[發(fā)明專利]一種X光樣本圖像的生成方法、生成設(shè)備和存儲(chǔ)裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010011614.5 | 申請日: | 2020-01-06 |
| 公開(公告)號: | CN111242905B | 公開(公告)日: | 2021-03-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 魯盈悅;支洪平 | 申請(專利權(quán))人: | 科大訊飛(蘇州)科技有限公司 |
| 主分類號: | G06T7/00 | 分類號: | G06T7/00;G06T7/194 |
| 代理公司: | 深圳市威世博知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44280 | 代理人: | 何倚雯 |
| 地址: | 215000 江蘇省蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 樣本 圖像 生成 方法 設(shè)備 存儲(chǔ) 裝置 | ||
本申請公開了一種X光樣本圖像的生成方法、生成設(shè)備和存儲(chǔ)裝置,該X光樣本圖像的生成方法包括:獲取待融合背景圖像和包括第一待識別目標(biāo)的待融合前景圖像;從待融合前景圖像中獲取包含第一待識別目標(biāo)的第一子前景圖像,并從待融合背景圖像中摳取與第一子前景圖像的尺寸匹配的第一子背景圖像;將第一子背景圖像和第一子前景圖像的像素值取反,得到第二子背景圖像和第二子前景圖像;將第二子背景圖像和第二子前景圖像進(jìn)行加權(quán)處理,得到第一融合圖像;對第一融合圖像的像素值取反,得到第二融合圖像;利用第二融合圖像與待融合背景圖像生成用于訓(xùn)練目標(biāo)識別模型的第一X光樣本圖像。通過上述方法,本申請為訓(xùn)練目標(biāo)識別模型提供有效的樣本圖像。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請涉及圖像處理技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及一種X光樣本圖像的生成方法、生成設(shè)備和存儲(chǔ)裝置。
背景技術(shù)
X光圖像的成像原理是:X射線對不同物質(zhì)的穿透能力不同,發(fā)生不同程度的衰減,探測器接收到衰減的X射線信號,通過信號處理后轉(zhuǎn)變?yōu)閳D像顯示出來。
X光圖像和常規(guī)圖像相差很大:常規(guī)圖像具備表面紋理信息,X光圖像卻沒有紋理信息,只有物體實(shí)物密度信息;常規(guī)圖像疊加時(shí)有遮擋效應(yīng),X光圖像卻具備透視性。因此X光圖像目標(biāo)檢測的技術(shù)難度不小:一個(gè)良好的X光圖像目標(biāo)檢測算法離不開構(gòu)思精巧的深度學(xué)習(xí)算法框架,也離不開大量有效的X光圖像訓(xùn)練樣本。雖然投入安防領(lǐng)域使用的X光安檢機(jī)每天產(chǎn)生大量的X光圖像,但其中包含待識別違禁品的正樣本圖像占比很低且難以篩選,因此構(gòu)建大量有效的X光圖像訓(xùn)練正樣本圖像組成的訓(xùn)練集存在一定的難度。
發(fā)明內(nèi)容
本申請主要解決的技術(shù)問題是提供一種X光樣本圖像的生成方法、生成設(shè)備和存儲(chǔ)裝置,能夠減少生成圖像的失真,進(jìn)而為訓(xùn)練目標(biāo)識別模型提供有效的樣本圖像。
為解決上述問題,本申請第一方面提供了一種X光樣本圖像的生成方法,包括:獲取待融合背景圖像和包括第一待識別目標(biāo)的待融合前景圖像,其中,所述待融合背景圖像和待融合前景圖像均為X光圖像;從所述待融合前景圖像中獲取包含所述第一待識別目標(biāo)的第一子前景圖像,并從所述待融合背景圖像中摳取與所述第一子前景圖像的尺寸匹配的第一子背景圖像;將所述第一子背景圖像和所述第一子前景圖像的像素值取反,得到第二子背景圖像和第二子前景圖像;將所述第二子背景圖像和第二子前景圖像的像素值進(jìn)行加權(quán)處理,得到第一融合圖像;對所述第一融合圖像的像素值取反,得到第二融合圖像;利用所述第二融合圖像與所述待融合背景圖像生成用于訓(xùn)練目標(biāo)識別模型的第一X光樣本圖像。
為解決上述問題,本申請第二方面提供了一種X光樣本圖像的生成設(shè)備,包括相互耦接的處理器和存儲(chǔ)器,其中,所述處理器用于執(zhí)行所述存儲(chǔ)器存儲(chǔ)的計(jì)算機(jī)程序以執(zhí)行如上所述的方法。
為解決上述問題,本申請第三方面提供了一種存儲(chǔ)裝置,所述存儲(chǔ)裝置存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序,所述計(jì)算機(jī)程序能夠被執(zhí)行以實(shí)現(xiàn)如上所述的方法。
本申請的有益效果是:在獲取待融合背景圖像和包括第一待識別目標(biāo)的待融合前景圖像后,可以從待融合前景圖像中獲取包含第一待識別目標(biāo)的第一子前景圖像,并從待融合背景圖像中摳取與第一子前景圖像的尺寸匹配的第一子背景圖像;然后將第一子背景圖像和第一子前景圖像的像素值取反,得到第二子背景圖像和第二子前景圖像;然后將第二子背景圖像和第二子前景圖像的像素值進(jìn)行加權(quán)處理,得到第一融合圖像;在對第一融合圖像的像素值取反后,得到第二融合圖像。通過將從待融合前景圖像中獲取到的包含第一待識別目標(biāo)的第一子前景圖像和第一子背景圖像的像素值取反,然后再對取反得到的第二子前景圖像和第二子背景圖像進(jìn)行加權(quán)融合,在對加權(quán)融合后得到的第一融合圖像的像素值取反,得到第二融合圖像,從而使得到的包含第一待識別目標(biāo)的第二融合圖像,避免了傳統(tǒng)的加權(quán)融合法可能出現(xiàn)的黑團(tuán)塊現(xiàn)象,生成的圖像更為逼真;由于待融合背景圖像和待融合前景圖像均為X光圖像,于是可以將第二融合圖像貼回待融合背景圖像,從而生成用于訓(xùn)練目標(biāo)識別模型的有效的X光樣本圖像,得到的X光樣本圖像更接近真實(shí)的圖像,可信度高,可以很好地作為訓(xùn)練圖像,可以減小人工制造包含第一待識別目標(biāo)的圖像的人力和財(cái)力,為增強(qiáng)基于X光圖像的目標(biāo)識別模型的泛化能力提供技術(shù)支持。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于科大訊飛(蘇州)科技有限公司,未經(jīng)科大訊飛(蘇州)科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
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