[發(fā)明專利]一種內(nèi)存泄露的檢測(cè)方法、裝置、介質(zhì)和電子設(shè)備有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010032138.5 | 申請(qǐng)日: | 2020-01-13 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111258797B | 公開(公告)日: | 2023-04-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉昭 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京字節(jié)跳動(dòng)網(wǎng)絡(luò)技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06F11/07 | 分類號(hào): | G06F11/07;G06F16/11 |
| 代理公司: | 北京國(guó)昊天誠(chéng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11315 | 代理人: | 馬瑞 |
| 地址: | 100041 北京市石景山區(qū)*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 內(nèi)存 泄露 檢測(cè) 方法 裝置 介質(zhì) 電子設(shè)備 | ||
本發(fā)明提供了一種內(nèi)存泄露的檢測(cè)方法、裝置、介質(zhì)和電子設(shè)備,其中,所述檢測(cè)方法包括:對(duì)內(nèi)存快照文件進(jìn)行解析,解析出對(duì)應(yīng)的內(nèi)存信息;對(duì)內(nèi)存信息進(jìn)行分析,得到對(duì)象集合,對(duì)象集合包括由任意一項(xiàng)活動(dòng)對(duì)象和任意一項(xiàng)碎片對(duì)象組成的對(duì)象集合;若對(duì)象集合中的任意一項(xiàng)對(duì)象滿足配置的內(nèi)存泄露條件時(shí),則任意一項(xiàng)對(duì)象為內(nèi)存泄露對(duì)象。本發(fā)明通過配置的精準(zhǔn)內(nèi)存泄露條件,可以精準(zhǔn)地判斷出任意一項(xiàng)對(duì)象是否為內(nèi)存泄露對(duì)象,這樣,提高了判斷內(nèi)存泄露對(duì)象的精準(zhǔn)度,避免了誤判。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及計(jì)算機(jī)技術(shù)領(lǐng)域,具體而言,涉及一種內(nèi)存泄露的檢測(cè)方法、裝置、介質(zhì)和電子設(shè)備。
背景技術(shù)
應(yīng)用程序經(jīng)常會(huì)有內(nèi)存問題。若內(nèi)存使用不當(dāng)時(shí),并不會(huì)導(dǎo)致應(yīng)用程序的進(jìn)程立即崩潰,而往往具有較長(zhǎng)的潛伏周期。內(nèi)存問題往往由于路徑深、依賴交互方式,因而,相比崩潰問題而言,更加難以定位出導(dǎo)致內(nèi)存出現(xiàn)問題的原因。
目前,通過獲取內(nèi)存快照,對(duì)內(nèi)存快照進(jìn)行分析,得到相應(yīng)的分析結(jié)果,分析出內(nèi)存泄露是活動(dòng)泄露,還是碎片泄露。
目前,往往將所有活動(dòng)對(duì)象的引用鏈羅列出來,以及將所有碎片對(duì)象的引用鏈羅列出來,這樣,排查內(nèi)存問題的工作量不僅很大,而且是不合理的。因?yàn)椋瑢?duì)于部分活動(dòng)對(duì)象或部分碎片對(duì)象而言,展示在前臺(tái)界面就需要存在,而這些并不是內(nèi)存泄露問題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種內(nèi)存泄露的檢測(cè)方法、裝置、介質(zhì)和電子設(shè)備,能夠解決上述提到的至少一個(gè)技術(shù)問題。具體方案如下:
根據(jù)本發(fā)明的具體實(shí)施方式,第一方面,本發(fā)明提供一種內(nèi)存泄露的檢測(cè)方法,包括:
對(duì)內(nèi)存快照文件進(jìn)行解析,解析出對(duì)應(yīng)的內(nèi)存信息;
對(duì)所述內(nèi)存信息進(jìn)行分析,得到對(duì)象集合,所述對(duì)象集合包括由任意一項(xiàng)活動(dòng)對(duì)象和任意一項(xiàng)碎片對(duì)象組成的對(duì)象集合;
若所述對(duì)象集合中的任意一項(xiàng)對(duì)象滿足配置的內(nèi)存泄露條件時(shí),則任意一項(xiàng)對(duì)象為內(nèi)存泄露對(duì)象。
根據(jù)本發(fā)明的具體實(shí)施方式,第二方面,本發(fā)明提供一種內(nèi)存泄露的檢測(cè)裝置,包括:
解析單元,用于對(duì)內(nèi)存快照文件進(jìn)行解析,解析出對(duì)應(yīng)的內(nèi)存信息;
分析單元,用于對(duì)所述解析單元解析出的所述內(nèi)存信息進(jìn)行分析,得到對(duì)象集合,所述對(duì)象集合包括由任意一項(xiàng)活動(dòng)對(duì)象和任意一項(xiàng)碎片對(duì)象組成的對(duì)象集合;
處理單元,用于若所述分析單元分析出的所述對(duì)象集合中的任意一項(xiàng)對(duì)象滿足配置的內(nèi)存泄露條件,則任意一項(xiàng)對(duì)象為內(nèi)存泄露對(duì)象。
根據(jù)本發(fā)明的具體實(shí)施方式,第三方面,本發(fā)明提供一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序,所述程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如上任一項(xiàng)所述的內(nèi)存泄露的檢測(cè)方法。
根據(jù)本發(fā)明的具體實(shí)施方式,第四方面,本發(fā)明提供一種電子設(shè)備,包括:一個(gè)或多個(gè)處理器;存儲(chǔ)裝置,用于存儲(chǔ)一個(gè)或多個(gè)程序,當(dāng)所述一個(gè)或多個(gè)程序被所述一個(gè)或多個(gè)處理器執(zhí)行時(shí),使得所述一個(gè)或多個(gè)處理器實(shí)現(xiàn)如上任一項(xiàng)所述的內(nèi)存泄露的檢測(cè)方法。
本發(fā)明實(shí)施例的上述方案與現(xiàn)有技術(shù)相比,至少具有以下有益效果:本發(fā)明實(shí)施例提供一種內(nèi)存泄露的檢測(cè)方法、裝置、介質(zhì)和電子設(shè)備,通過配置的精準(zhǔn)內(nèi)存泄露條件,可以精準(zhǔn)地判斷出任意一項(xiàng)對(duì)象是否為內(nèi)存泄露對(duì)象,這樣,提高了判斷內(nèi)存泄露對(duì)象的精準(zhǔn)度,避免了誤判。
附圖說明
此處的附圖被并入說明書中并構(gòu)成本說明書的一部分,示出了符合本發(fā)明的實(shí)施例,并與說明書一起用于解釋本發(fā)明的原理。顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例,對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。在附圖中:
圖1示出了根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的內(nèi)存泄露的檢測(cè)方法的方法流程圖;
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G06F11-07 .響應(yīng)錯(cuò)誤的產(chǎn)生,例如,容錯(cuò)
G06F11-22 .在準(zhǔn)備運(yùn)算或者在空閑時(shí)間期間內(nèi),通過測(cè)試作故障硬件的檢測(cè)或定位
G06F11-28 .借助于檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)程序或通過處理作錯(cuò)誤檢測(cè)、錯(cuò)誤校正或監(jiān)控
G06F11-30 .監(jiān)控
G06F11-36 .通過軟件的測(cè)試或調(diào)試防止錯(cuò)誤
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
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