[發(fā)明專利]光纖陀螺多組件測(cè)試系統(tǒng)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010013826.7
• 申請(qǐng)日: 2020-01-07
• 公開（公告）號(hào): CN111289011B
• 公開（公告）日: 2021-01-26
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 徐知芳;卜興華;袁曚;方陽(yáng);袁磊;廉正剛;皮亞斌
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 武漢長(zhǎng)盈通光電技術(shù)股份有限公司
• 主分類號(hào): G01C25/00
• 分類號(hào): G01C25/00
• 代理公司: 湖北武漢永嘉專利代理有限公司 42102
• 代理人: 胡建平;孫方旭

本發(fā)明公開了一種光纖陀螺多組件測(cè)試系統(tǒng)，包括至少一個(gè)2×2耦合器、Y波導(dǎo)、探測(cè)器、主控電路，耦合器的輸入一端連接光源，耦合器的輸入二端連接探測(cè)器，耦合器的輸出一端連接Y波導(dǎo)的一端，耦合器的輸出二端為尾纖C，Y波導(dǎo)的另一端為尾纖A和尾纖B。本發(fā)明測(cè)試系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)了對(duì)不同組件測(cè)試時(shí)，不同光路損耗下，探測(cè)器信號(hào)在最佳附近；解決不同種類的待測(cè)組件所需光路和電路不一致的問(wèn)題，通過(guò)對(duì)光路和電路進(jìn)行設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)了對(duì)多種光纖陀螺組件的測(cè)試目的。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明屬于光纖環(huán)組件模塊的溫度性能測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種光纖陀螺多組件測(cè)試系統(tǒng)。

背景技術(shù)

現(xiàn)有技術(shù)中，對(duì)光纖環(huán)組件等模塊進(jìn)行溫度性能測(cè)試時(shí)，主要是將陀螺測(cè)試和光纖環(huán)測(cè)試(適應(yīng)各種尺寸的光纖環(huán))相結(jié)合，而不能對(duì)多種組件進(jìn)行測(cè)試，不同種類的待測(cè)組件所需光路和電路不一致，并且測(cè)量精度有待于提高。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題是，提供一種光纖陀螺多組件測(cè)試系統(tǒng)，針對(duì)不同類型的光纖陀螺組件測(cè)試需求，根據(jù)實(shí)際情況與待測(cè)組件熔接、連接，并調(diào)整適當(dāng)光功率，實(shí)現(xiàn)光纖陀螺組件的測(cè)量。

本發(fā)明解決其技術(shù)問(wèn)題所采用的技術(shù)方案是：提供一種光纖陀螺多組件測(cè)試系統(tǒng)，包括至少一個(gè)2×2耦合器、Y波導(dǎo)、探測(cè)器、主控電路，耦合器的輸入一端連接光源，耦合器的輸入二端連接探測(cè)器，耦合器的輸出一端連接Y波導(dǎo)的一端，耦合器的輸出二端為尾纖C，Y波導(dǎo)的另一端為尾纖A和尾纖B。

按上述技術(shù)方案，主控電路包含可調(diào)驅(qū)動(dòng)電流及溫控電路、探測(cè)器信號(hào)檢測(cè)電路、閉環(huán)反饋信號(hào)電路、信號(hào)處理、控制及輸出電路。

按上述技術(shù)方案，光纖環(huán)尾纖與Y波導(dǎo)尾纖A和B相熔接，調(diào)整光源可調(diào)驅(qū)動(dòng)電流，閉環(huán)反饋信號(hào)加載到系統(tǒng)內(nèi)部Y波導(dǎo)上，光纖環(huán)放置于溫箱中。

按上述技術(shù)方案，待測(cè)組件包括Y波導(dǎo)與光纖環(huán)，該Y波導(dǎo)尾纖與系統(tǒng)耦合器尾纖C相熔接，調(diào)整光源可調(diào)驅(qū)動(dòng)電流，閉環(huán)反饋信號(hào)加載到組件的Y波導(dǎo)電極上，待測(cè)組件中的Y波導(dǎo)與光纖環(huán)尾纖兩兩連接。

按上述技術(shù)方案，待測(cè)組件包括光纖環(huán)、Y波導(dǎo)、待測(cè)耦合器，待測(cè)耦合器的一端與待測(cè)Y波導(dǎo)的一端連接，待測(cè)Y波導(dǎo)的另外2端與光纖環(huán)尾纖兩兩連接，待測(cè)耦合器的另外2端分別與系統(tǒng)耦合器尾纖C第二探測(cè)器的尾纖D相熔接，調(diào)整光源可調(diào)驅(qū)動(dòng)電流，閉環(huán)反饋信號(hào)加載到待測(cè)組件Y波導(dǎo)電極，待測(cè)組件放置于溫箱中。

按上述技術(shù)方案，光源為SLD或ASE光源。

本發(fā)明方案解決的技術(shù)問(wèn)題是：首先解決光源功率光功率匹配問(wèn)題：通過(guò)高精度DAC 芯片輸出可控電壓來(lái)調(diào)整光源驅(qū)動(dòng)電流，實(shí)現(xiàn)光源光功率可調(diào)。通過(guò)調(diào)整光源驅(qū)動(dòng)電流，得到合適的光功率，實(shí)現(xiàn)對(duì)不同組件測(cè)試時(shí)，不同光路損耗下，探測(cè)器信號(hào)在最佳附近；其次解決不同待測(cè)組件光路、電路兼容問(wèn)題：解決了不同種類的待測(cè)組件所需光路和電路不一致的問(wèn)題，通過(guò)對(duì)光路和電路進(jìn)行設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)了對(duì)多種光纖陀螺組件的測(cè)試目的。

本發(fā)明產(chǎn)生的有益效果是：1)具備光源溫控及驅(qū)動(dòng)電流可調(diào)功能，系統(tǒng)可根據(jù)待測(cè)件實(shí)際損耗情況，調(diào)整合適光功率，使系統(tǒng)測(cè)試多種待測(cè)組件；

2)具備多種待測(cè)組件溫度測(cè)試功能，待測(cè)件可以為：“光纖環(huán)”、“光纖環(huán)+Y波導(dǎo)”組件和“光纖環(huán)+Y波導(dǎo)+耦合器”組件；

3)具備兩路信號(hào)檢測(cè)電路，可根據(jù)待測(cè)件不同，選用其中之一檢測(cè)電路進(jìn)行待測(cè)件測(cè)試；

4)實(shí)現(xiàn)兩路、三路甚至更多的測(cè)量通道的組合系統(tǒng)。

附圖說(shuō)明

下面將結(jié)合附圖及實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步說(shuō)明，附圖中：

圖1是本發(fā)明實(shí)施例光纖陀螺多組件測(cè)試系統(tǒng)示意圖；

圖2是本發(fā)明實(shí)施例中光纖環(huán)組件測(cè)試連接示意圖；