[發明專利]一種矩形金屬腔體屏蔽盒上開孔等效阻抗提取方法及系統有效
| 申請號： | 202010021506.6 | 申請日： | 2020-01-09 |
| 公開（公告）號： | CN111259521B | 公開（公告）日： | 2022-03-04 |
| 發明（設計）人： | 葛青宇;焦重慶 | 申請（專利權）人： | 華北電力大學 |
| 主分類號： | G06F30/20 | 分類號： | G06F30/20;G06F119/18;H05K9/00 |
| 代理公司： | 北京高沃律師事務所 11569 | 代理人： | 楊媛媛 |
| 地址： | 102206 北*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 矩形 金屬 屏蔽 盒上開孔 等效 阻抗 提取 方法 系統 | ||
1.一種矩形金屬腔體屏蔽盒上開孔等效阻抗提取方法，其特征在于，所述方法包括：
獲取矩形金屬腔體屏蔽盒的實測數據；所述實測數據包括屏蔽盒實測數據以及開孔實測數據；所述屏蔽盒實測數據包括所述矩形金屬腔體屏蔽盒的長、寬、高以及腔體壁厚度；所述開孔實測數據包括所述矩形金屬腔體屏蔽盒上開孔的幾何尺寸以及開孔中心在壁板上的位置；
根據所述實測數據建立有孔矩形金屬腔體模型；
對所述有孔矩形金屬腔體模型施加垂直入射開孔所在面的預設頻率的平面波，并導出所述預設頻率的平面波在真空中的波數和波長；
選取所述有孔矩形金屬腔體模型內部正對開孔的開孔中心線上任一點作為測點，計算提取所述測點的電場屏蔽效能；
根據所述實測數據、所述預設頻率的平面波在真空中的波數和波長以及所述測點的電場屏蔽效能確定所述矩形金屬腔體屏蔽盒的開孔等效阻抗。
2.根據權利要求1所述的矩形金屬腔體屏蔽盒上開孔等效阻抗提取方法，其特征在于，所述對所述有孔矩形金屬腔體模型施加垂直入射開孔所在面的預設頻率的平面波，并導出所述預設頻率的平面波在真空中的波數和波長，具體包括：
對所述有孔矩形金屬腔體模型施加垂直入射開孔所在面的預設頻率為fn的平面波，并導出所述預設頻率為fn的平面波在真空中的波數k0n和波長λ0n；其中1MHz≤fn≤1GHz。
3.根據權利要求2所述的矩形金屬腔體屏蔽盒上開孔等效阻抗提取方法，其特征在于，所述選取所述有孔矩形金屬腔體模型內部正對開孔的開孔中心線上任一點作為測點，計算提取所述測點的電場屏蔽效能，具體包括：
選取所述有孔矩形金屬腔體模型內部正對開孔的開孔中心線上任一點作為測點P；
在頻率為fn的電磁波照射下，提取測點P處未加屏蔽盒時的電場強度E0n與加上屏蔽盒時的電場強度En；
根據所述測點P處未加屏蔽盒時的電場強度E0n與加上屏蔽盒時的電場強度En，通過公式確定頻率為fn時所述測點P的電場屏蔽效能SEn。
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