[發明專利]顯示基板及其制作方法、檢測方法、顯示裝置

有效

• 申請號: 202010032440.0
• 申請日: 2020-01-13
• 公開（公告）號: CN111211113B
• 公開（公告）日: 2022-04-15
• 發明（設計）人: 張祎楊;張陶然;趙廣洲;周洋
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司;成都京東方光電科技有限公司
• 主分類號: H01L23/544
• 分類號: H01L23/544;H01L27/12;H01L21/84;G09G3/00
• 代理公司: 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243
• 代理人: 許靜;劉偉

1.一種顯示基板，包括顯示區域、位于顯示區域周邊的走線區以及用于進行點燈檢測的電學檢測區域，所述走線區包括設置有多個綁定引腳的綁定引腳區域，其特征在于，所述顯示基板還包括：

與所述多個綁定引腳一一對應的開關薄膜晶體管，每一所述開關薄膜晶體管的第一極與對應的綁定引腳連接；

測試數據線，所述測試數據線與多個所述開關薄膜晶體管的第二極均連接，所述第一極為源極和漏極中的一者，所述第二極為源極和漏極中的另一者；

第一控制開關，所述第一控制開關與多個所述開關薄膜晶體管的柵極連接，用于向開關薄膜晶體管的柵極輸入高電平信號或低電平信號；

第二控制開關，所述第二控制開關與多個所述開關薄膜晶體管的柵極連接，用于向開關薄膜晶體管的柵極輸入高電平信號或低電平信號，所述第二控制開關與所述第一控制開關之間的距離大于0.1mm；

所述電學檢測區域的左右兩側各設置一個第一控制開關和一個測試數據線；

所述綁定引腳區域的左右兩側各設置一個所述第二控制開關。

2.一種顯示基板的檢測方法，其特征在于，應用于如權利要求1所述的顯示基板，所述檢測方法包括：

通過所述第一控制開關控制所有的開關薄膜晶體管打開；

向所述測試數據線輸入電信號，若顯示基板顯示出現異常，則判斷所述測試引腳出現損傷。

3.根據權利要求2所述的顯示基板的檢測方法，其特征在于，所述檢測方法還包括：

向所述測試數據線輸入電信號后，通過所述第二控制開關控制所有的開關薄膜晶體管關閉。

4.一種顯示裝置，其特征在于，包括如權利要求1所述的顯示基板。

5.一種顯示基板的制作方法，所述顯示基板包括顯示區域、位于顯示區域周邊的走線區以及用于進行點燈檢測的電學檢測區域，所述走線區包括設置有多個綁定引腳的綁定引腳區域，其特征在于，所述制作方法包括：

形成與所述多個綁定引腳一一對應的開關薄膜晶體管，每一所述開關薄膜晶體管的第一極與對應的綁定引腳連接；

形成測試數據線，所述測試數據線與多個所述開關薄膜晶體管的第二極均連接，所述第一極為源極和漏極中的一者，所述第二極為源極和漏極中的另一者；

形成第一控制開關，所述第一控制開關與多個所述開關薄膜晶體管的柵極連接，用于向開關薄膜晶體管的柵極輸入高電平信號或低電平信號；

形成第二控制開關，所述第二控制開關與多個所述開關薄膜晶體管的柵極連接，用于向開關薄膜晶體管的柵極輸入高電平信號或低電平信號，所述第二控制開關與所述第一控制開關之間的距離大于0.1mm；

在所述電學檢測區域的左右兩側各形成一個第一控制開關和一個測試數據線；

在所述綁定引腳區域的左右兩側各形成一個所述第二控制開關。