置，所述百分表通過百分表固定塊固定在所述基板的一端。

2.根據權利要求1所述的用于測量外徑的高精度檢測裝置，其特征在于：所述定位滑塊通過螺栓固定設置在所述基板另一端。

3.根據權利要求1所述的用于測量外徑的高精度檢測裝置，其特征在于：所述基板上設有定位孔，螺栓穿過所述定位孔將所述定位滑塊固定在所述基板上，所述定位孔包括直線排列的多個。

4.根據權利要求1所述的用于測量外徑的高精度檢測裝置，其特征在于：所述定位滑塊底部向下突出設有滑塊凸臺，所述滑塊凸臺上設有螺紋固定孔，所述基板上表面向下設有定位凹槽，所述定位凹槽形狀與所述滑塊凸臺匹配，所述基板上還設有螺桿凹槽，所述螺桿凹槽連通所述定位凹槽，所述螺桿凹槽與固定螺栓螺桿形狀匹配，所述螺桿凹槽方向與所述螺紋固定孔方向一致。

5.根據權利要求4所述的用于測量外徑的高精度檢測裝置，其特征在于：所述螺紋固定孔設置在所述滑塊凸臺底部，所述螺桿凹槽設置在所述基板的底部。

6.根據權利要求4所述的用于測量外徑的高精度檢測裝置，其特征在于：所述螺紋固定孔設置在所述滑塊凸臺側面，所述螺桿凹槽設置在所述基板的側面。

7.根據權利要求4所述的用于測量外徑的高精度檢測裝置，其特征在于：所述螺桿凹槽外側設有沉頭凹槽，所述沉頭凹槽與所述螺桿凹槽連通，所述沉頭凹槽與所述固定螺桿沉頭形狀匹配。

8.根據權利要求4-7中任一所述的用于測量外徑的高精度檢測裝置，其特征在于：還包括校正條，所述校正條能夠放置到所述百分表的測頭與所述定位柱之間。

9.根據權利要求8所述的用于測量外徑的高精度檢測裝置，其特征在于：所述基板上設有兩個或兩個以上的定位銷，多個所述定位銷組成的直線與所述百分表的測頭到定位柱的軸線平行。

10.權利要求1-9中任一所述的用于測量外徑的高精度檢測裝置的檢測方法，其特征在于：將待測器件一端抵在所述定位柱上，推動所述待測器件以接觸所述定位柱一端為圓心圓周轉動，所述待測器件的另一端劃過所述百分表，所述百分表上的最大讀數就是待測器件的尺寸；

優選地，用于測量圓形器件的直徑或橢圓形器件的長軸或短軸長度。