[發(fā)明專利]基于羅德里格矩陣的相機(jī)檢校方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010028104.9 | 申請日: | 2020-01-10 |
| 公開(公告)號: | CN111854795A | 公開(公告)日: | 2020-10-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉明河;賈波;孫新城;馬泉池;韓玉成 | 申請(專利權(quán))人: | 通用技術(shù)集團(tuán)工程設(shè)計(jì)有限公司 |
| 主分類號: | G01C25/00 | 分類號: | G01C25/00;G01C11/00 |
| 代理公司: | 濟(jì)南寶宸專利代理事務(wù)所(普通合伙) 37297 | 代理人: | 荊向勇 |
| 地址: | 250000 山*** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 德里 矩陣 相機(jī) 校方 | ||
1.一種基于羅德里格矩陣的相機(jī)檢校方法,其特征在于:
步驟1)控制點(diǎn)布設(shè):均勻布設(shè)一定數(shù)量控制點(diǎn),并對控制點(diǎn)進(jìn)行觀測獲取其高精度坐標(biāo)(Xi,Yi,Zi);
步驟2)影像獲取及像點(diǎn)坐標(biāo)的量測:應(yīng)用待檢校的相機(jī)獲取多幅帶控制點(diǎn)影像,并量測影像上控制點(diǎn)像點(diǎn)坐標(biāo)(xi,yi);
步驟3)計(jì)算相機(jī)檢校參數(shù)的初值:根據(jù)
計(jì)算λ初值,式中Xi,Yi,Zi和Xi-1,Yi-1,Zi-1為近似同一平面上相鄰的控制點(diǎn);
根據(jù)
計(jì)算a,b,c的初值,將λi和a,b,c帶入
計(jì)算出XS,YS,ZS的初值;
相機(jī)主距f初值選為相機(jī)焦距,主點(diǎn)和畸變參數(shù)初值為0;
步驟4)應(yīng)用步驟3)中給出的初值,基于羅德里格矩陣,應(yīng)用空間后方交會方法迭代求解檢校參數(shù),誤差方程為:
V=AX外+BX內(nèi)+CXad-L
式中:X外=[ΔXs,ΔYs,ΔZs,Δa,Δb,Δc],系數(shù)矩陣中的a14,a15,a16,a24,a25,a26為:
中系數(shù)矩陣A中其它元素和B,C,L的值計(jì)算方法和傳統(tǒng)空間后方交會方法相同;
步驟5)迭代求解檢校參數(shù),直到兩次檢校參數(shù)變化小于10-4,檢校結(jié)束。
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