[發明專利]具有顆粒水平檢測系統的顆粒烤架及相關方法

在審

• 申請號: 202010010367.7
• 申請日: 2020-01-06
• 公開（公告）號: CN111493681A
• 公開（公告）日: 2020-08-07
• 發明（設計）人: D·阿爾滕里特
• 申請（專利權）人: 特雷格佩列特烤架有限公司
• 主分類號: A47J37/06
• 分類號: A47J37/06;G01B7/14;G01B11/14;G01G3/14;G01G17/04;G01N15/00;G01N29/024;G01S17/48
• 代理公司: 北京路浩知識產權代理有限公司 11002
• 代理人: 王瑩;趙永莉

1.一種顆粒烤架，所述顆粒烤架包括：

主燒烤腔；

料斗，所述料斗被配置為在顆粒燃料燃燒之前容納所述顆粒燃料；以及

檢測系統，所述檢測系統被配置為檢測所述顆粒烤架的所述料斗中的至少一個顆粒水平。

2.根據權利要求1所述的顆粒烤架，進一步包括：

火爐，所述火爐被配置為容納燃燒的所述顆粒燃料；以及

螺旋輸送器，所述螺旋輸送器將所述顆粒燃料從所述料斗輸送到所述火爐。

3.根據權利要求1所述的顆粒烤架，其中所述料斗包括蓋。

4.根據權利要求3所述的顆粒烤架，其中所述檢測系統被配置為當所述蓋被關閉時檢測所述顆粒烤架的所述料斗中的所述至少一個顆粒水平。

5.根據權利要求1所述的顆粒烤架，其中所述檢測系統包括至少一個傳感器，所述至少一個傳感器被配置為檢測所述顆粒烤架中的至少一種狀況。

6.根據權利要求5所述的顆粒烤架，其中所述檢測系統包括位于所述料斗內的至少一個光發射裝置，并且所述至少一個傳感器包括至少一個光傳感器，所述至少一個光傳感器被配置為檢測由所述至少一個光發射裝置發射的光。

7.根據權利要求6所述的顆粒烤架，其中配置所述至少一個光發射裝置和所述至少一個傳感器，使得當所述顆粒燃料的水平等于或高于所述料斗中的所述至少一個顆粒水平時，所述料斗內的所述顆粒燃料將防止由所述至少一個光發射裝置發射的光入射在所述至少一個傳感器上，并且使得當所述顆粒燃料的水平低于所述料斗中所述至少一個顆粒水平時，所述至少一個光發射裝置發出的光入射在所述至少一個傳感器上。

8.根據權利要求6所述的顆粒烤架，其中所述檢測系統包括至少兩個光發射裝置，所述至少兩個光發射裝置被配置為發射不同波長的光，并且其中所述至少一個傳感器被定位并被配置為檢測由所述至少兩個光發射裝置發射的光。

9.根據權利要求5所述的顆粒烤架，其中所述至少一個傳感器包括位于所述料斗內的激光測距儀。

10.根據權利要求5所述的顆粒烤架，其中所述至少一個傳感器包括光電檢測器，所述光電檢測器位于所述料斗內并且被配置為當所述料斗內的所述顆粒燃料的水平下降到所述光電檢測器以下時，檢測入射在所述光電檢測器上的光。

11.根據權利要求10所述的顆粒烤架，其中所述至少一個傳感器包括位于所述料斗內的不同水平處的多個光電檢測器，所述多個光電檢測器中的每一個光電檢測器被配置為當所述料斗內的所述顆粒燃料的水平下降到相應光電檢測器以下時，檢測入射在所述相應光電檢測器上的光。

12.根據權利要求5所述的顆粒烤架，其中所述至少一個傳感器包括被配置為對所述料斗中的所述顆粒燃料稱重的重量傳感器。

13.根據權利要求5所述的顆粒烤架，其中所述至少一個傳感器包括電容傳感器、電阻傳感器或機械開關傳感器。

14.根據權利要求5所述的顆粒烤架，其中所述至少一個傳感器包括照相機。

15.根據權利要求5所述的顆粒烤架，其中所述至少一個傳感器包括聲音傳感器。

16.根據權利要求1所述的顆粒烤架，其中所述檢測系統包括通信模塊，所述通信模塊被配置為向用戶通知所述顆粒烤架的所述料斗中的所述至少一個顆粒水平。

17.一種檢測顆粒烤架的料斗中的至少一個顆粒水平的方法，所述方法包括使用傳感器檢測所述料斗中的所述至少一個顆粒水平。