[發明專利]一種X熒光光譜儀監控直讀光譜儀的檢測方法在審
| 申請號: | 202010019153.6 | 申請日: | 2020-01-08 |
| 公開(公告)號: | CN111189866A | 公開(公告)日: | 2020-05-22 |
| 發明(設計)人: | 呂彥鳳;趙蘭季;張育新;許鴻英;陳澤;石連霞;耿艷霞;田文清;朱雪峰 | 申請(專利權)人: | 宣化鋼鐵集團有限責任公司 |
| 主分類號: | G01N23/223 | 分類號: | G01N23/223;G01N23/2202;G01N21/25 |
| 代理公司: | 石家莊冀科專利商標事務所有限公司 13108 | 代理人: | 李桂芳 |
| 地址: | 075100 河北*** | 國省代碼: | 河北;13 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 熒光 光譜儀 監控 直讀 檢測 方法 | ||
1.一種X射線熒光光譜儀監控直讀光譜儀的檢測方法,其特征在于,包括以下步驟:
(1)對試樣加工,制成滿足熒光儀的測試樣品;
(2)使用碳硫儀、光譜儀和化學法對試樣定值;
(3)確定儀器參數,設定各元素的分析條件;
(4)采用國家標準樣品和自產試樣繪制校準曲線;
(5)消除干擾,修正校準曲線;
(6)根據修正后校準曲線測定樣品。
2.根據權利要求1所述的一種X射線熒光光譜儀監控直讀光譜儀的檢測方法,其特征在于,步驟(1)試樣經20-60目砂紙粗磨,再經80-120目砂紙細磨,試樣表面無污染、無變色,滿足熒光儀分析標準。
3.根據權利要求1所述的一種X射線熒光光譜儀監控直讀光譜儀的檢測方法,其特征在于,步驟(1)將試樣制成無沙粒、無金屬屑雜物、檢測面無氣孔和無砂眼缺陷的柱狀樣品。
4.根據權利要求1所述的一種X射線熒光光譜儀監控直讀光譜儀的檢測方法,其特征在于,步驟(3)試樣檢測前進行設備點檢維護,檢查電子柜溫度35±0.5℃,內水冷的電導率0-20*10-8Ω-1,內部循環水流量大于3.5L/min、內部循環水壓力0.3±0.05MPa,光管管壓30-50Kv、管流50-90mA,抽真空時間小于1min。
5.根據權利要求4所述的一種X射線熒光光譜儀監控直讀光譜儀的檢測方法,其特征在于,管壓和管流乘積不超過光管的最大功率。
6.根據權利要求1所述的一種X射線熒光光譜儀監控直讀光譜儀的檢測方法,其特征在于,步驟(5)利用步驟(2)碳硫儀、光譜儀和化學法對試樣定值,對步驟(4)繪制校準曲線進行修正。
7.根據權利要求6所述的一種X射線熒光光譜儀監控直讀光譜儀的檢測方法,其特征在于,修正方法包括以下步驟:①將不在線的點進行再次定值,確定樣品的準確值;②觀察樣品檢測面是否存在其它缺陷;③重新磨制樣品檢測面;④排除樣品自身原因造成的不在線;⑤確定取舍;⑥修正校正曲線。
8.根據權利要求1-7任一項所述的一種X射線熒光光譜儀監控直讀光譜儀的檢測方法,其特征在于,步驟(1)所述的試樣為生鐵球拍樣品。
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