[發明專利]介質隔離結構及其介質濾波器

在審

• 申請號: 202010018400.0
• 申請日: 2020-01-08
• 公開（公告）號: CN111129668A
• 公開（公告）日: 2020-05-08
• 發明（設計）人: 劉磊;王斌華;葉榮;廖東
• 申請（專利權）人: 摩比天線技術（深圳）有限公司;摩比科技（深圳）有限公司;摩比通訊技術（吉安）有限公司;摩比科技(西安)有限公司;深圳市晟煜智慧網絡科技有限公司;西安摩比天線技術工程有限公司
• 主分類號: H01P1/20
• 分類號: H01P1/20
• 代理公司: 北京律誠同業知識產權代理有限公司 11006
• 代理人: 劉健;黃韌敏

本發明適用于介質濾波器技術領域，提供了一種介質隔離結構，包括有至少一對相鄰的第一介質諧振器和第二介質諧振器，所述第一介質諧振器設有一對TE102模式的第一頻率盲孔，所述第二介質諧振器設有一個TE101模式的第二頻率盲孔，且所述第一介質諧振器和所述第二介質諧振器的中間設置至少一用于隔離所述第一介質諧振器和所述第二介質諧振器的通槽和/或通孔。還提出了一種介質濾波器，包括至少一所述介質隔離結構。借此，本發明實現單一陶瓷介質塊上相鄰介質諧振器間的良好隔離器效果，降低了加工成本，增加了設計的穩定性且提高了可靠性。

技術領域

本發明涉及介質濾波器技術領域，尤其涉及一種介質隔離結構及其介質濾波器。

背景技術

介質濾波器與傳統金屬同軸濾波器一樣,經常遇到相鄰兩個諧振器間不需要相互耦合,但由于結構或位置因素始終存在少量耦合的情況，一般稱之為寄生耦合。寄生耦合通常會使原設計的頻率響應產生惡化，所以在設計中需要盡量減小寄生耦合，或者通過調整濾波器的拓撲結構降低寄生耦合對頻率響應的影響度。

減小相鄰兩個諧振器間寄生耦合的常用方法有兩種：

1、將相鄰兩個諧振器設置于兩個單獨的陶瓷介質塊上，這樣能從物理上將兩者隔離，從而最大限度的減小兩者間的寄生耦合。其缺點是增加了濾波器的陶瓷塊數量，在濾波器的裝配中會引入額外的對齊要求和焊接工序，還增加了設計的累積公差，加大了濾波器的生產調試難度。

2、如現有中國專利CN109103553B公開了相鄰兩諧振器仍設置于同一陶瓷介質塊上，利用兩者之間設置的通槽來隔離相互間的耦合。這種方法避免了陶瓷介質的分塊，但由于兩諧振器在物理上由通槽兩端的連接段相連，仍會存在一定的相互耦合，且其耦合帶寬隨連接段寬度增大而迅速增大。考慮到陶瓷介質塊的加工成型難度和結構強度，連接段的寬度一般不能小于1mm，所以寄生耦合量相比方法一在量級上更高，須通過調整濾波器的拓撲結構降低寄生耦合對頻率響應的影響度，因此對濾波器的拓撲設計限制較大。當連接段寬度較窄時，其結構強度相較于介質塊其他部分低，在陶瓷燒制或高低溫沖擊下可能出現斷裂的風險，對陶瓷材料和燒制工藝要求較高。

綜上可知，現有的方法在實際使用上，存在著較多的問題，所以有必要加以改進。

發明內容

針對上述的缺陷，本發明的目的在于提供一種介質隔離結構，實現單一陶瓷介質塊上相鄰介質諧振器間的良好隔離器效果，降低了加工成本，增加了設計的穩定性且提高了可靠性。

為了實現上述目的，本發明提供一種介質隔離結構，包括有至少一對相鄰的第一介質諧振器和第二介質諧振器，所述第一介質諧振器設有一對TE102模式的第一頻率盲孔，所述第二介質諧振器設有一個TE101模式的第二頻率盲孔，且所述第一介質諧振器和所述第二介質諧振器的中間設置至少一用于隔離所述第一介質諧振器和所述第二介質諧振器的通槽和/或通孔。

根據所述的介質隔離結構，兩個所述第一頻率盲孔在所述第一介質諧振器的上表面沿所述第一介質諧振器和所述第二介質諧振器中心連線軸對稱分布，且兩個所述第一頻率盲孔的直徑和深度對應相等。

根據所述的介質隔離結構，所述第二頻率盲孔設于所述第一介質諧振器和所述第二介質諧振器中心連線的所在直線上。

根據所述的介質隔離結構，至少一所述通槽和/或所述通孔對稱垂直于所述第一介質諧振器和所述第二介質諧振器的中心連線上。

根據所述的介質隔離結構，所述通槽和/或所述通孔銜接于所述第一介質諧振器和所述第二諧振器之間的至少兩個介質連接段的寬度相等。

根據所述的介質隔離結構，所述介質隔離結構為陶瓷介質塊。

根據所述的介質隔離結構，所述介質隔離結構呈矩形塊結構。

還提供了一種介質濾波器，其特征在于，包括有上述的介質隔離結構。