[發明專利]一種觸控顯示模組一體化電性能測試其裝置

在審

• 申請號: 202010030850.1
• 申請日: 2020-01-13
• 公開（公告）號: CN111077436A
• 公開（公告）日: 2020-04-28
• 發明（設計）人: 鄭琦林;劉月豹;熊立軍;廖曉芮;張陽;葉飛
• 申請（專利權）人: 安徽方興光電新材料科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 昆明合眾智信知識產權事務所 53113
• 代理人: 周勇

本發明公開了一種觸控顯示模組一體化電性能測試裝置，包括觸摸屏測試板和顯示模組測試架，所述一體轉接電路板上對稱設置有兩組完全相同的引腳排，每組引腳排設置有40個，依次分別為LED?、LED+、RST、GND、TE、D3N、CAB、D3P、ID、GND、AVDD、D2N、VGH、D2P、VGL、GND、VCOM、CKN、NC、CKP、NC、GND、NC、D1N、NC、D1P、NC、GND、NC、DON、NC、DOP、VSN、GND、VSP、VCC、GND、1.8V、5V。本發明將電容式觸摸屏與顯示模組通過一體測試器件轉接電路板進行同步電測，有效的提高作業人員進行電學性能的測試效率，杜絕兩次電測工序，提高整體的生產測試效率的同時節省人工成本；減少電測次數的同時也降低了產品因周轉，測試環境變化導致的外觀、功能損傷的風險。

技術領域

本發明涉及光電顯示技術領域，具體為一種觸控顯示模組一體化電性能測試裝置。

背景技術

現有的觸控顯示模組產品電測工序大都是電容式觸摸屏與顯示模組分開進行電測，需要進行獨立的兩次測試，而且因為兩部分是獨立的驅動系統，且電測程序、方法均不相同，導致工藝路線分開進行，浪費人力成本的同時效率低下。

發明內容

本發明的目的在于提供一種觸控顯示模組一體化電性能測試裝置，以解決上述背景技術中提出的問題。

為實現上述目的，本發明提供如下技術方案：

一種觸控顯示模組一體化電性能測試裝置，包括觸摸屏測試板和顯示模組測試架，所述觸摸屏測試板和顯示模組測試架均電性連接于一體轉接電路板，所述一體轉接電路板電性連接有觸控顯示一體模組，所述觸控顯示一體模組包括觸摸屏和顯示模組；

所述一體轉接電路板上對稱設置有兩組完全相同的引腳排，每組引腳排設置有40個，依次分別為LED-、LED+、RST、GND、TE、D3N、CAB、D3P、ID、GND、AVDD、D2N、VGH、D2P、VGL、GND、VCOM、CKN、NC、CKP、NC、GND、NC、D1N、NC、D1P、NC、GND、NC、DON、NC、DOP、VSN、GND、VSP、VCC、GND、1.8V、5V，所述顯示模組測試架上的1-40個引腳依次連接在上側引腳排上；

兩組所述引腳排之間設置有5V、10VCC、VCC、VSP、VSN、VGL、VGH、AVDD、Reset、BL-、BL+，用來上、下連接兩組引腳排的對應引腳；

所述一體轉接電路板一側設置有8個引腳，分別為SCL、SDA、RST-T、TX-P、RX-P、ID2、IO2、GND,其中，引腳SCL、SDA、RST-T、TX-P、RX-P、ID2、IO2分別連接在下側引腳排的七個NC引腳上，所述觸摸屏測試板上的1-8個引腳依次連接在一體轉接電路板一側的8個引腳上。

優選的，所述觸控顯示一體模組的1-40個引腳分別對應連接在所述一體轉接電路板上。

與現有技術相比，本發明的有益效果是：

本發明將電容式觸摸屏與顯示模組通過一體測試器件轉接電路板進行同步電測，有效的提高作業人員進行電學性能的測試效率，杜絕兩次電測工序，提高整體的生產測試效率的同時節省人工成本；減少電測次數的同時也降低了產品因周轉，測試環境變化導致的外觀、功能損傷的風險。

附圖說明

圖1為本發明的測試裝置整體結構示意圖；

圖2為本發明的一體轉接電路板的正面引腳結構連接示意圖；

圖3為本發明的一體轉接電路板的背面引腳結構連接示意圖；

圖4為本發明的顯示模組測試架引腳示意圖；

圖5為本發明的觸摸屏測試板引腳示意圖；

圖6為本發明的觸控顯示一體模組引腳示意圖；