[發(fā)明專利]一種半導(dǎo)體堆疊封裝結(jié)構(gòu)及其制備方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010008289.7 | 申請日: | 2020-01-06 |
| 公開(公告)號: | CN111146093B | 公開(公告)日: | 2021-08-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 張正 | 申請(專利權(quán))人: | 億芯微半導(dǎo)體科技(深圳)有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/50 | 分類號: | H01L21/50;H01L21/56;H01L21/60;H01L25/00;H01L23/31 |
| 代理公司: | 北京貴都專利代理事務(wù)所(普通合伙) 11649 | 代理人: | 李新鋒 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 半導(dǎo)體 堆疊 封裝 結(jié)構(gòu) 及其 制備 方法 | ||
1.一種半導(dǎo)體堆疊封裝結(jié)構(gòu)的制備方法,其特征在于:包括以下步驟:
1)提供一載體基板,在所述載體基板的上表面形成一可剝離粘結(jié)層;
2)接著在所述載體 基板的上表面形成第一鈍化層;
3)接著在所述第一鈍化層上形成一重布線層,所述重布線層包括至少一層電介質(zhì)層和至少一層金屬層;
4)接著在所述重布線層上形成第二鈍化層,接著在所述第二鈍化層上形成第一開孔,以暴露所述所述金屬層;
5)接著在所述第二鈍化層上形成多個第一焊料塊,接著提供第一半導(dǎo)體芯片,所述第一半導(dǎo)體芯片具有導(dǎo)電焊盤,接著將第一半導(dǎo)體芯片安裝在所述第一焊料塊上,使得所述第一半導(dǎo)體芯片的導(dǎo)電焊盤與所述第一焊料塊穩(wěn)固結(jié)合,然后利用第一激光照射所述第一焊料塊的表面,以在所述第一焊料塊的表面形成多個凹坑;
6)接著在所述第二鈍化層上形成多個第二焊料塊,多個所述第二焊料塊包圍多個所述第一焊料塊,所述第二焊料塊的高度大于或等于所述第一焊料塊與所述第一半導(dǎo)體芯片的高度之和,接著提供第二半導(dǎo)體芯片,所述第二半導(dǎo)體芯片具有導(dǎo)電焊盤,接著將第二半導(dǎo)體芯片安裝在所述第二焊料塊上,使得所述第二半導(dǎo)體芯片的導(dǎo)電焊盤與所述第二焊料塊穩(wěn)固結(jié)合,然后利用第二激光照射所述第二焊料塊的表面,以在所述第二焊料塊的表面形成多個凹坑;
7)接著在第二鈍化層上形成模塑料,所述模塑料完全包裹所述第一半導(dǎo)體芯片、第二半導(dǎo)體芯片、第一焊料塊以及第二焊料塊,部分的所述模塑料嵌入到所述第一、第二焊料塊的表面的所述凹坑中;
8)接著除去所述可剝離粘結(jié)層和所述載體基板,使得所述第一鈍化層的一表面暴露,然后在所述第一鈍化層的暴露的表面上形成阻焊層,接著在所述第一鈍化層和所述阻焊層中形成第二開孔,接著在所述第二開孔中形成焊球;
其中,在所述步驟5)和6)中,通過回流焊工藝將所述第一、第二半導(dǎo)體芯片分別安裝在所述第一、第二焊料塊上,所述第一焊料塊的熔點(diǎn)大于所述第二焊料塊的熔點(diǎn),所述第一激光的功率為30-50W,所述第一激光的光斑直徑為的100-200微米,在所述第一焊料塊的表面照射10-50秒以形成一個凹坑,接著不斷轉(zhuǎn)移第一激光的照射位置而形成多個凹坑,所述第二激光的功率為10-30W,所述第二激光的光斑直徑為的200-300微米,在所述第二焊料塊的表面照射10-30秒以形成一個凹坑,接著不斷轉(zhuǎn)移第二激光的照射位置而形成多個凹坑。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體堆疊封裝結(jié)構(gòu)的制備方法,其特征在于:在所述步驟2)中,所述第一鈍化層的材質(zhì)為氧化鋁、氧化硅、氧化鋯、氮氧化硅、氮化硅中的一種或多種,所述第一鈍化層的制備方法為ALD或PECVD,所述第一鈍化層的厚度為500-800納米。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體堆疊封裝結(jié)構(gòu)的制備方法,其特征在于:在所述步驟3)中,所述至少一層電介質(zhì)層的材料為氮化硅、氮氧化硅、氧化硅、有機(jī)聚合物中的一種,所述至少一層金屬層的材料為金、銀、銅、鋁、鈦、鈀中的一種或多種,所述至少一層金屬層的制備方法為熱蒸鍍、磁控濺射、電子束蒸發(fā)中的一種。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體堆疊封裝結(jié)構(gòu)的制備方法,其特征在于:在所述步驟4)中,所述第二鈍化層的材質(zhì)為氧化鋁、氧化硅、氧化鋯、氮氧化硅、氮化硅中的一種或多種,所述第二鈍化層的制備方法為ALD或PECVD,所述第二鈍化層的厚度為1-3微米。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體堆疊封裝結(jié)構(gòu)的制備方法,其特征在于:在所述步驟7)中,所述模塑料的材料為環(huán)氧樹脂。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體堆疊封裝結(jié)構(gòu)的制備方法,其特征在于:在所述步驟8)中,通過激光照射所述可剝離粘結(jié)層使得可剝離粘結(jié)層失去粘性,而將所述可剝離粘結(jié)層和所述載體基板剝離。
7.一種半導(dǎo)體堆疊封裝結(jié)構(gòu),其特征在于,采用權(quán)利要求1-6任一項所述的方法制備形成的。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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