[發明專利]黑陶瓷低熔玻璃外殼集成電路內部水汽含量控制方法有效
| 申請號: | 202010013321.0 | 申請日: | 2020-01-07 |
| 公開(公告)號: | CN111192839B | 公開(公告)日: | 2023-05-12 |
| 發明(設計)人: | 商登輝;房迪;張超超;蔡景洋;聶平健;周東;周恒;田東;李陽;李洪秀;劉思奇;劉金麗 | 申請(專利權)人: | 貴州振華風光半導體股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/67 | 分類號: | H01L21/67 |
| 代理公司: | 貴陽中工知識產權代理事務所 52106 | 代理人: | 劉安寧 |
| 地址: | 550018 貴*** | 國省代碼: | 貴州;52 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 陶瓷 玻璃 外殼 集成電路 內部 水汽 含量 控制 方法 | ||
1.黑陶瓷低熔玻璃外殼集成電路內部水汽含量控制方法,其特征包括以下步驟:
第一步,根據水汽存在位置針對性地去除水汽,首先在清洗完成后的管殼放入遠紅外烘干爐進行表面烘干;
第二步,在裝結工序前進行矩陣排放至鋁合金襯底托架或者不銹鋼放盤中,放入真空燒焊設備反復抽真空、通氮氣,然后進行預升溫預熱、預保溫,再升溫至除氣溫度、再保溫、降溫的工藝;
第三步,前述步驟完成后將半成品以矩陣排放方式放入真空烘箱烘烤;
第四步,在完成鍵合后將產品放入真空烘箱再次烘烤,目的是去除組裝流程中環境對產品造成的表面吸濕存在的水汽;
所述第一步中,所述烘干溫度為85℃、烘干時間為2h;
所述第二步中,所述抽真空、通氮氣的工藝條件為3次循環抽充,真空度控制在10Pa、氮氣純度為99?.999%,目的是保證工作腔體內部氣氛的純凈和低水汽;所述預熱即預升溫,工藝條件是升溫速率30-50℃/min,升溫溫度為150℃,通氮氣的純度為99?.999%目的是進一步凈化氣氛,剝離表面吸附水汽;所述預保溫的工藝條件是:溫度150℃,保溫時間10min,真空度10Pa,目的是使整個腔體溫度均衡,減小區域溫差,同時通過真空抽氣將剝離出的表面吸附水汽抽離腔體;所述再升溫工序的升溫速率為50-80℃/min?,升溫溫度380℃,3次循環抽充,真空度10Pa、氮氣純度99?.999%,目的是高速率升溫過程能夠加快低熔玻璃玻璃體的分子運動頻率,快速去除表層烘出的水汽,同時進一步凈化工作腔體環境;所述再保溫控制的工藝條件是溫度380℃,時間30min,真空度10Pa,目的是使低熔玻璃軟化,內部多孔性封閉區域通過高溫軟化加上壓力差的作用打開,釋放出內部包裹性水汽,同時也使低熔玻璃更加致密減少內部空孔;所述降溫階段的工藝條件是降溫速率15-30℃/min,降溫方式為風冷降溫,降溫氣體是99?.999%氮氣,目的是通過低速率降溫控制玻璃體溫度應力,避免高溫差產生的龜裂、炸裂,同時高純氮氣的風冷降溫保證了玻璃體的純凈;
所述第三步中,所述半成品放入真空烘箱的工藝條件是:溫度125℃、真空度10Pa、時間8h,作為裝結前準備保存,這樣有利于提高后續裝結膠體與管基的結合力,減小結合孔洞,避免覆蓋造成的閉塞空位,避免膠體包裹,減少環境吸濕對產品造成的影響;
所述第四步中,所述產品放入真空烘箱再次烘烤的工藝條件是:溫度125℃、真空度10Pa、時間8h。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





