[發明專利]一種面向硬盤故障預測的特征選擇方法及硬盤故障預測方法有效
| 申請號: | 202010020945.5 | 申請日: | 2020-01-09 |
| 公開(公告)號: | CN111240915B | 公開(公告)日: | 2020-12-18 |
| 發明(設計)人: | 楊洪章;楊雅輝 | 申請(專利權)人: | 北京大學 |
| 主分類號: | G06F11/22 | 分類號: | G06F11/22;G06N20/00 |
| 代理公司: | 北京君尚知識產權代理有限公司 11200 | 代理人: | 司立彬 |
| 地址: | 100871 北*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 面向 硬盤 故障 預測 特征 選擇 方法 | ||
1.一種面向硬盤故障預測的特征選擇方法,其步驟包括:
1)以設定時間間隔T采集所選w塊硬盤的SMART信息p次;所述SMART信息為硬盤的N維特征信息;
2)分別計算每一維特征p次采集的特征值的方差或標準差,過濾掉方差或標準差小于設定閾值y的M個特征,保留剩余的N-M個特征;
3)選用x種算法對所保留的N-M個特征分別進行重要程度的排序,生成x個序列;
4)計算所保留的每一特征在各序列中位置的平均值,根據平均值對特征進行排序,生成序列b;
5)從該序列b中選取前k個特征并測試基于每次所選特征所建預測模型的召回率,將召回率最大值對應的所選特征作為最終的特征篩選結果;其中,確定最終所選特征的方法為:采用枚舉法選取序列b的前k個特征,先取k=1,對當前所選特征進行建模并測試當前所建預測模型的召回率為recall1;再取k=2,對特征進行建模,并測試當前所建預測模型的召回率為recall2……以此類推,直至k=N-M,并測試當前所建預測模型的召回率為recallN-M;然后比較recall1、recall2...recallN-M,找出其中的最大值,記為recallt,則將recallt對應的所選特征作為最終的特征篩選結果。
2.如權利要求1所述的特征選擇方法,其特征在于,如果存在多個相同最大召回率,則比較各最大召回率對應的所選特征個數,選取所選特征個數最多的特征作為最終的特征篩選結果。
3.如權利要求1所述的特征選擇方法,其特征在于,對所保留的N-M個特征按照其對應的平均值由小至大進行排序,得到序列b。
4.如權利要求1所述的特征選擇方法,其特征在于,所述x種算法包括但不限于下列算法:基于卡方檢驗算法、基于邏輯回歸算法、基于支持向量分類算法、基于隨機森林算法、基于梯度提升迭代決策樹算法、經驗判斷、可視化觀察法。
5.如權利要求1所述的特征選擇方法,其特征在于,所述w塊硬盤的品牌、型號均相同。
6.一種硬盤故障預測方法,其步驟包括:
1)以設定時間間隔T采集所選w塊硬盤的SMART信息p次;所述SMART信息為硬盤的N維特征信息;
2)分別計算每一維特征p次采集的特征值的方差或標準差,過濾掉方差或標準差小于設定閾值y的M個特征,保留剩余的N-M個特征;
3)選用x種算法對所保留的N-M個特征分別進行重要程度的排序,生成x個序列;
4)計算所保留的每一特征在各序列中位置的平均值,根據平均值對特征進行排序,生成序列b;
5)從該序列b中選取前k個特征并測試基于每次所選特征所建預測模型的召回率,將召回率最大值對應的預測模型作為硬盤故障預測模型,對應的特征作為預測特征;其中采用枚舉法選取序列b的前k個特征,先取k=1,對當前所選特征進行建模并測試當前所建預測模型的召回率為recall1;再取k=2,對特征進行建模,并測試當前所建預測模型的召回率為recall2……以此類推,直至k=N-M,并測試當前所建預測模型的召回率為recallN-M;然后比較recall1、recall2...recallN-M,找出其中的最大值,記為recallt,則將recallt對應的所選特征作為所述預測特征,將recallt對應的預測模型作為硬盤故障預測模型;
6)將待測硬盤的預測特征輸入所述硬盤故障預測模型,得到該待測硬盤的預測結果。
7.如權利要求6所述的硬盤故障預測方法,其特征在于,如果存在多個相同最大召回率,則比較各最大召回率對應的所選特征個數,選取所選特征個數最多的特征作為最終的特征篩選結果。
8.如權利要求6所述的硬盤故障預測方法,其特征在于,所述w塊硬盤以及待測硬盤的品牌、型號均相同。
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