[發明專利]LED顯示面板的快速測試電路及其測試系統

在審

• 申請號: 202010019389.X
• 申請日: 2020-01-08
• 公開（公告）號: CN112967642A
• 公開（公告）日: 2021-06-15
• 發明（設計）人: 王英琪;顏家煌;袁山富;林建宏;魏其源
• 申請（專利權）人: 重慶康佳光電技術研究院有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00
• 代理公司: 深圳鼎合誠知識產權代理有限公司 44281
• 代理人: 李發兵

本發明涉及顯示設備技術領域，具體涉及一種LED顯示面板的快速測試電路及其系統，其與顯示面板相連接，包括：一個以上的測試組件，測試組件由奇數行引線聯接點和偶數行引線聯接點組成，奇數行引線聯接點與顯示面板中的掃描線傳輸區或數據線傳輸區中兩根以上奇數行引線相接，偶數行引線聯接點與顯示面板中的掃描線傳輸區或數據線傳輸區中兩根以上偶數行引線相接；且同一個所述測試組件中的奇數行引線聯接點和偶數行引線聯接點同時與測量儀表相連接；在本發明的系統中用戶可通過測量儀表與電路中的測試組件進行相接，即可實現對電路進行檢測，其降低了測試時的接線復雜度，便于生產操作，能對顯示面板進行快速靈活的檢測。

技術領域

本發明涉及顯示設備技術領域，具體涉及一種LED顯示面板的快速測試電路以及一種LED顯示面板的快速系統。

背景技術

微型發光二極管（Micro LED），即發光二極管微縮化和矩陣化技術, 其具有良好的穩定性，壽命，以及運行溫度上的優勢，同時也承繼了LED低功耗、色彩飽和度、反應速度快、對比度強等優點, 其具有極大的應用前景。

并且，由微型發光二極管制作成Micro LED顯示器是顯示設備未來的主流發展方向；在現今Micro LED顯示器生產過程中，Micro LED顯示器中的顯示面板進行切割之前，為了檢測其中的掃描線傳輸區及數據線傳輸區是否存在短路會進行電測實驗。在電測實驗時，會直接給顯示面板的掃描線傳輸區及數據線傳輸區灌入電壓進行測試，在測試完之后斷電，直接對顯示面板進行切割，切割完成后進行封裝，最終組成顯示模組產品。

在現有技術的LED顯示面板的測試電路中，其顯示面板中的掃描線傳輸區及數據線傳輸區每行走線均需要與電源的一個輸出引腳一一相連接，其接線數量較多，且接線過程較為麻煩，不利于生產操作，無法對顯示面板進行快速靈活的檢測。

發明內容

為克服上述缺陷，本發明的目的即在于提供一種能對LED顯示面板進行快速靈活檢測的快速測試電路以及應用該電路的系統。

本發明的目的是通過以下技術方案來實現的：

本發明是一種LED顯示面板的快速測試電路，所述快速測試電路與顯示面板相連接，其包括：一個以上的測試組件，所述測試組件由奇數行引線聯接點和偶數行引線聯接點組成，所述奇數行引線聯接點與所述顯示面板中的掃描線傳輸區或數據線傳輸區中兩根以上奇數行引線相接，所述偶數行引線聯接點與所述顯示面板中的掃描線傳輸區或數據線傳輸區中兩根以上偶數行引線相接；且同一個所述測試組件中的所述奇數行引線聯接點和所述偶數行引線聯接點同時與測量儀表相連接。

在本發明中，所述測試組件的數量為三個，每個所述掃描線傳輸區或所述數據線傳輸區均與一個所述測試組件相連接。

在本發明中，在一個所述測試組件中，所述奇數行引線聯接點和所述偶數行引線聯接點的數量各為一個。

在本發明中，所述測試組件安裝于所述顯示面板的背板上。

在本發明中，每個所述掃描線傳輸區或所述數據線傳輸區中的所有奇數行引線均連接于與其對應的測試組件的所述奇數行引線聯接點上，每個所述掃描線傳輸區或所述數據線傳輸區中的所有偶數行引線均連接于與其對應的測試組件的所述偶數行引線聯接點上。

本發明是一種LED顯示面板的快速測試系統，其包括：測量儀表、顯示面板以及如上所述的快速測試電路，所述測量儀表的兩根引線分別與一個所述測試組件中的奇數行引線聯接點和偶數行引線聯接點相連接。

在本發明中，所述顯示面板包括：兩個掃描線傳輸區和一個數據線傳輸區。

在本發明中，所述測量儀表的數量為三個，每個所述測量儀表均通過一個所述測試組件與一個所述掃描線傳輸區和一個所述數據線傳輸區相連接。

在本發明中，所述顯示面板還包括：顯示區，所述顯示區中布置有μm級的LED。