[發(fā)明專利]多通道PID整定性能測試的方法、系統(tǒng)及設(shè)備

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010020530.8
• 申請日: 2020-01-09
• 公開（公告）號: CN111176260A
• 公開（公告）日: 2020-05-19
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 宋斌;魏先峰
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳市顯控科技股份有限公司
• 主分類號: G05B23/02
• 分類號: G05B23/02
• 代理公司: 廣州嘉權(quán)專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 44205
• 代理人: 洪銘福

本發(fā)明公開了一種多通道PID整定性能測試的方法、系統(tǒng)及設(shè)備，其中，一種多通道PID整定性能測試的方法包括獲取各通道PID的參數(shù)和指令；根據(jù)各通道PID的參數(shù)和指令，對被控對象的待測量進行整定；獲取各通道PID的測試結(jié)果。本發(fā)明通過構(gòu)建一種多通道PID整定性能測試的系統(tǒng)和設(shè)備，搭建多通道PID整定性能測試環(huán)境，對比測試多通道PID的整定性能，并根據(jù)多個實際用例的測試，證明了EPID的整定性能要優(yōu)于PID。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及比例積分微分(PID)測試領(lǐng)域，尤其是涉及一種多通道PID整定性能測試的方法、系統(tǒng)及設(shè)備。

背景技術(shù)

在工程實際中，應(yīng)用最為廣泛的調(diào)節(jié)器控制規(guī)律為比例、積分、微分控制，簡稱PID控制。PID控制器以其結(jié)構(gòu)簡單、穩(wěn)定性好、工作可靠、調(diào)整方便而成為工業(yè)控制的主要技術(shù)之一。PID控制器就是根據(jù)系統(tǒng)的誤差，利用比例、積分、微分計算出控制量進行控制的。

現(xiàn)有技術(shù)對PID的測試主要集中在單一通道PID的參數(shù)整定，通常采用時域測試法和頻域測試法，側(cè)重對幅頻和相頻特性等參數(shù)的測試。然而如何高效地測定多通道PID的整定效果，是目前待解決的問題。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明旨在至少解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的技術(shù)問題之一。為此，本發(fā)明提出一種多通道PID整定性能測試方法，能夠同時測試多通道PID的整定性能，比較各通道PID控制器的控制性能，進而選取出調(diào)控性能更好的控制方法。

本發(fā)明還提出一種多通道PID整定性能測試系統(tǒng)。

本發(fā)明還提出一種多通道PID整定性能測試設(shè)備。

第一方面，本發(fā)明的一個實施例提供了一種多通道PID整定性能測試方法，包括：

獲取各通道PID的參數(shù)和指令；

根據(jù)各通道PID的參數(shù)和指令，對被控對象的待測量進行整定；

獲取各通道PID的測試結(jié)果。

本發(fā)明實施例的一種多通道PID整定性能測試方法至少具有如下有益效果：

1.能夠同時測試多通道PID的整定性能，從而方便比較各通道PID的整定效果；

2.通過比較各通道PID的整定性能測試結(jié)果，能夠選取出調(diào)控性能更好的控制方法。

根據(jù)本發(fā)明的另一些實施例的一種多通道PID整定性能測試方法，多通道包括至少一個PID通道和至少一個增強型比例積分微分(EPID)通道。

本發(fā)明實施例的一種多通道PID整定性能測試方法，能夠同時測試PID和EPID的整定性能，比較PID控制器和EPID控制器的控制性能，進而選取出調(diào)控性能更好的控制方法。

根據(jù)本發(fā)明的另一些實施例的一種多通道PID整定性能測試方法，根據(jù)各通道PID的參數(shù)和指令，對被控對象的待測量進行整定，包括：

獲取待測量的電信號；

根據(jù)各通道PID的參數(shù)和指令，啟動測試；

控制各通道的斷開和閉合，以調(diào)節(jié)待測量的電信號；

將待測量的電信號穩(wěn)定在目標(biāo)范圍內(nèi)，停止測試。

本發(fā)明實施例的一種多通道PID整定性能測試方法，各通道能夠獨立地對被控對象的待測量進行整定，從而能夠同時測試多通道PID的整定性能。

根據(jù)本發(fā)明的另一些實施例的一種多通道PID整定性能測試方法，獲取待測量的電信號，包括：

通過傳感裝置感應(yīng)待測量的變化，將待測量的變化轉(zhuǎn)換成電信號輸出。