[發(fā)明專利]一種整機(jī)柜服務(wù)器的銅排供電可靠性連接檢測(cè)電路與方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010028647.0
• 申請(qǐng)日: 2020-01-11
• 公開（公告）號(hào): CN111198803B
• 公開（公告）日: 2022-08-02
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 田東順
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 蘇州浪潮智能科技有限公司
• 主分類號(hào): G06F11/30
• 分類號(hào): G06F11/30;G06F11/32;G06F1/28
• 代理公司: 濟(jì)南誠(chéng)智商標(biāo)專利事務(wù)所有限公司 37105
• 代理人: 李修杰

1.一種整機(jī)柜服務(wù)器的銅排供電可靠性連接檢測(cè)電路，其特征在于，所述電路結(jié)構(gòu)如下：

節(jié)點(diǎn)服務(wù)器通過電源連接器電連接至整機(jī)柜供電銅排1和供電銅排2；

供電銅排1、2分別電連接一個(gè)惰性金屬探針，探針通過線纜電連接到銅排，另一端電連接到節(jié)點(diǎn)服務(wù)器的銅擋；

探針與服務(wù)器的接觸點(diǎn)以及電源連接器與節(jié)點(diǎn)服務(wù)器的接觸點(diǎn)位置處的銅擋組成一組差分對(duì)，連接到差分ADC芯片的輸入通道，通過ADC芯片采集電源連接器的接觸壓降；

所述差分ADC芯片電連接有BMC。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種整機(jī)柜服務(wù)器的銅排供電可靠性連接檢測(cè)電路，其特征在于，所述電源連接器的接觸壓降為探針與服務(wù)器的接觸點(diǎn)位置處的電壓與電源連接器與節(jié)點(diǎn)服務(wù)器的接觸點(diǎn)位置處的電壓的差。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種整機(jī)柜服務(wù)器的銅排供電可靠性連接檢測(cè)電路，其特征在于，所述BMC芯片通過SPI接口與差分ADC芯片進(jìn)行通信，BMC還電連接有EEPROM存儲(chǔ)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種整機(jī)柜服務(wù)器的銅排供電可靠性連接檢測(cè)電路，其特征在于，所述差分ADC芯片為AD7380。

5.一種利用權(quán)利要求1所述的檢測(cè)電路進(jìn)行整機(jī)柜服務(wù)器的銅排供電可靠性連接的檢測(cè)方法，其特征在于，所述方法包括以下步驟：

S1、利用差分ADC采集探針與服務(wù)器的接觸點(diǎn)以及電源連接器與節(jié)點(diǎn)服務(wù)器的接觸點(diǎn)位置處的電壓壓降，計(jì)算實(shí)際接觸電阻阻值；

S2、通過同型號(hào)供電銅排和電源連接器搭建測(cè)試環(huán)境，利用實(shí)驗(yàn)室測(cè)試獲取標(biāo)準(zhǔn)接觸電阻阻值；

S3、比對(duì)實(shí)際接觸電阻阻值與標(biāo)準(zhǔn)接觸電阻阻值，根據(jù)比對(duì)結(jié)果判定電源連接器的接觸狀態(tài)。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的整機(jī)柜服務(wù)器的銅排供電可靠性連接的檢測(cè)方法，其特征在于，所述接觸電阻阻值的計(jì)算通過BMC芯片完成，BMC芯片每隔100ms執(zhí)行一次接觸電阻的計(jì)算。

7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的整機(jī)柜服務(wù)器的銅排供電可靠性連接的檢測(cè)方法，其特征在于，所述步驟S3具體為：

將計(jì)算出的接觸電阻值R₁與標(biāo)準(zhǔn)電阻值R_ref進(jìn)行除法運(yùn)算：

n＝R₁/R_ref

當(dāng)n＝2時(shí)，判定觸點(diǎn)接觸正常且狀態(tài)優(yōu)秀；

當(dāng)2n＝5時(shí)，判定觸點(diǎn)接觸正常且狀態(tài)良好；

當(dāng)5n＝10時(shí)，判定觸點(diǎn)接觸正常且狀態(tài)差；

當(dāng)n10時(shí)，判定觸點(diǎn)接觸異常。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的整機(jī)柜服務(wù)器的銅排供電可靠性連接的檢測(cè)方法，其特征在于，當(dāng)觸點(diǎn)接觸異常時(shí)，BMC在日志中記錄連接器異常并觸發(fā)告警信號(hào)，節(jié)點(diǎn)服務(wù)器后部告警燈常亮。