[發明專利]低級序斷層識別的方法、裝置、終端及存儲介質

在審

• 申請號: 202010017122.7
• 申請日: 2020-01-08
• 公開（公告）號: CN113093274A
• 公開（公告）日: 2021-07-09
• 發明（設計）人: 張會卿;周宗良;馬躍華;曹國明;黃芳;燕云;許輝群;劉紫薇;楊艷;賈晨
• 申請（專利權）人: 中國石油天然氣股份有限公司
• 主分類號: G01V1/30
• 分類號: G01V1/30;G01V1/36
• 代理公司: 北京三高永信知識產權代理有限責任公司 11138
• 代理人: 董亞軍

1.一種低級序斷層識別的方法，其特征在于，所述方法包括：

對目標區域的原始地震數據體進行分方位疊加處理，得到兩個方位垂直的目標分方位疊加數據體；

對兩個目標分方位疊加數據體分別進行多窗口傾角掃描處理，得到兩個方向傾角體；

對兩個方向傾角體分別進行導向濾波處理，得到兩個目標導向濾波體；

對兩個目標導向濾波體分別進行邊緣檢測平滑濾波處理，得到兩個平滑濾波體；

對于每個平滑濾波體，對所述原始地震數據體、所述平滑濾波體和所述平滑濾波體對應的目標導向濾波體，分別進行相干體構造處理，并在得到的三套相干體中，確定斷層增強效果最明顯的目標相干體；

對兩個目標相干體分別進行不同方向的斷層追蹤，得到兩個方向的螞蟻體，并基于所述兩個方向的螞蟻體，確定融合螞蟻體；

基于所述兩個方向的螞蟻體和所述融合螞蟻體，進行平剖交互分析和斷裂組合處理，在所述融合螞蟻體上確定所述目標區域的低級序斷層的空間位置和幾何形態。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對目標區域的原始地震數據體進行分方位疊加處理，得到兩個方位垂直的目標分方位疊加數據體，包括：

對目標區域的原始地震數據體進行分方位疊加處理，得到多個方位的分方位疊加數據體，提取每個分方位疊加數據體的時間切片；

基于每個分方位疊加數據體的時間切片，在所述多個方位的分方位疊加數據體中，確定兩個方位垂直的目標分方位疊加數據體。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對兩個目標分方位疊加數據體分別進行多窗口傾角掃描處理，得到兩個方向傾角體，包括：

分別以9個掃描窗口對兩個目標分方位疊加數據體進行多窗口傾角掃描處理，得到兩個方向傾角體。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對兩個方向傾角體分別進行導向濾波處理，得到兩個目標導向濾波體，包括：

對于每個方向傾角體，對所述方向傾角體進行均值濾波處理、中值濾波處理和主分量濾波處理，得到均值濾波體、中值濾波體和主分量濾波體，在所述均值濾波體、所述中值濾波體和所述主分量濾波體中，確定斷層增強效果最明顯的濾波體作為目標導向濾波體。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述在所述均值濾波體、所述中值濾波體和所述主分量濾波體中，確定斷層增強效果最明顯的濾波體作為目標導向濾波體，包括：

分別提取所述均值濾波體、所述中值濾波體和所述主分量濾波體在同一構造位置的剖面；

基于所述均值濾波體的剖面、所述中值濾波體的剖面和所述主分量濾波體的剖面，在所述均值濾波體、所述中值濾波體和所述主分量濾波體中，確定斷層增強效果最明顯的濾波體作為目標導向濾波體。

6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對兩個目標導向濾波體分別進行邊緣檢測平滑濾波處理，得到兩個平滑濾波體之后，還包括：

對于每個平滑濾波體，使用設定分數導數指數進行構造曲率體處理，得到所述平滑濾波體的最正曲率體和最負曲率體，在所述最正曲率體和所述最負曲率體中，確定斷層較清晰的構造曲率體；

對于每個斷層較清晰的構造曲率體，對所述斷層較清晰的構造曲率體使用與所述設定分數導數指數不同的分數導數指數進行參數優化處理，得到一個或多個新的構造曲率體，在所述一個或多個新的構造曲率體和斷層較清晰的構造曲率體中，確定斷層最清晰的構造曲率體；

將兩個斷層最清晰的構造曲率體與所述融合螞蟻體進行對比分析。

7.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對兩個目標導向濾波體分別進行邊緣檢測平滑濾波處理，得到兩個平滑濾波體之后，還包括：

對于每個平滑濾波體，對所述平滑濾波體進行相干能量梯度屬性計算，得到攜帶有相干能量梯度屬性的平滑濾波體。