[發明專利]一種自動石墨晶體預衍射X射線熒光儀系統有效
| 申請號: | 202010022804.7 | 申請日: | 2020-01-09 |
| 公開(公告)號: | CN111175334B | 公開(公告)日: | 2021-11-02 |
| 發明(設計)人: | 邵少雄;鄭維明;范德軍;徐平;湯祺 | 申請(專利權)人: | 中國原子能科學研究院 |
| 主分類號: | G01N23/223 | 分類號: | G01N23/223;G01N23/2204 |
| 代理公司: | 北京天悅專利代理事務所(普通合伙) 11311 | 代理人: | 田明;任曉航 |
| 地址: | 102413 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 自動 石墨 晶體 衍射 射線 熒光 系統 | ||
1.一種自動石墨晶體預衍射X射線熒光儀系統,用于對樣品分發臺(1)中的放射性的待測樣品的X射線熒光光譜進行測量,其特征是:包括設有氣動送樣系統的自動石墨晶體預衍射X射線熒光儀(7),所述氣動送樣系統用于從所述樣品分發臺(1)向所述自動石墨晶體預衍射X射線熒光儀(7)傳送所述待測樣品;所述自動石墨晶體預衍射X射線熒光儀(7)用于獲得和分析所述待測樣品的所述X射線熒光光譜,并輸出對所述X射線熒光光譜的分析結果,還用于控制所述氣動送樣系統對所述待測樣品的傳送;
所述自動石墨晶體預衍射X射線熒光儀(7)包括連接探測系統的控制及分析系統;所述探測系統用于獲得所述X射線熒光光譜;所述控制及分析系統用于分析所述X射線熒光光譜并輸出所述分析結果,以及控制所述氣動送樣系統對所述待測樣品的傳送;
所述氣動送樣系統是設有PTN傳送管(3)的PTN主站(2),所述PTN主站(2)設在樣品分發臺(1)上,用于接收由所述樣品分發臺(1)送出的裝有所述待測樣品的跑兔瓶(6),并在所述控制及分析系統的控制下通過所述PTN傳送管(3)對所述跑兔瓶(6)進行來回傳送;所述PTN傳送管(3)的頂端設在所述PTN主站(2)上,所述PTN傳送管(3)的尾端設有樣品測量底座(4),所述樣品測量底座(4)設置在靠近所述探測系統的位置上,用于所述跑兔瓶(6)的定位和發送;在所述樣品測量底座(4)上設有感應裝置(5),所述感應裝置(5)能夠感應到是否有所述跑兔瓶(6)位于所述樣品測量底座(4)內,并向所述控制及分析系統發送相應的到位信號;
所述PTN傳送管(3)通過氣動傳送方式傳送所述跑兔瓶(6);所述感應裝置(5)為光纖傳感器;
所述跑兔瓶(6)既作跑兔瓶又作測量瓶;當用作跑兔瓶時,實現所述待測樣品的轉移;當用作測量瓶,實現所述待測樣品的盛裝。
2.如權利要求1所述的自動石墨晶體預衍射X射線熒光儀系統,其特征是:
所述探測系統包括X射線裝置和X射線熒光探測裝置;
所述X射線裝置設置在所述樣品測量底座(4)一側,包括依次設置的X光管(8)和初級濾光片(9)和初級準直器(10),所述X光管(8)發出的X射線通過所述初級濾光片(9)并經所述初級準直器(10)準直后照射到所述樣品測量底座(4)內的所述跑兔瓶(6)中的所述待測樣品;所述X光管(8)產生0-50KeV的所述X射線,用來激發所述待測樣品,所述初級濾光片(9)用于過濾掉所述X射線中的低能量的電子,降低本底;所述初級準直器(10)用于對所述X射線進行準直;
所述X射線熒光探測裝置設置在所述樣品測量底座(4)一端,包括依次設置的XRF探測器(11)和下準直器(12)和石墨晶體(13)和上準直器(14);所述待測樣品被所述X射線照射后產生的所述X射線熒光經所述上準直器(14)準直后通過所述石墨晶體(13)進入所述下準直器(12)二次準直,最后進入所述XRF探測器(11);所述XRF探測器(11)用于獲得所述X射線熒光光譜;所述上準直器(14)用于對所述X射線熒光進行準直;所述石墨晶體(13)用于對次級X射線熒光進行衍射,降低散射本底;所述下準直器(12)用于對所述X射線熒光進行二次準直。
3.如權利要求1所述的自動石墨晶體預衍射X射線熒光儀系統,其特征是:所述控制及分析系統包括PLC控制系統(15)和工控機及分析軟件(16);所述PLC控制系統(15)用于所述氣動送樣系統和所述探測系統和所述工控機及分析軟件(16)的邏輯控制,還包括與所述樣品分發臺(1)的信號的交互;所述工控機及分析軟件(16)連接所述探測系統,用于所述X射線熒光光譜的獲取、處理、計算和分析結果,所述工控機及分析軟件(16)還連接樣品信息管理系統(19),并將所述分析結果輸出至所述樣品信息管理系統(19)。
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