[發明專利]EPMA-WDX的全巖礦物識別與平面成像方法及裝置

在審

• 申請號: 202010030243.5
• 申請日: 2020-01-13
• 公開（公告）號: CN111189864A
• 公開（公告）日: 2020-05-22
• 發明（設計）人: 秦玉娟;胡安平;呂玉珍;胡園園;王慧
• 申請（專利權）人: 中國石油天然氣股份有限公司
• 主分類號: G01N23/20
• 分類號: G01N23/20
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 孫乳筍;周永君

本發明提供了一種EPMA?WDX的全巖礦物識別與平面成像方法及裝置，包括：對樣品光薄片的組成元素進行WDX面掃描分析獲得面掃描圖像；根據面掃描圖像篩選出無法確定礦物類型的樣品光薄片；對無法確定礦物類型的樣品光薄片進行EDX及WDX分析獲得識別結果；利用識別結果對疊加處理后的面掃描圖像標定礦物類型獲得全巖礦物原位平面圖。本申請所最終形成的原位全巖礦物平面分布圖，非常準確，直觀又客觀。

技術領域

本申請屬于地質領域的實驗分析技術，具體地講，涉及一種EPMA-WDX的全巖礦物識別與平面成像方法及裝置。

背景技術

巖石礦物是一切地質現象的物質基礎與載體，因此，對其精準鑒定與識別意義重大又深遠。一般常用的光學顯微鏡分析、化學分析、光譜分析、X衍射分析等傳統分析技術在進行全巖礦物分析時，皆不同程度地存在著局限性。如光學顯微鏡分析技術，主要通過礦物在透射光的作用下所呈現出的特有光性特征來識別礦物，屬于定性分析，分析結果受分析者水平高低影響；X衍射分析也是一種常用的全巖礦物識別方法，但是為混樣分析，無法進行平面成像識別，如此種種，不一而足。在目前的現有技術中，全巖組構測試的方法主要存在三點問題：①BSEI(背散射電子圖像)中灰度相近的礦物極易混淆，點分析時易于遺漏礦物；②無法形成直觀、準確的礦物識別平面圖；③需要大量的人力操作，統計量大。

發明內容

本申請提供了一種全巖礦物識別與平面成像方法及裝置，以至少解決現有技術中采用單種分析手段容易導致遺漏，無法形成直觀準確的礦物識別平面圖且人力參與度大的問題。

根據本申請的一個方面提供了一種全巖礦物識別與平面成像的方法，包括：

對樣品光薄片的組成元素進行WDX面掃描分析獲得面掃描圖像；

根據面掃描圖像篩選出無法確定礦物類型的樣品光薄片；

對無法確定礦物類型的樣品光薄片進行EDX及WDX分析獲得識別結果；

利用識別結果對疊加處理后的面掃描圖像標定礦物類型獲得全巖礦物原位平面圖。

在一實施例中，對樣品光薄片的組成元素進行WDX面掃描分析獲得面掃描圖像，包括：

對樣品光薄片進行光學顯微鏡分析、BSEI分析及EDX分析，獲得樣品光薄片中的巖石礦物和組成元素；

根據組成元素的類型設置WDX面掃描的參數；

根據參數對組成元素進行WDX面掃描分析，獲得面掃描圖像。

在一實施例中，根據面掃描圖像篩選出無法確定礦物類型的樣品光薄片，具體包括：

分析面掃描圖像中各組成元素的富集程度及分布情況；

根據富集程度、分布情況、巖石礦物和組成元素確定樣品光薄片的礦物類型，獲得無法確定礦物類型的樣品光薄片。

在一實施例中，對無法確定礦物類型的樣品光薄片進行EDX及WDX分析獲得識別結果，包括：

將無法確定礦物類型的樣品光薄片在BSEI中放大后利用EDX點分析進行識別獲得元素類型及組成；

利用獲取的元素類型及組成建立標樣文件，對標樣文件進行WDX定量分析獲得識別結果。

在一實施例中，本申請提供的方法還包括：

根據識別結果確定樣品光薄片的礦物類型。

根據本申請的另一個方面，還提供了一種全巖礦物識別與平面成像裝置，包括：

面掃描處理單元，用于對樣品光薄片的組成元素進行WDX面掃描分析獲得面掃描圖像；

篩選單元，用于根據面掃描圖像篩選出無法確定礦物類型的樣品光薄片；